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题名位置信息约束的SMT料盘X射线图像检测方法
被引量：2
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作者
耿磊
彭晓帅
肖志涛
李秀艳
荣锋
马潇
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机构
天津市光电检测技术与系统重点实验室
天津工业大学电子与信息工程学院
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出处
《红外与激光工程》
EI
CSCD
北大核心
2017年第6期160-166,共7页
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基金
国家自然科学基金(61405144)
天津市科技支撑计划重点项目(14ZCZDGX00033)
天津市科技特派员项目(15JCTPJC56300)
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文摘
SMT封装物料盘的X射线透视图像发生局部粘连,导致分割准确性降低影响物料的检测与计数统计。提出了基于位置信息约束的分割检测方法,利用器件位置信息对分割区域进行约束提高分割与检测的准确率。首先依据元器件呈螺旋状排列规则,拟合物料盘中心点并计算最内环排列中起点器件位置信息;然后基于中心点与各元器件的位置约束模型,进行法向位置信息与先验位置信息双重约束,对目标器件所在区域进行限定;最后划分分割界限,完成对粘连目标的分割和对元器件的检测与统计。实验结果表明:该方法能够提高物料盘X射线透视图像粘连区域分割与检测的准确率,在有效像元素9 216 pixel,细节解析度110 1p/cm成像环境之下,对不同规格物料盘进行实测,检测误差率控制在0.15%之内。
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关键词
x射线透视图像
粘连
计数统计
分割检测
位置信息约束
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Keywords
X-Ray images
adhesion
counting statistics
segmentation and detection
constraints of position information
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分类号
TP391
[自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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