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IC封装设备划片机的研制
被引量:
3
1
作者
冯晓国
张景和
+1 位作者
张承嘉
何惠阳
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003年第z1期50-52,共3页
划片是集成电路 (IC)后封装中的第一道工序 ,其加工质量将直接影响整个生产线的整体质量。本文介绍了中科院长春光机所自行研制的划片机的研制过程。重点阐述了总体机构设计、主要分系统设计和设备的最终检测结果。结果表明 ,设备主要...
划片是集成电路 (IC)后封装中的第一道工序 ,其加工质量将直接影响整个生产线的整体质量。本文介绍了中科院长春光机所自行研制的划片机的研制过程。重点阐述了总体机构设计、主要分系统设计和设备的最终检测结果。结果表明 ,设备主要性能指标已达到了国际 2 0世纪
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关键词
划片机
封装设备
集成电路
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职称材料
题名
IC封装设备划片机的研制
被引量:
3
1
作者
冯晓国
张景和
张承嘉
何惠阳
机构
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
出处
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003年第z1期50-52,共3页
文摘
划片是集成电路 (IC)后封装中的第一道工序 ,其加工质量将直接影响整个生产线的整体质量。本文介绍了中科院长春光机所自行研制的划片机的研制过程。重点阐述了总体机构设计、主要分系统设计和设备的最终检测结果。结果表明 ,设备主要性能指标已达到了国际 2 0世纪
关键词
划片机
封装设备
集成电路
Keywords
wafer
incision
machine
encapsulation
device
integrate
circuit
分类号
TN4 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
IC封装设备划片机的研制
冯晓国
张景和
张承嘉
何惠阳
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003
3
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职称材料
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