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X射线衍射多谱峰匹配强度比定量相分析方法 被引量:13
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作者 储刚 翟秀静 +1 位作者 符岩 毕诗文 《分析测试学报》 CAS CSCD 北大核心 2004年第1期48-51,共4页
提出了1种采用X射线衍射多谱峰匹配强度比进行定量相分析的新方法 ;该法是利用混合物样品X射线衍射谱图中的多谱峰数据 ,结合ICDD卡中的各相标准谱峰的相对强度分布数据进行最小二乘法回归分析 ,求得混合物样品中各相间的多谱峰匹配强度... 提出了1种采用X射线衍射多谱峰匹配强度比进行定量相分析的新方法 ;该法是利用混合物样品X射线衍射谱图中的多谱峰数据 ,结合ICDD卡中的各相标准谱峰的相对强度分布数据进行最小二乘法回归分析 ,求得混合物样品中各相间的多谱峰匹配强度比 ;以多谱峰匹配强度比取代通常采用的特定单一谱线强度比 ,用于混合物样品的X射线衍射定量相分析 ,有利于提高定量相分析的精度 ;采用多谱峰匹配强度比结合绝热法和基体清洗法X射线衍射定量相分析原理 ,通过对4组分混合物样品的分析 ,证实实验结果和理论完全一致。 展开更多
关键词 x射线衍射 多谱峰匹配强度比 定量相分析 混合物样品 晶相
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MULTI-PEAK MATCH INTENSITY RATIO METHOD OF QUANTI-TATIVE X-RAY DIFFRACTION PHASE ANALYSIS 被引量:5
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作者 G. Chu, Y.F. Cong and H.J. YouResearch Center of Analysis and Test, Liaoning University of Petroleum & Chemical Technology, Fushun 113001, China 《Acta Metallurgica Sinica(English Letters)》 SCIE EI CAS CSCD 2003年第6期489-494,共6页
A new method for quantitative phase analysis is proposed by using X-ray diffraction multi-peak match intensity ratio. This method can obtain the multi-peak match intensity ratio among each phase in the mixture sample ... A new method for quantitative phase analysis is proposed by using X-ray diffraction multi-peak match intensity ratio. This method can obtain the multi-peak match intensity ratio among each phase in the mixture sample by using all diffraction peak data in the mixture sample X-ray diffraction spectrum and combining the relative intensity distribution data of each phase standard peak in JCPDS card to carry on the least square method regression analysis. It is benefit to improve the precision of quantitative phase analysis that the given single line ratio which is usually adopted is taken the place of the multi-peak match intensity ratio and is used in X-ray diffraction quantitative phase analysis of the mixture sample. By analyzing four-group mixture sample, adopting multi-peak match intensity ratio and X-ray diffraction quantitative phase analysis principle of combining the adiabatic and matrix flushing method, it is tested that the experimental results are identical with theory. 展开更多
关键词 x-ray diffraction multi-peak match intensity ratio quantitative phase analysis
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A METHOD FOR CORRECTING INTENSITY IN CONTINU-OUS SCANNING X-RAY STRESS MEASUREMENT
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作者 LI Jiabao HANG Zengqiao National Laboratory for Fatigue and Fracture of Materials,Institute of Metal Research,Academia Simca.Shenyang,China HE Jiawen Xi’an Jiaotong University,Xi’an,China 《Acta Metallurgica Sinica(English Letters)》 SCIE EI CAS CSCD 1992年第12期457-461,共5页
A set of absorption curves was priorly prepared on transparent films to fit the background and peak intensities in continuous scanning X-ray stress measurement.It may be better to correct both background and absorptio... A set of absorption curves was priorly prepared on transparent films to fit the background and peak intensities in continuous scanning X-ray stress measurement.It may be better to correct both background and absorption of pure diffraction intensity.Experimental results revealed this to be a reliable correction method. 展开更多
