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低电阻率单晶硅电火花/电解复合切割加工表面完整性研究 被引量:19
1
作者 汪炜 刘志东 +2 位作者 田宗军 黄因慧 刘正埙 《电加工与模具》 2007年第6期6-10,共5页
电火花线切割加工方法被引入单晶硅加工技术领域,使低电阻率掺杂硅片的放电切割成为可能。以表面完整性作为突破口,采用基于复合工作液的高速走丝电火花电解复合切割方法,对低电阻率(0.01-1Ω.cm)单晶硅片的切割效率、表面质量和切割厚... 电火花线切割加工方法被引入单晶硅加工技术领域,使低电阻率掺杂硅片的放电切割成为可能。以表面完整性作为突破口,采用基于复合工作液的高速走丝电火花电解复合切割方法,对低电阻率(0.01-1Ω.cm)单晶硅片的切割效率、表面质量和切割厚度等技术指标进行了试验研究。试验结果表明,通过合理选择电规准和工作液等相关工艺参数,最大切割效率可达600 mm2/min,切割厚度可小于120μm,与低速走丝电火花线切割加工相比显著减少表面热影响区和有害金属元素残余,为该项技术的进一步推广应用提供了重要的理论和实践参考依据。 展开更多
关键词 电火花电解复合加工 切割 低电阻率 硅片 表面完整性
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半导体硅片清洗工艺发展方向 被引量:15
2
作者 闫志瑞 《电子工业专用设备》 2004年第9期23-26,共4页
对半导体硅片传统的RCA清洗办法中各种清洗液的清洗原理、清洗特点、清洗局限以及清洗对硅片表面微观状态的影响进行了详细的论述,同时在此基础上,对新的清洗办法(改进的RCA清洗办法)进行了一定的说明,指出了硅片清洗工艺的发展方向。
关键词 硅片 RCA清洗 硅片清洗 硅片表面
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Si单晶片切削液挂线性能的研究 被引量:10
3
作者 宁培桓 周建伟 +2 位作者 刘玉岭 唐文栋 张伟 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2008年第11期981-984,共4页
Si片线切割过程中,切削液的挂线性能直接影响切片表面质量、切片速率、线锯寿命以及晶片成品率。为满足超大规模集成电路对Si衬底表面质量的要求,改进线切割液的性能,对影响线切割液性能的因素进行了分析,并通过实验对线切割液的挂线性... Si片线切割过程中,切削液的挂线性能直接影响切片表面质量、切片速率、线锯寿命以及晶片成品率。为满足超大规模集成电路对Si衬底表面质量的要求,改进线切割液的性能,对影响线切割液性能的因素进行了分析,并通过实验对线切割液的挂线性能进行了研究,找到了比较适合Si片切割且挂线性能较好的切削液配比。 展开更多
关键词 硅晶片 切削液 表面张力 黏度 渗透性 挂线性能
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太阳电池用硅片表面钝化研究 被引量:7
4
作者 杜永超 陈伟平 +1 位作者 刘汉英 王景霄 《电源技术》 CAS CSCD 北大核心 2004年第10期641-643,共3页
硅太阳电池表面钝化是提高其光电转换效率最行之有效的手段之一。介绍了采用氧化表面钝化、发射结钝化、发射结氧化钝化的试验方法钝化太阳电池用硅片表面,通过对钝化后硅片少数载流子寿命的测试结果,发现发射结氧化钝化取得最佳的钝化... 硅太阳电池表面钝化是提高其光电转换效率最行之有效的手段之一。介绍了采用氧化表面钝化、发射结钝化、发射结氧化钝化的试验方法钝化太阳电池用硅片表面,通过对钝化后硅片少数载流子寿命的测试结果,发现发射结氧化钝化取得最佳的钝化效果,而硅片的湿氧氧化非但不能起钝化作用,而且降低硅片的有效寿命。在漂移场的作用下,通过饱和硅片表面的悬挂键,可以降低少数载流子在表面的复合,从而得到较好的表面钝化效果。 展开更多
关键词 太阳电池 硅片 表面钝化 有效寿命
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SiC晶片超精密化学机械抛光技术 被引量:10
5
作者 庞龙飞 李晓波 +1 位作者 李婷婷 贾军朋 《微纳电子技术》 CAS 北大核心 2021年第11期1035-1040,共6页
