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ZnO薄膜中缓冲层厚度的研究
1
作者 李宁 苑改红 张新喜 《科学技术与工程》 2009年第3期591-595,共5页
采用溶胶-凝胶法制备ZnO缓冲层,并在其上沉积ZnO薄膜。研究了匀胶的膜厚控制公式,达到对膜厚的控制。采用X射线衍射仪和原子力显微镜分析了缓冲层厚度对ZnO薄膜结晶质量和表面形貌的影响规律。
关键词 ZNO薄膜 缓冲层 膜厚控制 xrd衍射图 AFM图
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Sn_(1-x)(In_(1-y)Cu_y)_xO薄膜的合成
2
作者 郭玲玲 郑光裕 张治国 《物理实验》 2006年第9期12-16,共5页
利用真空反应蒸发技术,在氧分压约为8.5×10-2Pa、衬底温度为400℃条件下蒸发高纯度的铟、锡和铜,在玻璃衬底上制备出Sn1-x(In1-yCuy)xO薄膜.研究了蒸发源材料质量比不同的样品的薄膜结构、透过率、薄膜的方块电阻和电阻率与温度的... 利用真空反应蒸发技术,在氧分压约为8.5×10-2Pa、衬底温度为400℃条件下蒸发高纯度的铟、锡和铜,在玻璃衬底上制备出Sn1-x(In1-yCuy)xO薄膜.研究了蒸发源材料质量比不同的样品的薄膜结构、透过率、薄膜的方块电阻和电阻率与温度的关系.实验结果表明,Sn1-x(In1-yCuy)xO透明导电薄膜具有优良的光电特性,而且制备出的Sn1-x(In1-yCuy)xO薄膜中In的含量大大减少,可以成为ITO薄膜的潜在替代材料. 展开更多
关键词 Sn1-x(In1-yCuy)xO薄膜 反应蒸发法 xrd衍射图 温度特性 透过率
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具有膨胀特性膏体充填材料的物理力学特性研究 被引量：9
3
作者 张建功 梁卫国 +2 位作者 韩俊杰 韩兴华 于永军 《矿业研究与开发》 CAS 北大核心 2015年第1期15-20,共6页
针对煤矿采空区膏体充填材料无法充分接顶的现状,运用X射线衍射仪(XRD)及X射线荧光光谱分析仪(XRF)对膨润土、煤矸石、粉煤灰等膏体充填材料进行化学物相分析,结合自制的膨胀测定仪器,分析检测不同膨润土掺入比的膏体材料膨胀率随时间... 针对煤矿采空区膏体充填材料无法充分接顶的现状,运用X射线衍射仪(XRD)及X射线荧光光谱分析仪(XRF)对膨润土、煤矸石、粉煤灰等膏体充填材料进行化学物相分析,结合自制的膨胀测定仪器,分析检测不同膨润土掺入比的膏体材料膨胀率随时间的变化关系,并对不同养护龄期下的膏体试件进行力学性能测试与微观水化机理研究。结果表明:配比P04为最优配比,即胶结料∶膨润土∶煤矸石∶粉煤灰为1∶0.6∶3∶4,质量浓度为72%,28d单轴抗压强度为4.85 MPa,膨胀率为2.25%。P04膏体衍射谱图表明,不同龄期的水化产物各物质含量各不相同,在水化初期8h内即生成一定量的钙矾石,28d生成大量的C-S-H凝胶。 展开更多
关键词 膏体充填 充填材料 膨胀率 水化机理 xrd衍射谱图
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