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主动式毫米波近距离圆柱扫描三维成像系统 被引量：17
1
作者 温鑫 黄培康 +2 位作者 年丰 杨于杰 冯克明 《系统工程与电子技术》 EI CSCD 北大核心 2014年第6期1044-1049,共6页
针对主动式毫米波近距离圆柱扫描三维成像系统在人体安检中的应用,研究了该体制成像系统下的重构算法,给出了该系统中信号的带宽、采样准则以及在三维直角坐标系下的系统分辨率评估方法。基于微波暗室条件下获取的高质量回波数据验证了... 针对主动式毫米波近距离圆柱扫描三维成像系统在人体安检中的应用,研究了该体制成像系统下的重构算法,给出了该系统中信号的带宽、采样准则以及在三维直角坐标系下的系统分辨率评估方法。基于微波暗室条件下获取的高质量回波数据验证了该体制成像系统理论上的正确性,并在此基础上搭建了高速的主动式毫米波近距离圆柱扫描三维成像人体安检系统,验证了该体制成像系统在人体安检领域应用的可行性和检测能力的有效性。 展开更多
关键词 毫米波 圆柱扫描 合成孔径 三维成像
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偏馈抛物柱面型空间功率合成天线研究 被引量：3
2
作者 张荣幸 谢泽明 褚庆昕 《微波学报》 CSCD 北大核心 2008年第4期10-14,共5页
用口面场积分方法分析了偏馈抛物柱面型空间功率合成天线。在不同的馈源组阵方式,不同的抛物柱面夹角时,得出最佳的馈源喇叭的尺寸,最佳的馈源轴线指向,和最佳的抛物柱面边缘照射电平。计算偏馈抛物柱面天线的增益因子与抛物柱面尺寸的... 用口面场积分方法分析了偏馈抛物柱面型空间功率合成天线。在不同的馈源组阵方式,不同的抛物柱面夹角时,得出最佳的馈源喇叭的尺寸,最佳的馈源轴线指向,和最佳的抛物柱面边缘照射电平。计算偏馈抛物柱面天线的增益因子与抛物柱面尺寸的关系,比较不同的增加天线增益方法的优劣,指出H面喇叭E面阵列作为馈源比E面喇叭H面阵列作为馈源的抛物柱面天线具有更高的增益因子。本文的研究结果用于指导空间功率合成天线的设计。 展开更多
关键词 空间功率合成 抛物柱面 口面场积分
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高精度毫米波柱面孔径全息成像算法研究
3
作者 谭维贤 王欢 +4 位作者 黄平平 徐伟 乞耀龙 陈彦民 申振坤 《信号处理》 CSCD 北大核心 2024年第3期440-450,共11页
近年来,国际恐怖袭击事件时有发生,使得安全形势变得极为严峻,因此迫切需要引入新型的安全检查手段,防范和应对重大安全事故的发生。在此背景下,毫米波全息三维成像凭借其安全性、穿透性和高分辨率成像等优势,被广泛地应用在安检领域。... 近年来,国际恐怖袭击事件时有发生,使得安全形势变得极为严峻,因此迫切需要引入新型的安全检查手段,防范和应对重大安全事故的发生。在此背景下,毫米波全息三维成像凭借其安全性、穿透性和高分辨率成像等优势,被广泛地应用在安检领域。由于人体安检需要在短时间内对目标进行精确的检测,具有实时性的特点,即需要在实时情况下快速做出判断和决策,因此对成像精度有着更高的要求。本文提出了一种高精度毫米波柱面孔径全息成像算法,给出了柱面孔径三维成像所需要满足的采样准则;首先,将成像区域划分为序列不同半径的成像柱面,依据成像精度和相位误差控制范围设置成像参考柱面,简化重复计算匹配滤波函数的过程;然后,将回波信号变换至三维波数域中,并与匹配滤波函数相乘;接着,沿距离向对匹配滤波的结果进行积分,聚焦获得相应半径柱面上目标的散射信息;最后,对不同半径柱面上的目标进行聚焦,获取目标的全部散射信息,进而完成对整个观测区域的三维图像重建。本文给出了参考面最佳分配策略和算法成像复杂度分析,并通过点目标仿真详细地分析了相位误差对成像质量的影响,并与现有的方法进行了比较,以及在同样的系统参数下对人体模特进行成像实验,仿真和实验的结果表明本文方法的有效性、精确性和正确性。 展开更多
关键词 毫米波雷达 柱面孔径 毫米波全息三维成像
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用于抛物柱面空间功率合成天线的功分喇叭阵列 被引量：3
4
作者 谢泽明 张荣幸 熊尚书 《强激光与粒子束》 EI CAS CSCD 北大核心 2011年第2期463-466,共4页
提出了一种用于偏馈抛物柱面反射天线的功分喇叭。由于改善了口面上的电磁分布,该功分喇叭可以让馈源阵列的栅瓣电平抑制到-28 dB。用FEKO进行仿真发现,与传统用角锥喇叭阵列作为馈源的抛物柱面反射天线相比,使用功分喇叭直线阵列可以... 提出了一种用于偏馈抛物柱面反射天线的功分喇叭。由于改善了口面上的电磁分布,该功分喇叭可以让馈源阵列的栅瓣电平抑制到-28 dB。用FEKO进行仿真发现,与传统用角锥喇叭阵列作为馈源的抛物柱面反射天线相比,使用功分喇叭直线阵列可以使空间功率合成天线的效率从68%提高到80%,同时天线的增益也能增加0.7 dB。 展开更多
关键词 空间功率合成 功分喇叭 角锥喇叭 偏馈抛物柱面天线 口面利用效率
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基于数字全息的三维物体轮廓融合技术研究 被引量：1