分析了碳化硅(SiC)材料加工原理与难点,介绍了SiC晶片的精密抛光技术,使用化学机械抛光(CMP)方法对4英寸(1英寸=2.54 cm)4H-SiC晶片进行了超精密加工,通过调整抛光液体积流量、抛光头转速、抛光压力以及抛光时间等工艺参数对SiC晶片进... 分析了碳化硅(SiC)材料加工原理与难点,介绍了SiC晶片的精密抛光技术,使用化学机械抛光(CMP)方法对4英寸(1英寸=2.54 cm)4H-SiC晶片进行了超精密加工,通过调整抛光液体积流量、抛光头转速、抛光压力以及抛光时间等工艺参数对SiC晶片进行了对比加工实验。采用原子力显微镜(AFM)对CMP前后SiC晶片的Si面粗糙度进行了测试,并对各工艺参数对晶片粗糙度的影响进行了分析。经过对工艺参数的优化,得到了表面粗糙度为0.099 nm的超光滑表面SiC晶片。 展开更多
关键词 碳化硅(SiC)晶片 化学机械抛光(CMP) 超精密抛光 表面粗糙度 超光滑表面
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砷化镓晶片表面损伤层分析 被引量:6
6
作者 郑红军 卜俊鹏 +4 位作者 曹福年 白玉柯 吴让元 惠峰 何宏家 《稀有金属》 EI CAS CSCD 北大核心 1999年第4期241-244,共4页
采用TEM观测与X射线双晶回摆曲线检测化学腐蚀逐层剥离深度相结合的方法,分析了SIGaAs晶片由切、磨、抛加工所引入的损伤层深度。比较两种方法测量结果上的差异,得出了TEM观测到的只是晶片损伤层厚度。
关键词 砷化镓 切片 磨片 抛光片 表面损伤层 晶片
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硅片键合强度测试方法的进展 被引量:7
7
作者 肖滢滢 王建华 +1 位作者 黄庆安 秦明 《电子器件》 CAS 2004年第2期360-365,共6页
键合强度是关系到键合好坏的一个重要参数。本文介绍了键合强度测试方法的理论基础 ;随后列举了几种常见的测量方法 ,包括裂纹传播扩散法、静态流体油压法、四点弯曲分层法、MC测试方法、直拉法及非破坏性测试方法 (超声波测试法和颗粒... 键合强度是关系到键合好坏的一个重要参数。本文介绍了键合强度测试方法的理论基础 ;随后列举了几种常见的测量方法 ,包括裂纹传播扩散法、静态流体油压法、四点弯曲分层法、MC测试方法、直拉法及非破坏性测试方法 (超声波测试法和颗粒法 )。分析了各种方法的优缺点 :裂纹传播扩散法操作简单 ,但它受测量环境、如何插入刀片等因素的影响 ,而且只适合于较弱的键合强度测试 ;对于较强的键合强度还是采用直拉法来测量 ,但它受到拉力手柄粘合剂的限制 ;对于器件中的键合强度测量采用MC测试方法更为适宜 ;超声波测试法现在只适用于弱键合强度。本文能对键合强度测量方法的开发、改进工作有所帮助。 展开更多
关键词 键合强度 键合 表面能
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湿式机械化学磨削单晶硅的软磨料砂轮及其磨削性能 被引量:4
8
作者 张瑜 康仁科 +2 位作者 高尚 黄金星 朱祥龙 《机械工程学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2023年第3期328-336,共9页
针对干式机械化学磨削(Mechanical chemical grinding,MCG)单晶硅过程中易产生磨削烧伤、粉尘多、加工环境差等问题,研制一种可用于湿式MCG单晶硅的新型软磨料砂轮,并对砂轮的磨削性能及其磨削单晶硅的材料去除机理进行研究。根据湿式... 针对干式机械化学磨削(Mechanical chemical grinding,MCG)单晶硅过程中易产生磨削烧伤、粉尘多、加工环境差等问题,研制一种可用于湿式MCG单晶硅的新型软磨料砂轮,并对砂轮的磨削性能及其磨削单晶硅的材料去除机理进行研究。根据湿式机械化学磨削单晶硅的加工原理和要求,制备出以二氧化硅为磨料、改性耐水树脂为结合剂的新型软磨料砂轮。采用研制的软磨料砂轮对单晶硅进行磨削试验,通过检测加工硅片的表面/亚表面质量对湿式MCG软磨料砂轮的磨削性能进行分析,并与传统金刚石砂轮、干式MCG软磨料砂轮的磨削性能进行对比。采用X射线光电子能谱仪对磨削前后硅片的表面成分进行检测,分析湿式MCG加工硅片过程中发生的化学反应。结果表明,采用湿式MCG软磨料砂轮加工硅片的表面粗糙度Ra值为0.98 nm,亚表面损伤层深度为15 nm,湿式MCG软磨料砂轮磨削硅片的表面/亚表面质量远优于传统金刚石砂轮,达到干式MCG软磨料砂轮的加工效果,可实现湿磨工况下硅片的低损伤磨削加工。在湿式MCG过程中,单晶硅、二氧化硅磨粒与水发生了化学反应,在硅片表面生成易于去除的硅酸化合物,硅酸化合物进一步通过砂轮磨粒与硅片间的机械摩擦作用被磨粒从单晶硅表面去除,在机械与化学作用复合作用下实现硅片超低损伤磨削加工。 展开更多
