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稀土分量的XRF法分析-熔珠粉末压薄片法 被引量：3
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作者 陈永君 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1993年第1期149-152,共4页
本法用50mg稀土氧化物样品,经四硼酸锂熔融后,粉碎压成薄片,以透空照射法,直接测定15项稀土分量和铀、钍。本法消除基体效应好,制样精度高,测定含量范围宽。
关键词 薄样法 X射线 荧光分析 稀土族
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