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半导体器件失效分析研究
被引量：
2
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作者
王胜林
李斌
吴鹏
《陕西师范大学学报（自然科学版）》
CAS
CSCD
北大核心
2006年第S2期36-37,共2页
统计分析了引起半导体器件失效的一些主要原因,阐明了失效分析在提高半导体器件和电子产品质量与可靠性方面所发挥的重要作用.
关键词
半导体器件
失效分析
失效原因
下载PDF
职称材料
题名
半导体器件失效分析研究
被引量：
2
1
作者
王胜林
李斌
吴鹏
机构
陕西警官职业学院计算机系
空军工程大学理学院
西北大学物理学系
出处
《陕西师范大学学报（自然科学版）》
CAS
CSCD
北大核心
2006年第S2期36-37,共2页
文摘
统计分析了引起半导体器件失效的一些主要原因,阐明了失效分析在提高半导体器件和电子产品质量与可靠性方面所发挥的重要作用.
关键词
半导体器件
失效分析
失效原因
Keywords
Semiconductor
device
ineffectiveness
analyses
cause
of
ineffectiveness
分类号
TN303 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
半导体器件失效分析研究
王胜林
李斌
吴鹏
《陕西师范大学学报（自然科学版）》
CAS
CSCD
北大核心
2006
2
下载PDF
职称材料
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