关键词 机械化学磨削 硅片 软磨料砂轮 表面粗糙度 亚表面损伤
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Nanogrinding of SiC wafers with high flatness and low subsurface damage 被引量:8
9
作者 霍凤伟 郭东明 +1 位作者 康仁科 冯光 《Transactions of Nonferrous Metals Society of China》 SCIE EI CAS CSCD 2012年第12期3027-3033,共7页
Nanogrinding of SiC wafers with high flatness and low subsurface damage was proposed and nanogrinding experiments were carried out on an ultra precision grinding machine with fine diamond wheels. Experimental results ... Nanogrinding of SiC wafers with high flatness and low subsurface damage was proposed and nanogrinding experiments were carried out on an ultra precision grinding machine with fine diamond wheels. Experimental results show that nanogrinding can produce flatness less than 1.0μm and a surface roughness Ra of 0.42nm. It is found that nanogrinding is capable of producing much flatter SiC wafers with a lower damage than double side lapping and mechanical polishing in much less time and it can replace double side lapping and mechanical polishing and reduce the removal amount of chemical mechanical polishing. 展开更多
关键词 SiC wafer nanogrinding cup wheel FLATNESS surface roughness DAMAGE
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多线切割晶体表面质量研究 被引量:6
10
作者 徐旭光 周国安 《电子工业专用设备》 2008年第11期20-22,47,共4页
多线切割机切割过程中受到砂浆、温度、线速度以及进给速度等方面的影响,对晶体的表面质量有一定的影响。从多方面进行分析研究,并提出改进工艺方案。
关键词 多线切割 晶体 表面质量
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太阳能硅片游离磨料电解磨削多线切割表面完整性研究 被引量:7
11
作者 鲍官培 周翟和 +3 位作者 章恺 张霞 赵明才 汪炜 《机械工程学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2016年第11期201-206,共6页
游离磨料多线切割是目前加工太阳能硅片的主要方法。然而,该方法切痕较深,损伤层较厚,进一步增大硅片尺寸、减小硅片厚度难度很大。游离磨料电解磨削多线切割,复合了机械磨削和电化学加工方法,通过在加工过程中给硅锭和切割线施加电场... 游离磨料多线切割是目前加工太阳能硅片的主要方法。然而,该方法切痕较深,损伤层较厚,进一步增大硅片尺寸、减小硅片厚度难度很大。游离磨料电解磨削多线切割,复合了机械磨削和电化学加工方法,通过在加工过程中给硅锭和切割线施加电场产生阳极钝化或腐蚀,可以有效降低切割负载,提高切割效率,改善硅片的表面质量。以156 mm×56 mm(8寸)、电阻率(1~3?·cm)P型多晶硅片切割为例,初步试验结果表明,采用相同的切割参数和原材料,相对于游离磨料多线切割,电解磨削多线切割硅片的弯曲度降低了3μm,分布区间集中在0~9μm之间;采用20%的Na OH溶液腐蚀硅片,表面的隐裂和深沟槽较少出现,说明硅片的表面损伤程度减轻,有利于减少后续制绒减薄量。该方法和现有游离或固结磨料多线切割技术兼容性好,设备改造成本低,工程应用前景十分广阔。 展开更多
