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CMOS存储器中地址译码器的开路故障及其测试 被引量：1
1
作者 刘建都 《微电子技术》 1999年第5期43-48,共6页
CMOS存储器中地址译码器的开路故障不能被常用的推进测试算法可靠地测试出。本文首先对CMOS存储器中地址译码器的开路故障进行了分析和分类，得出了其中有一类开路故障不能用常用的测试算法可靠的测试出，然后给出了测试该类开路故障的... CMOS存储器中地址译码器的开路故障不能被常用的推进测试算法可靠地测试出。本文首先对CMOS存储器中地址译码器的开路故障进行了分析和分类，得出了其中有一类开路故障不能用常用的测试算法可靠的测试出，然后给出了测试该类开路故障的测试方法以及针对该类开路故障的容错性设计方案。 展开更多
关键词 CMOS存储器 地址译码器 不可检测的故障 推进式测试
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同步时序电路中组合冗余故障识别技术
2
作者 郭希维 苏群星 谷宏强 《兵工自动化》 2007年第2期83-85,共3页
对时序电路的迭代逻辑阵列(ILA)施加组合ATPG(自动测试模式生成),可得到不可测故障识别的定理和条件,其条件针对故障电路给出。基于无故障电路的条件,其验证过程用状态图表示。并用ILA识别不可测故障均为组合冗余故障,而组合冗余故障可... 对时序电路的迭代逻辑阵列(ILA)施加组合ATPG(自动测试模式生成),可得到不可测故障识别的定理和条件,其条件针对故障电路给出。基于无故障电路的条件,其验证过程用状态图表示。并用ILA识别不可测故障均为组合冗余故障,而组合冗余故障可用长度为1的ILA实现。故可由此简化不可测故障的识别过程。并通过时序电路中的组合冗余故障识别以验证。 展开更多
关键词 不可测故障 组合冗余 迭代逻辑阵列 自动测试模式生成
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