关键词 x-ray diffraction stress measurement intensity correction peak location
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集成电路中Ta扩散阻挡层对铜布线电迁移性能的影响
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作者 郑光锋 付建华 +2 位作者 李永堂 杜诗文 蒋立文 《金属热处理》 CAS CSCD 北大核心 2013年第1期113-115,共3页
采用磁控溅射法在硅基材料上分别制备了Cu薄膜和Cu/Ta薄膜,用X射线衍射仪(XRD)研究两种样品在不同温度热处理下的织构情况和择优取向。结果表明,加Ta薄膜的样品可显著提高Cu(111)的衍射峰强度,说明Ta薄膜层能有效增强Cu薄膜层的抗电迁... 采用磁控溅射法在硅基材料上分别制备了Cu薄膜和Cu/Ta薄膜,用X射线衍射仪(XRD)研究两种样品在不同温度热处理下的织构情况和择优取向。结果表明,加Ta薄膜的样品可显著提高Cu(111)的衍射峰强度,说明Ta薄膜层能有效增强Cu薄膜层的抗电迁移性能。加Ta层的样品在一定温度下退火后同样也能增进Cu薄膜的抗电迁移性能。 展开更多
关键词 磁控溅射 x射线衍射 电迁移性能 衍射峰强度
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一种电子陶瓷的分析方法
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作者 李小图 孙济洲 +1 位作者 吴霞宛 王洪儒 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2004年第4期549-553,共5页
对五元系统BaO PbO Nd2 O3 Bi2 O3 TiO2 进行X 射线粉末衍射分析确定系统的主次晶相分别为BaNd2 TiO14 和Bi4Ti3 O12 。用X射线衍射峰强度计算出系统中各物相的体积百分数 ,代入李赫德涅凯对数混合定则 ,定量计算出的系统介电性能与... 对五元系统BaO PbO Nd2 O3 Bi2 O3 TiO2 进行X 射线粉末衍射分析确定系统的主次晶相分别为BaNd2 TiO14 和Bi4Ti3 O12 。用X射线衍射峰强度计算出系统中各物相的体积百分数 ,代入李赫德涅凯对数混合定则 ,定量计算出的系统介电性能与用仪器实测的相符。结果表明对于X射线衍射强度可以定量表征系统介电性能的材料 ,可以根据所需的性能指标利用李氏定则确定系统成分配比 ,从而可以作为电子陶瓷材料设计改进的依据。 展开更多
关键词 BaO-PbO-Nd203-Bi203-Ti02系统 x-射线衍射强度 李赫德涅凯对数混合定则
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钡铝钕铋钛系相结构与电性能的定量关系
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作者 吴霞宛 李小图 +3 位作者 李玲霞 郝建民 王希忠 王崇峰 《压电与声光》 CSCD 北大核心 2001年第4期302-305,共4页
以 Ba O- Pb O- Nd2 O3- Bi2 O3- Ti O2 五元系的烧结介质瓷为研究对象探讨化合物相与介电性能的定量关系。系统的主次晶相分别为 Ba Nd2 Ti5O1 4和 Bi4 Ti3O1 2 。对系统进行 X-射线分析 ,用 X-射线衍射峰强度计算出系统中各物相的体... 以 Ba O- Pb O- Nd2 O3- Bi2 O3- Ti O2 五元系的烧结介质瓷为研究对象探讨化合物相与介电性能的定量关系。系统的主次晶相分别为 Ba Nd2 Ti5O1 4和 Bi4 Ti3O1 2 。对系统进行 X-射线分析 ,用 X-射线衍射峰强度计算出系统中各物相的体积分数 ,再运用李赫德涅凯对数混合定则进行定量计算 ,得出系统的介电性能与用仪器实测的系统参数相符。在本研究系统中 ,X-衍射射线分析可以测定和定量表征烧结介质瓷中化合物相含量 ,经过对系统中各化合物的介电性能测定 ,可计算出所研究系统的介电性能 ,从而可作为一种介质的设计方法。 展开更多
关键词 陶瓷 钡铝钕铋系 相结构 电性能
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ZnO-B2O_3-SiO_2系统的相结构与介电性能的研究
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作者 吴霞宛 李玲霞 +2 位作者 王洪儒 张志萍 郝建民 《压电与声光》 CSCD 北大核心 2001年第3期206-208,共3页
对 Zn O- B2 O3- Si O2 三元系统进行了 XRD和介电性能定量关系的研究。系统的主、次晶相为 Si O2 、Zn2 Si O4相。调整各组分 ,获得了超低介电常数的介质陶瓷 ,其介电常数ε为 5 ,介电损耗 tanδ≤ 5× 10 - 4 ,容量温度系参数αc... 对 Zn O- B2 O3- Si O2 三元系统进行了 XRD和介电性能定量关系的研究。系统的主、次晶相为 Si O2 、Zn2 Si O4相。调整各组分 ,获得了超低介电常数的介质陶瓷 ,其介电常数ε为 5 ,介电损耗 tanδ≤ 5× 10 - 4 ,容量温度系参数αc≤ (0± 30 )× 10 - 6 /°C、绝缘电阻 IR≥ 10 1 2 Ω ,烧结温度为 1140°C。并对系统进行了 X-射线分析 ,探讨了用X-射线衍射峰强度计算各物相含量的方法。 展开更多
关键词 ZnO-B2O3-SiO2系统 相结构 介电性能 表面组装技术 集成电路
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一种设计无机介质材料介电性能的新方法
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作者 李玲霞 吴霞宛 +1 位作者 张志萍 王洪儒 《硅酸盐通报》 CAS CSCD 2001年第6期18-20,17,共4页
选用低介电常数的无机介质材料ZnO -B2 O3-SiO2 三元系统 ,进行了XRD和介电性能定量关系的研究 ,系统的主、次晶相为SiO2 、Zn2 SiO4 相。调整各组分 ,获得了超低介电常数的介质陶瓷 ,其介电性能为 :ε≈ 5 ,tgδ≤ 5× 10 -4 ,αc... 选用低介电常数的无机介质材料ZnO -B2 O3-SiO2 三元系统 ,进行了XRD和介电性能定量关系的研究 ,系统的主、次晶相为SiO2 、Zn2 SiO4 相。调整各组分 ,获得了超低介电常数的介质陶瓷 ,其介电性能为 :ε≈ 5 ,tgδ≤ 5× 10 -4 ,αc≤ 0± 30ppm/℃ ,IR≥ 10 12 Ω ,烧结温度为 1140℃。通过对系统所进行的X 射线衍射分析 ,探讨了用X 射线衍射峰强度计算各物相含量的方法 ,并代入李赫德涅凯对数混合定则 ,计算出系统的介电性能 。 展开更多
关键词 ZnO-B2O3-SiO2系统 超低介电常数 x-射线衍射分析 衍射峰强度 介电性能 功能陶瓷 无机介质材料
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