关键词 太阳能硅片 游离磨料 多线切割 电解磨削 表面完整性
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硒化锌的化学机械抛光研究 被引量:7
12
作者 吴传超 安永泉 +2 位作者 王志斌 杨常青 张瑞 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2015年第1期61-65,共5页
采用化学机械抛光(CMP)的方法,自制抛光液作为研磨介质,对(50×50×1.5)mm3硒化锌(ZnSe)晶片抛光。通过分析抛光液的pH值、抛光盘转速、抛光液的磨料浓度、压力、抛光时间和抛光液流量等参数对CMP的影响,组合出最佳工艺参数,并... 采用化学机械抛光(CMP)的方法,自制抛光液作为研磨介质,对(50×50×1.5)mm3硒化锌(ZnSe)晶片抛光。通过分析抛光液的pH值、抛光盘转速、抛光液的磨料浓度、压力、抛光时间和抛光液流量等参数对CMP的影响,组合出最佳工艺参数,并通过原子力显微镜和平晶测试方法对最佳工艺参数获得的ZnSe晶片进行测试,实验结果显示,ZnSe晶片抛光后的表面粗糙度Ra为0.578 nm,平面面形误差小于1.8μm。 展开更多
关键词 ZnSe晶片 化学机械抛光 表面粗糙度
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固结磨料研磨蓝宝石晶片的工艺优化 被引量:6
13
作者 郑方志 朱永伟 +2 位作者 朱楠楠 王凯 沈琦 《金刚石与磨料磨具工程》 CAS 2016年第1期11-15,共5页
为了满足蓝宝石晶片高效低损伤的加工要求,采用亲水性固结磨料研磨垫研磨蓝宝石晶片的工艺,研究基体中碳化硅粒度尺寸、基体类型、金刚石粒度尺寸及研磨液中磨料4个因素对材料去除率和表面粗糙度的影响,并综合优化获得高加工效率和优表... 为了满足蓝宝石晶片高效低损伤的加工要求,采用亲水性固结磨料研磨垫研磨蓝宝石晶片的工艺,研究基体中碳化硅粒度尺寸、基体类型、金刚石粒度尺寸及研磨液中磨料4个因素对材料去除率和表面粗糙度的影响,并综合优化获得高加工效率和优表面质量的工艺参数。实验结果表明:基体中碳化硅粒度尺寸为10μm、基体类型为Ⅱ、研磨垫采用F公司粒度尺寸为35~45μm的金刚石、研磨液中磨料的粒度尺寸为5μm的碳化硅为最优工艺组合,亲水性固结磨料研磨蓝宝石的材料去除率为431.2nm/min,表面粗糙度值为Ra0.140 2μm。 展开更多
关键词 亲水性固结磨料 蓝宝石晶片 研磨 去除率 表面粗糙度
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磁性复合流体对砷化镓晶片的超精密表面抛光
14
作者 王有良 梁博 张文娟 《稀有金属材料与工程》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2024年第2期377-385,共9页
研究了磁性复合流体(MCF)浆料对砷化镓(Ga As)晶片表面纳米精密抛光的影响。通过混合CS羰基铁颗粒(CIPs)、Al_(2)O_(3)磨料颗粒、α-纤维素和磁性流体制备MCF浆料。首先,通过设计用于产生旋转磁场的MCF单元,建立了抛光装置。然后,对Ga A... 研究了磁性复合流体(MCF)浆料对砷化镓(Ga As)晶片表面纳米精密抛光的影响。通过混合CS羰基铁颗粒(CIPs)、Al_(2)O_(3)磨料颗粒、α-纤维素和磁性流体制备MCF浆料。首先,通过设计用于产生旋转磁场的MCF单元,建立了抛光装置。然后,对Ga As晶片表面进行了点抛光实验,以阐明MCF成分对不同抛光位置的表面粗糙度R_(a)和材料去除(MR)的影响。最后,使用含有不同直径颗粒的水基MCF浆料进行了扫描抛光实验。结果表明,在点抛光的情况下,水基和油基MCF处理后的初始表面粗糙度从954.07 nm分别降至1.02和20.06 nm。此外,MR的深度随着抛光时间的增加而线性增加。使用水基MCF的MR深度是使用油基MCF抛光的2.5倍。同时,抛光区的横截面轮廓显示出W型,这表明点抛光工件表面的MR不均匀。通过扫描抛光,抛光区的横截面轮廓显示出U型,这表明在给定的实验条件下,无论使用何种MCF,MR都是均匀的。使用含有直径为0.3μm的磨粒的MCF能够获得R_(a)为0.82 nm的最光滑工作表面,同时MR速率为13.5μm/h。 展开更多
