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离子束抛光去除边界效应延拓修正研究
1
作者
周迪
蒋世磊
+2 位作者
孙国斌
康乐
刘卫国
《激光与光电子学进展》
CSCD
北大核心
2022年第13期346-351,共6页
针对离子束抛光光学元件过程中产生的边界效应问题,提出了基于多项式拟合延拓的抑制方法。利用多项式延拓方法对初始面形进行边界延拓,并对得到的延拓面形进行仿真,仿真后面形均方根值为5.20 nm。采用离子束抛光技术对100 mm口径的K9光...
针对离子束抛光光学元件过程中产生的边界效应问题,提出了基于多项式拟合延拓的抑制方法。利用多项式延拓方法对初始面形进行边界延拓,并对得到的延拓面形进行仿真,仿真后面形均方根值为5.20 nm。采用离子束抛光技术对100 mm口径的K9光学元件进行加工,加工后的面形均方根值由19.26 nm降至12.23 nm。选取加工后的面形8%作为边界面形,边界面形均方根值由137.23 nm降至56.72 nm,通过仿真和实验,验证了该方法的可行性。该研究可以为光学加工提供一种新的方法。
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关键词
光学设计
离子束抛光
边界效应
边界延拓
多项式拟合
原文传递
题名
离子束抛光去除边界效应延拓修正研究
1
作者
周迪
蒋世磊
孙国斌
康乐
刘卫国
机构
西安工业大学光电工程学院
出处
《激光与光电子学进展》
CSCD
北大核心
2022年第13期346-351,共6页
基金
陕西省教育厅重点实验室科研计划项目(18JS053)。
文摘
针对离子束抛光光学元件过程中产生的边界效应问题,提出了基于多项式拟合延拓的抑制方法。利用多项式延拓方法对初始面形进行边界延拓,并对得到的延拓面形进行仿真,仿真后面形均方根值为5.20 nm。采用离子束抛光技术对100 mm口径的K9光学元件进行加工,加工后的面形均方根值由19.26 nm降至12.23 nm。选取加工后的面形8%作为边界面形,边界面形均方根值由137.23 nm降至56.72 nm,通过仿真和实验,验证了该方法的可行性。该研究可以为光学加工提供一种新的方法。
关键词
光学设计
离子束抛光
边界效应
边界延拓
多项式拟合
Keywords
optical
design
ion
beam
polishing
border
effect
border
continuation
polynomial
fitting
分类号
TH161.14 [机械工程—机械制造及自动化]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
离子束抛光去除边界效应延拓修正研究
周迪
蒋世磊
孙国斌
康乐
刘卫国
《激光与光电子学进展》
CSCD
北大核心
2022
0
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参考文献
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