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直接计数式T/D电路固有缺陷的改善算法
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作者 王仁飞 刘聪展 +2 位作者 金永杰 张智 李延国 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2003年第1期36-38,49,共4页
指出了非同步直接计数式T/D电路的一个固有缺陷——每一个时间信号的变换结果有很强的随机性,由此造成相邻两道间的计数存在"串扰"。在仔细分析了"串扰"的形成机理后,提出了一个校正的算法,应用这种算法,能够显著... 指出了非同步直接计数式T/D电路的一个固有缺陷——每一个时间信号的变换结果有很强的随机性,由此造成相邻两道间的计数存在"串扰"。在仔细分析了"串扰"的形成机理后,提出了一个校正的算法,应用这种算法,能够显著降低由这种"串扰"造成的计数误差。 展开更多
关键词 直接计数式T/D电路 校正算法 计数误差
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