关键词 磁性复合流体 砷化镓晶片 抛光 表面粗糙度 材料去除
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固结磨料切割Φ200 mm硅单晶表面损伤研究 被引量:2
15
作者 苏冰 周旗钢 +3 位作者 邢旭 李军 李军营 周波 《稀有金属》 EI CAS CSCD 北大核心 2023年第8期1186-1194,共9页
研究电镀刚石线在多线切割过程中对半导体硅材料的去除机制与表面损伤情况,在不同的钢线速度下对Φ200 mm硅单晶进行切割实验,并对切割的试样与切屑进行扫描电镜(SEM)测试,观察试样的表面形貌和切屑的形貌,分析半导体硅材料的去除机制... 研究电镀刚石线在多线切割过程中对半导体硅材料的去除机制与表面损伤情况,在不同的钢线速度下对Φ200 mm硅单晶进行切割实验,并对切割的试样与切屑进行扫描电镜(SEM)测试,观察试样的表面形貌和切屑的形貌,分析半导体硅材料的去除机制与硅片表面不同位置的粗糙度及损伤深度。结果表明:电镀金刚石线切割硅晶体时,线速度越高,进给速度越小,硅晶体材料越容易以塑性方式加工;固结磨料切割后的硅片表面,沿着工作台进给方向,表面粗糙度先增大再减小,硅片中间位置粗糙度最大。钢线入线位置的损伤层最深,且随着切割深度的增加,表面损伤层深度逐渐减小;沿着钢线往复运动的方向,两侧边缘位置粗糙度比中间小,钢线前进侧损伤层深度比回线侧深;进给速度一定时,硅片相同位置表面损伤层深度随着钢线速度的减小而增大。切割后的硅片表面由于局部切削热应力分布不均匀导致有微裂纹产生,相同进给速度时,线速度越高,切割后硅片相同位置表面微裂纹越窄,反之表面微裂纹越宽。 展开更多
关键词 硅片切割 去除机制 表面粗糙度 表面损伤
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弹性磨抛轮加工硅片面形预测模型及试验验证
16
作者 高尚 任佳伟 +2 位作者 康仁科 张瑜 李天润 《表面技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2024年第3期22-27,46,共7页
目的为分析弹性磨抛轮磨削硅片面形精度变化的影响因素,优化加工参数以获得良好的磨削面形。方法通过建立考虑弹性磨抛轮转速、硅片转速、偏心距等参数的弹性磨抛轮磨粒运动轨迹模型,结合单颗磨粒切削深度,提出了弹性磨抛轮加工硅片的... 目的为分析弹性磨抛轮磨削硅片面形精度变化的影响因素,优化加工参数以获得良好的磨削面形。方法通过建立考虑弹性磨抛轮转速、硅片转速、偏心距等参数的弹性磨抛轮磨粒运动轨迹模型,结合单颗磨粒切削深度,提出了弹性磨抛轮加工硅片的材料去除非均匀性预测方法,建立了基于弹性磨抛轮磨削硅片的面形预测模型,并通过不同转速比下的磨削试验验证了预测模型的准确性。结果面形预测模型仿真出的面形与弹性磨抛轮加工试验后的硅片面形一致,均呈“凸”形,且PV值随转速比的增大而增大。转速比为1时,磨削后硅片面形PV值为0.54μm,仿真模型计算出的PV值为0.49μm,转速比为5时,磨削后硅片面形PV值为2.12μm,仿真模型计算出的PV值为2.38μm。结论磨削试验面形PV值与模型计算面形PV值的预测误差小于13%,建立的面形预测模型能够成功预测硅片的面形规律,可以分析加工参数对硅片面形的影响规律。由面形预测模型分析可知,转速比对硅片面形精度有影响,且随着转速比的增加,硅片面形不断恶化,因此在实际加工中,应选择较小的转速比进行加工,以获得更优的硅片面形精度。 展开更多
关键词 磨抛轮 硅片 面形仿真 磨粒切削深度 去除均匀性 磨削
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碳化硅单晶加工对晶片表面质量的影响
17
作者 张序清 刘晓双 +6 位作者 张玺 朱如忠 高煜 吴琛 王蓉 杨德仁 皮孝东 《材料科学与工程学报》 CAS CSCD 北大核心 2024年第1期9-13,共5页
