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民用飞机单粒子翻转问题研究
1
作者
唐志帅
王延刚
刘兴华
《电气自动化》
2017年第6期32-33,54,共3页
单粒子翻转(Single Event Upset,SEU)效应是机载复杂电子硬件设计所必须考虑的重要问题,对SEU效应进行了描述,分析了复杂电子设备经常用到的芯片类型(专用集成电路器件、反熔丝FPGA、SRAM型FPGA、Flash型FPGA)及其优缺点,总结了三模冗...
单粒子翻转(Single Event Upset,SEU)效应是机载复杂电子硬件设计所必须考虑的重要问题,对SEU效应进行了描述,分析了复杂电子设备经常用到的芯片类型(专用集成电路器件、反熔丝FPGA、SRAM型FPGA、Flash型FPGA)及其优缺点,总结了三模冗余、纠错码、擦洗、系统监控这四种常见的SEU减缓技术,对于国内民机机载复杂电子硬件的设计具有参考意义。
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关键词
单粒子翻转
专用集成电路器件
现场可编程门阵列
三模冗余
复杂电子硬件
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职称材料
题名
民用飞机单粒子翻转问题研究
1
作者
唐志帅
王延刚
刘兴华
机构
上海飞机设计研究院
出处
《电气自动化》
2017年第6期32-33,54,共3页
文摘
单粒子翻转(Single Event Upset,SEU)效应是机载复杂电子硬件设计所必须考虑的重要问题,对SEU效应进行了描述,分析了复杂电子设备经常用到的芯片类型(专用集成电路器件、反熔丝FPGA、SRAM型FPGA、Flash型FPGA)及其优缺点,总结了三模冗余、纠错码、擦洗、系统监控这四种常见的SEU减缓技术,对于国内民机机载复杂电子硬件的设计具有参考意义。
关键词
单粒子翻转
专用集成电路器件
现场可编程门阵列
三模冗余
复杂电子硬件
Keywords
single
event
upset(SEU)
application-specific
integrated
circuit(ASIC)
field-programmable
gate
array(FPGA)
triple-module
redundancy
complex
electric
hardware
分类号
TP311 [自动化与计算机技术—计算机软件与理论]
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作者
出处
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1
民用飞机单粒子翻转问题研究
唐志帅
王延刚
刘兴华
《电气自动化》
2017
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