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题名电磁环境中电子器件的失效分析(英文)
被引量：9
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作者
张芳
蔡金燕
朱艳辉
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机构
军械工程学院光学与电子工程系
驻
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出处
《电子器件》
CAS
2009年第2期368-371,共4页
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基金
This workis supported by Natural Science Foundation of China,under Grant(60472009)
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文摘
以现在应用较广泛的电子器件-MOS器件在电磁环境中的失效建模为例,针对MOS器件受到电磁脉冲和周期脉冲的冲击后,所表现出来的失效特征,得出它符合基于随机过程的退化失效模型所描述的结论。根据结论和两种电应力的特点,分别提出基于随机过程的失效建模和动态应力-强度干涉建模。通过模型的建立和分析,初步制定出电子器件失效的试验方案。
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关键词
退化失效
栅氧化层软击穿
随机过程模型
动态应力-强度干涉模型
电磁脉冲应力
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Keywords
degradation failure
gate oxide soft breakdown
stochastic process model
dynamic stressstrength interference model
electromagnetic pulse stress
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分类号
TB114.3
[理学—概率论与数理统计]
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题名基于退化模型动态校准的设备剩余寿命预测方法
被引量：1
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作者
任超
李慧琴
李天梅
张建勋
司小胜
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机构
火箭军工程大学智剑实验室
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出处
《航空学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2023年第19期171-186,共16页
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基金
国家自然科学基金(62233017,62073336)。
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文摘
剩余寿命预测是实现随机退化设备健康管理的关键技术。统计数据驱动的方法作为剩余寿命预测领域的典型方法,一般采用随机模型建模设备性能退化变量演变规律,以概率分布的形式给出剩余寿命分布的表达式。然而,退化模型函数形式的选择本身是一个难题,尤其在模型函数形式选择不当时仅通过更新模型参数难以有效实现退化模型的校准,进而影响剩余寿命预测的准确性。鉴于此,提出了一种基于退化模型动态校准的设备剩余寿命预测方法,该方法首先建立了基于非线性扩散过程的设备随机退化过程模型,利用设备的退化监测数据运用Bayesian方法对模型参数进行估计,据此对设备未来退化趋势进行预测;然后,利用退化趋势预测误差建立了模型误差的参数化模型对退化模型进行补偿以校准退化模型函数形式,同时对补偿后的退化模型参数采用Bayesian方法进行更新,由此实现了对设备退化模型函数形式和参数的同时动态校准;在此基础上,推导给出了退化模型动态校准下的设备剩余寿命分布。最后,通过数值仿真和锂电池数据验证了所提方法的实用性和有效性。
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关键词
剩余寿命
退化过程模型
动态校准
Bayesian方法
AIC准则
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Keywords
Remaining Useful Life(RUL)
degradation process model
dynamic calibration
Bayesian method
AIC guidelines Received
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分类号
V240.2
[航空宇航科学与技术—飞行器设计]
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