碳化硅(4H-SiC)晶片加工是制备高品质衬底晶圆的关键工艺,衬底晶圆的表面质量直接影响外延薄膜以及后续器件的性能。本研究通过对4H-SiC晶片经线切割、磨削、研磨、抛光等不同加工工序后对应的表面形貌、粗糙度、机械性质和晶体质量的分... 碳化硅(4H-SiC)晶片加工是制备高品质衬底晶圆的关键工艺,衬底晶圆的表面质量直接影响外延薄膜以及后续器件的性能。本研究通过对4H-SiC晶片经线切割、磨削、研磨、抛光等不同加工工序后对应的表面形貌、粗糙度、机械性质和晶体质量的分析,发现晶片加工通过逐步去除线切割引入的表面损伤层,提高了晶片表面质量。4H-SiC晶片C面和Si面机械性质存在各向异性,C面材料韧性相对较差,加工过程中发生脆性断裂的程度更大,导致C面材料去除速率较快,表面形貌和粗糙度相对较差。 展开更多
关键词 碳化硅 晶片加工 表面质量 各向异性
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旋转圆盘空蚀试验中的硅材料破坏过程研究 被引量:6
18
作者 蒋娜娜 徐臻 +1 位作者 陈大融 李浩群 《摩擦学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第4期393-397,共5页
利用自制旋转圆盘空蚀试验装置,以流动自来水为介质,对磨片、化抛片、抛光片和刻蚀片等4种硅片进行连续8 h试验以及对磨片进行连续14 h跟踪观察试验,研究硅材料的微观破坏过程,并利用扫描电子显微镜、触针式表面形貌仪和原子力显微镜对... 利用自制旋转圆盘空蚀试验装置,以流动自来水为介质,对磨片、化抛片、抛光片和刻蚀片等4种硅片进行连续8 h试验以及对磨片进行连续14 h跟踪观察试验,研究硅材料的微观破坏过程,并利用扫描电子显微镜、触针式表面形貌仪和原子力显微镜对其表面微观形貌进行分析.结果表明:经连续8 h空蚀试验后,磨片原始表面的片状层基本消失,表面破坏程度最严重,化抛片次之,其表面尖锐的边缘发生了钝化,抛光片和刻蚀片的表面变化不大;化抛片的表面粗糙度Ra值由227.79 nm降至173.31 nm,抛光片的Ra值由0.483 nm增加至3.455 nm,磨片在14 h试验后其Ra值由0.3304μm降至0.1965μm;一定尺度的表面微观形貌对硅材料产生显著影响. 展开更多
关键词 空蚀 硅片 表面形貌
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硅片键合强度测试系统研究 被引量:4
19
作者 陈立国 孙立宁 +1 位作者 黄庆安 陈涛 《测试技术学报》 EI 2005年第2期137-140,共4页
 对现有的几种硅片键合强度测试方法进行总结,在裂纹传播扩散法测试机理分析的基础上,提出了测试系统需要得到的参数和功能.采用模块化设计思想,对测试系统中的精密定位、显微视觉、红外测试和控制系统等关键技术分别研究,最后将单元...  对现有的几种硅片键合强度测试方法进行总结,在裂纹传播扩散法测试机理分析的基础上,提出了测试系统需要得到的参数和功能.采用模块化设计思想,对测试系统中的精密定位、显微视觉、红外测试和控制系统等关键技术分别研究,最后将单元技术集成,研制成功测试系统样机.通过对多个键合硅片强度测试对比实验,证明了该系统的有效性. 展开更多
关键词 键合强度 键合 表面能 裂纹传播扩散 测试
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CdZnTe探测器晶片的表面处理工艺 被引量:4
20
作者 张冬敏 朱世富 +5 位作者 赵北君 高德友 陈俊 唐世红 方军 程曦 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第4期715-718,共4页
报道了CdZnTe探测器晶片表面钝化工艺对其性能的影响。先采用金相砂纸和化学腐蚀剂对CdZnTe晶片进行机械和化学抛光,然后分别用H2O2溶液和NH4F/H2O2溶液对晶片进行湿法钝化;再用ZC36微电流测试仪和扫描电镜测试研究了不同钝化时间对C... 报道了CdZnTe探测器晶片表面钝化工艺对其性能的影响。先采用金相砂纸和化学腐蚀剂对CdZnTe晶片进行机械和化学抛光,然后分别用H2O2溶液和NH4F/H2O2溶液对晶片进行湿法钝化;再用ZC36微电流测试仪和扫描电镜测试研究了不同钝化时间对CdZnTe晶片电学性质和表面形态的影响。结果发现:用NH4F/H2O2溶液对CdZnTe探测器晶片进行钝化30min,晶片表面形成一层完整的高阻氧化层,表面漏电流最小、晶体电阻率提高1-2个数量级,达到10^9-10 Ω·cm,适合探测器的制备。 展开更多
关键词 碲锌镉晶片 表面处理 漏电流 电阻率 形貌
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