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精确分析电磁聚焦系统结构参数微小变化对粒子轨迹的影响
被引量：
3
1
作者
雷威
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1999年第3期140-141,139,共3页
本文提出一种新的方法分析带电粒子光学系统中电极扰动对粒子轨迹的影响首先计算电位对扰动变量的导数，然后计算粒子轨迹等参量对扰动变量的导数，最后得到电极扰动对系统性能的影响与以前的一些计算方法相比较。
关键词
电极扰动
带电粒子光学
粒子轨迹
电磁聚焦系统
下载PDF
职称材料
带电粒子光学系统优化问题的研究
2
作者
雷威
尹涵春
屠彦
《计算物理》
CSCD
北大核心
1998年第5期77-84,共8页
对带电粒子光学系统的优化过程进行了研究，提出将象差的优化与透镜场形的优化分离开来。在象差的优化中考虑含光学参数的隐式约束条件。该优化过程只需做简单的积分运算，因此不必花费时间计算电磁场。在透镜场形的优化中，其优化模型...
对带电粒子光学系统的优化过程进行了研究，提出将象差的优化与透镜场形的优化分离开来。在象差的优化中考虑含光学参数的隐式约束条件。该优化过程只需做简单的积分运算，因此不必花费时间计算电磁场。在透镜场形的优化中，其优化模型与一般电磁系统的优化完全一样，因而可以采用已经研究的很多的电磁场的优化方法来优化透镜的场形。计算了两个优化的实例。
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关键词
带电粒子光学系统
优化
电磁场
象差系数
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职称材料
题名
精确分析电磁聚焦系统结构参数微小变化对粒子轨迹的影响
被引量：
3
1
作者
雷威
机构
东南大学电子工程系
出处
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1999年第3期140-141,139,共3页
文摘
本文提出一种新的方法分析带电粒子光学系统中电极扰动对粒子轨迹的影响首先计算电位对扰动变量的导数，然后计算粒子轨迹等参量对扰动变量的导数，最后得到电极扰动对系统性能的影响与以前的一些计算方法相比较。
关键词
电极扰动
带电粒子光学
粒子轨迹
电磁聚焦系统
Keywords
Electrode
perturbation,
charged
particle
optical system
,
particle
trajectory
分类号
O441.4 [理学—电磁学]
TN201 [理学—物理]
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职称材料
题名
带电粒子光学系统优化问题的研究
2
作者
雷威
尹涵春
屠彦
机构
东南大学电子工程系
出处
《计算物理》
CSCD
北大核心
1998年第5期77-84,共8页
文摘
对带电粒子光学系统的优化过程进行了研究，提出将象差的优化与透镜场形的优化分离开来。在象差的优化中考虑含光学参数的隐式约束条件。该优化过程只需做简单的积分运算，因此不必花费时间计算电磁场。在透镜场形的优化中，其优化模型与一般电磁系统的优化完全一样，因而可以采用已经研究的很多的电磁场的优化方法来优化透镜的场形。计算了两个优化的实例。
关键词
带电粒子光学系统
优化
电磁场
象差系数
Keywords
charged
particle
optical system
optimization
electromagnetic
system
aberration
coefficients.
分类号
TN16 [电子电信—物理电子学]
O441 [理学—电磁学]
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作者
出处
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被引量
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1
精确分析电磁聚焦系统结构参数微小变化对粒子轨迹的影响
雷威
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1999
3
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职称材料
2
带电粒子光学系统优化问题的研究
雷威
尹涵春
屠彦
《计算物理》
CSCD
北大核心
1998
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职称材料
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