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题名提高通用IC测试系统瞬态大电流测试可靠性的研究
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作者
刘汝刚
孙曦东
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机构
中国电子科技集团公司第四十七研究所
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出处
《微处理机》
2017年第6期25-29,共5页
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文摘
对瞬态大电流的参数进行测试,实质上就是测试桥式驱动集成电路的MOSFET短路电流持续时间。现有的测试手段无法在IC测试系统上实现可靠的全参数测试。鉴于此,以现有的IC测试系统为平台,特别是依托国产IC测试系统,尝试解决瞬态大电流参数测试结果的可靠性问题,实现桥式驱动集成电路自动化、全参数的测试,最终提高集成电路测试结果的准确性和可靠性。
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关键词
vmos工艺
驱动
测试
J750测试系统
数字波形
绝缘栅双极晶体管
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Keywords
vmos process
Driver
Test
J750
Digital waveform
IGBT
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分类号
TN43
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名基于温度参数转换电路的设计与实现
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作者
姜硕
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机构
中国电子科技集团公司第四十七研究所
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出处
《微处理机》
2017年第6期30-32,共3页
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文摘
当科技制造水平越来越高,温度不仅仅作为一个反映周围环境冷热程度的数值,而是更多地参与到了人们的研制和生产中去。在许多设备、整机、武装系统中都需要考虑到温度这个参数,并根据温度来进行相应的运算或调节,但是温度参数在一些情况下是不能直接应用的,需要将它转换成其他形式合适的参数或信号。基于某整机系统中专用的高精度温度转换器进行设计和制造。讨论高精度温度转换器的设计原理和设计制造过程,并对设计要点进行说明。
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关键词
温度转换
逻辑控制
多芯片集成
高精度
高可靠性
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Keywords
vmos process
Driver
Test
J750
Digital waveform
IGBT
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分类号
TN43
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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