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基于Wishbone总线结构的情景式IP核测试方案
被引量：
1
1
作者
周俊
张金艺
《上海大学学报（自然科学版）》
CAS
CSCD
北大核心
2005年第5期460-464,471,共6页
随着集成电路技术的发展,IP核复用成为集成电路SOC设计的主流.该文通过对广泛应用于SOC设计中的Wishbone总线体系结构和国际上常用IP核测试方法的研究,提出一种基于Wishbone总线结构的情景式IP核测试方案.通过对该方案应用于实际项目后...
随着集成电路技术的发展,IP核复用成为集成电路SOC设计的主流.该文通过对广泛应用于SOC设计中的Wishbone总线体系结构和国际上常用IP核测试方法的研究,提出一种基于Wishbone总线结构的情景式IP核测试方案.通过对该方案应用于实际项目后所产生实验数据的分析,证明这种IP核测试方案能大大降低系统层测试难度,加快系统层设计速度,并能显著提高测试激励效率和可观电路结构测试覆盖率.
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关键词
SOC
IP核测试
wishbone
总线结构
情景式
测试覆盖率
测试激励效率
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职称材料
题名
基于Wishbone总线结构的情景式IP核测试方案
被引量：
1
1
作者
周俊
张金艺
机构
上海大学通信与信息工程学院
出处
《上海大学学报（自然科学版）》
CAS
CSCD
北大核心
2005年第5期460-464,471,共6页
基金
国家"863"高技术研究发展计划资助项目(2005AA1Z1177)
上海市科委应用材料研究与发展基金资助项目(0415)
上海市教委科学基金资助项目(04第58号04AB62)
文摘
随着集成电路技术的发展,IP核复用成为集成电路SOC设计的主流.该文通过对广泛应用于SOC设计中的Wishbone总线体系结构和国际上常用IP核测试方法的研究,提出一种基于Wishbone总线结构的情景式IP核测试方案.通过对该方案应用于实际项目后所产生实验数据的分析,证明这种IP核测试方案能大大降低系统层测试难度,加快系统层设计速度,并能显著提高测试激励效率和可观电路结构测试覆盖率.
关键词
SOC
IP核测试
wishbone
总线结构
情景式
测试覆盖率
测试激励效率
Keywords
SOC
IP core test
wishbone
bus architecture
scene
test coverage
efficiency of test excitation
分类号
TN4 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于Wishbone总线结构的情景式IP核测试方案
周俊
张金艺
《上海大学学报（自然科学版）》
CAS
CSCD
北大核心
2005
1
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