5
作者 税云秀 胡琳 +3 位作者 戴姚辉 吴海钰 杨岩 朱岗 《激光杂志》 北大核心 2019年第11期42-48,共7页
针对圆柱坐标下多孔径拼接技术中坐标变换方程求解复杂,使得圆柱坐标系下的多孔径拼接困难的问题,采用粒子群算法来求解非线性方程组,将非线性方程组转化为优化问题求解,建立了求解拼接参数的目标函数,在保证求解精度的同时,大大简化了... 针对圆柱坐标下多孔径拼接技术中坐标变换方程求解复杂,使得圆柱坐标系下的多孔径拼接困难的问题,采用粒子群算法来求解非线性方程组,将非线性方程组转化为优化问题求解,建立了求解拼接参数的目标函数,在保证求解精度的同时,大大简化了求解过程的复杂性。通过计算机模拟测量了一圆柱体面形,拼接误差达到10-10mm,验证了其收敛性和精确性,最后采用数字全息中倾斜光照明方法获得螺母的轮廓进行了拼接,证明了这种算法对回转类物体的测量是切实有效的。 展开更多
关键词 数字全息 圆柱坐标 多孔径拼接 粒子群算法 倾斜照明光
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一种近距离宽带CSAR成像系统通道均衡方法 被引量：1
6
作者 温鑫 黄培康 +2 位作者 年丰 杨于杰 冯克明 《现代防御技术》 北大核心 2015年第2期89-95,共7页
在传统的外部参考校准方法基础上,提出了一种利用校准金属板成像实现近距离宽带毫米波CSAR三维成像系统中多通道幅度和相位均衡的方法。该方法分为两步完成毫米波天线阵列的幅度和相位校准。首先,采用外部参考的校准方法,利用校准金属... 在传统的外部参考校准方法基础上,提出了一种利用校准金属板成像实现近距离宽带毫米波CSAR三维成像系统中多通道幅度和相位均衡的方法。该方法分为两步完成毫米波天线阵列的幅度和相位校准。首先,采用外部参考的校准方法,利用校准金属板来完成天线阵列的幅度和相位粗校准,然后,借助空间频率内插的波前重构算法完成对校准金属板的三维空间重构,通过三维空间散射数据切面图的自聚焦来修正天线阵列的相位实现相位的精校准。通过搭建的近距离毫米波CSAR三维成像系统,验证了该通道均衡方法的可行性和有效性。 展开更多
关键词 近距离 圆柱合成孔径雷达 天线阵列 校准
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基于近程柱面SAR成像的改进距离徒动算法
7
作者 夏克文 李萍 《光学仪器》 2020年第6期9-14,共6页
为了提高近程柱面合成孔径雷达(synthetic aperture radar,SAR)成像的距离徒动算法(range migration algorithm,RMA)成像效率,增加RMA在实际工程中的应用价值,提出了一种SAR成像的改进RMA。该算法采用驻点相位法近似求解获得了波数域下... 为了提高近程柱面合成孔径雷达(synthetic aperture radar,SAR)成像的距离徒动算法(range migration algorithm,RMA)成像效率,增加RMA在实际工程中的应用价值,提出了一种SAR成像的改进RMA。该算法采用驻点相位法近似求解获得了波数域下的相位补偿项,避免了传统近程柱面SAR成像的RMA中需对补偿项进行角度维傅里叶变换的步骤,降低了计算量,提高了成像效率。通过峰值旁瓣比(peak side-lobe ratio,PSLR)、峰值信噪比(peak signal to noise ratio,PSNR)和结构相似性(structural similarity,SSIM)对改进RMA的成像质量进行了客观评价。仿真和实验结果表明,该算法提高了近程柱面SAR成像的RMA成像效率。 展开更多
关键词 柱面成像 距离徒动算法(RMA) 合成孔径雷达成像 近程成像 三维成像
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基于面阵传感技术的圆柱度测量新方法 被引量：3
8
作者 郑鹏 张琳娜 +1 位作者 陈明仪 郭红卫 《机械强度》 CAS CSCD 北大核心 2011年第5期771-776,共6页
针对现行圆柱度测量方法的局限性和存在的问题,提出一种基于面阵传感技术的圆柱度测量新方法———多孔径重叠扫描拼接测量。该方法以数字光栅条纹投射技术为单视角测量手段,利用多孔径重叠扫描拼接技术实现各个单视角面形数据的精确融... 针对现行圆柱度测量方法的局限性和存在的问题,提出一种基于面阵传感技术的圆柱度测量新方法———多孔径重叠扫描拼接测量。该方法以数字光栅条纹投射技术为单视角测量手段,利用多孔径重叠扫描拼接技术实现各个单视角面形数据的精确融合拼接,从而获得零件的整个圆柱表面的面阵数据。文中给出圆柱度扫描拼接测量原理、拼接模型及算法,并通过对样品轴实测证明该方法的准确性和可行性。该方法具有非接触、高效、全场的特点,且能够满足新一代GPS(geometrical product specifications,产品几何技术规范)标准的采样要求,从而为圆柱度的精确评定提供可靠的数据信息。 展开更多
关键词 圆柱度 数字光栅投射技术 多孔径拼接技术 GPS(geometrical PRODUCT specifications)标准性
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