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离子束抛光去除边界效应延拓修正研究
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作者 周迪 蒋世磊 +2 位作者 孙国斌 康乐 刘卫国 《激光与光电子学进展》 CSCD 北大核心 2022年第13期346-351,共6页
针对离子束抛光光学元件过程中产生的边界效应问题,提出了基于多项式拟合延拓的抑制方法。利用多项式延拓方法对初始面形进行边界延拓,并对得到的延拓面形进行仿真,仿真后面形均方根值为5.20 nm。采用离子束抛光技术对100 mm口径的K9光... 针对离子束抛光光学元件过程中产生的边界效应问题,提出了基于多项式拟合延拓的抑制方法。利用多项式延拓方法对初始面形进行边界延拓,并对得到的延拓面形进行仿真,仿真后面形均方根值为5.20 nm。采用离子束抛光技术对100 mm口径的K9光学元件进行加工,加工后的面形均方根值由19.26 nm降至12.23 nm。选取加工后的面形8%作为边界面形,边界面形均方根值由137.23 nm降至56.72 nm,通过仿真和实验,验证了该方法的可行性。该研究可以为光学加工提供一种新的方法。 展开更多
关键词 光学设计 离子束抛光 边界效应 边界延拓 多项式拟合
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