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大功率晶体管刻槽与钝化工艺研究
被引量:
2
1
作者
万积庆
廖晓华
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1989年第10期775-780,共6页
本文介绍一种光刻刻蚀造型和聚酰亚胺钝化方法.这一新方法称耗尽层刻蚀,它可以使平面型晶体管达到理想击穿电压,而只需用负角斜面所占面积的一部份,且其实际击穿电压取决于对刻蚀深度的细心控制. 实验证明:采用这一新方法可以改善功率...
本文介绍一种光刻刻蚀造型和聚酰亚胺钝化方法.这一新方法称耗尽层刻蚀,它可以使平面型晶体管达到理想击穿电压,而只需用负角斜面所占面积的一部份,且其实际击穿电压取决于对刻蚀深度的细心控制. 实验证明:采用这一新方法可以改善功率晶体管的击穿特性;减少低压击穿;抑制小电流H_(FE)退化;减小表面漏电和改善高温反向特性.
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关键词
晶体管
大功率
刻蚀
耗尽层
钝化
下载PDF
职称材料
题名
大功率晶体管刻槽与钝化工艺研究
被引量:
2
1
作者
万积庆
廖晓华
机构
湖南大学
衡阳晶体管厂
出处
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1989年第10期775-780,共6页
文摘
本文介绍一种光刻刻蚀造型和聚酰亚胺钝化方法.这一新方法称耗尽层刻蚀,它可以使平面型晶体管达到理想击穿电压,而只需用负角斜面所占面积的一部份,且其实际击穿电压取决于对刻蚀深度的细心控制. 实验证明:采用这一新方法可以改善功率晶体管的击穿特性;减少低压击穿;抑制小电流H_(FE)退化;减小表面漏电和改善高温反向特性.
关键词
晶体管
大功率
刻蚀
耗尽层
钝化
Keywords
Transistor
Etch
Depletion
techniqve
passivation
Photolithograph
分类号
TN323.4 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
大功率晶体管刻槽与钝化工艺研究
万积庆
廖晓华
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1989
2
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职称材料
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