利用微波等离子体化学气相沉积(CVD)设备,在硅基片上进行了金刚石薄膜的沉积 实验.结果表明,在基片温度约为950 ℃,碳源浓度为1%,反应室内气体压力为4666.28 Pa 时可获得高质量金刚石薄膜.研究认为,在该实验条件下,氢原子脱附几...利用微波等离子体化学气相沉积(CVD)设备,在硅基片上进行了金刚石薄膜的沉积 实验.结果表明,在基片温度约为950 ℃,碳源浓度为1%,反应室内气体压力为4666.28 Pa 时可获得高质量金刚石薄膜.研究认为,在该实验条件下,氢原子脱附几率大,形成的碳悬 键不易倒伏,容易被碳原子替代,从而形成SP3杂化键,因而有利于提高金刚石的成核密度.展开更多