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基于田口法对无边框液晶模组L0漏光改善研究 被引量：2
1
作者 唐胜果 赵曼 +7 位作者 王明明 赵辉 钱小丽 李兰 李倩 赵凯旋 徐海丰 余丽霞 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2019年第7期667-675,共9页
为改善无边框液晶模组L0漏光,本文通过对影响面板透过率的液晶材料、PI原材、ODF工艺、PI涂布及其摩擦工艺等诸多因素研究,筛选出预固化温度&时间、PI膜厚、TFT&CT面摩擦强度、TFT&CT摩擦布共7个影响因子;选择面板翘曲度为... 为改善无边框液晶模组L0漏光,本文通过对影响面板透过率的液晶材料、PI原材、ODF工艺、PI涂布及其摩擦工艺等诸多因素研究,筛选出预固化温度&时间、PI膜厚、TFT&CT面摩擦强度、TFT&CT摩擦布共7个影响因子;选择面板翘曲度为噪声因子,通过量测不同程度L0漏光对应的面板翘曲,并对L0漏光程度与翘曲进行二次拟合,以此分别选取翘曲为1.8~2.1μm及6.4~8.0μm的面板作为噪声因子高低水平.按L8设计田口实验,采用Jump14运行试验结果,结果显示,预固化温度设置为140℃,预固化时间设置为130s,PI膜厚设置为75nm,TFT面摩擦强度设置为14mm,CF面摩擦强度设置为15.5mm,其他参数维持量产条件,S/N可得到最大值-2.63.该条件下实际平均漏光水平从参数调整前的2.25下降到调整后的1.04.特别地,在漏光高发的翘曲区域,即6.4~8.0μm时,L0漏光均值从3.07下降到1.7,预测漏光程度大于level3的不良率从6.2%下降到0.2%. 展开更多
关键词 L0漏光 ADS显示模式 无边框液晶模组 田口法
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