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γ谱法无损测定高浓铀材料中放射性杂质含量
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作者 张宏俊 文继 +3 位作者 任忠国 熊忠华 赵德山 帅茂兵 《核电子学与探测技术》 CAS 北大核心 2020年第3期380-384,共5页
介绍了γ谱法无损测定高浓铀材料屮放射性杂质的分析方法。该方法使用便携式高纯锗γ能谱仪测量高浓铀材料的7能谱,结合放射性衰变平衡理论计算,获得了高浓铀材料中铀同位素袞变子体的质量百分含量。实验结果表明:对于存放30 a的高浓铀... 介绍了γ谱法无损测定高浓铀材料屮放射性杂质的分析方法。该方法使用便携式高纯锗γ能谱仪测量高浓铀材料的7能谱,结合放射性衰变平衡理论计算,获得了高浓铀材料中铀同位素袞变子体的质量百分含量。实验结果表明:对于存放30 a的高浓铀材料,可检测出234U、235U和238U衰变产生的19种放射性子体,可测量质最百分含量低至10-17%的某些放射性子体。该方法测量结果与理论值能较好吻合,可用于高浓铀材料溯源分析研究。 展开更多
关键词 铀衰变子体含量 γ谱法 无损分析 核保障
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