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提高通用IC测试系统瞬态大电流测试可靠性的研究
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作者 刘汝刚 孙曦东 《微处理机》 2017年第6期25-29,共5页
对瞬态大电流的参数进行测试,实质上就是测试桥式驱动集成电路的MOSFET短路电流持续时间。现有的测试手段无法在IC测试系统上实现可靠的全参数测试。鉴于此,以现有的IC测试系统为平台,特别是依托国产IC测试系统,尝试解决瞬态大电流参数... 对瞬态大电流的参数进行测试,实质上就是测试桥式驱动集成电路的MOSFET短路电流持续时间。现有的测试手段无法在IC测试系统上实现可靠的全参数测试。鉴于此,以现有的IC测试系统为平台,特别是依托国产IC测试系统,尝试解决瞬态大电流参数测试结果的可靠性问题,实现桥式驱动集成电路自动化、全参数的测试,最终提高集成电路测试结果的准确性和可靠性。 展开更多
关键词 VMOS工艺 驱动 测试 J750测试系统 数字波形 绝缘栅双极晶体管
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