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d-T和d-D中子产额的可视化计算
被引量：
2
1
作者
石磊
唐平瀛
谈效华
《原子能科学技术》
EI
CAS
CSCD
2004年第z1期84-88,共5页
开发了一种用于计算d T和d D中子产额的计算机程序,并对程序所涉及的相关物理问题以及可视化界面、程序流程和功能特点进行了介绍。
关键词
中子产额
trim
程序
MATLAB软件
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职称材料
C276合金质子辐照损伤模拟及活化分析
被引量：
1
2
作者
靳忠敏
陈义学
+1 位作者
韩静茹
陆道纲
《原子能科学技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2009年第6期501-504,共4页
C276合金是先进核电站燃料元件包壳的候选材料之一。本工作采用TRIM程序分别计算10和20 MeV质子辐照C276所产生的辐照损伤,比较分析能损、离位原子、DPA等参数分布。同时使用FISPACT-2007程序进行活化计算,对放射性活度、衰变余热及接...
C276合金是先进核电站燃料元件包壳的候选材料之一。本工作采用TRIM程序分别计算10和20 MeV质子辐照C276所产生的辐照损伤,比较分析能损、离位原子、DPA等参数分布。同时使用FISPACT-2007程序进行活化计算,对放射性活度、衰变余热及接触剂量率等参数进行了详细分析。结果表明:辐照损伤主要来自电子能损的贡献,高能质子与靶原子发生碰撞的几率较低。C276经同种能量质子辐照后,活化特性随着辐照时间的增长而增加。辐照时间相同时,高能质子会对材料产生更大的影响。本工作为后续的辐照损伤分子动力学模拟及计划开展的质子辐照实验提供支持。
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关键词
C276
质子
辐照损伤
trim
程序
活化
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职称材料
一种单引脚修调电路的设计
被引量：
2
3
作者
李晶
汪西虎
许建蓉
《半导体技术》
CAS
北大核心
2020年第11期828-833,共6页
使用一次可编程结构对关键参数进行修调是提升集成电路精度及成品率的一种常用方法。但是,传统的修调电路采用I^2C等通信协议来控制修调过程,需要占用较多的集成电路引脚资源。因此,提出了一种使用归零码码型设计的新型数字修调控制电路...
使用一次可编程结构对关键参数进行修调是提升集成电路精度及成品率的一种常用方法。但是,传统的修调电路采用I^2C等通信协议来控制修调过程,需要占用较多的集成电路引脚资源。因此,提出了一种使用归零码码型设计的新型数字修调控制电路,仅需一个芯片引脚,即可实现修调数据的传输及对修调过程的控制。该电路已成功应用于一款过压保护芯片中,使用该修调电路对芯片的参数进行校正并测试。结果表明,其关键性能参数基准电压和过压阈值的标准差由修调前的14 mV和110 mV降低至8 mV和49 mV,并且芯片的成品率由80%提升至99%以上。
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关键词
集成电路
数字修调控制电路
一次可编程(OTP)结构
修调
归零码
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职称材料
题名
d-T和d-D中子产额的可视化计算
被引量：
2
1
作者
石磊
唐平瀛
谈效华
机构
中国工程物理研究院电子工程研究所
出处
《原子能科学技术》
EI
CAS
CSCD
2004年第z1期84-88,共5页
基金
国防科技基础研究基金资助课题
文摘
开发了一种用于计算d T和d D中子产额的计算机程序,并对程序所涉及的相关物理问题以及可视化界面、程序流程和功能特点进行了介绍。
关键词
中子产额
trim
程序
MATLAB软件
Keywords
neutron
yield
trim
code
MATLAB
software
分类号
TL8 [核科学技术—核技术及应用]
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职称材料
题名
C276合金质子辐照损伤模拟及活化分析
被引量：
1
2
作者
靳忠敏
陈义学
韩静茹
陆道纲
机构
华北电力大学核科学与工程学院
出处
《原子能科学技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2009年第6期501-504,共4页
基金
国家重点基础研究发展计划资助项目(2007CB209803)
北京市科技新星计划资助项目(2007B058)
长江学者和创新团队发展计划资助项目(IRT0720)
文摘
C276合金是先进核电站燃料元件包壳的候选材料之一。本工作采用TRIM程序分别计算10和20 MeV质子辐照C276所产生的辐照损伤,比较分析能损、离位原子、DPA等参数分布。同时使用FISPACT-2007程序进行活化计算,对放射性活度、衰变余热及接触剂量率等参数进行了详细分析。结果表明:辐照损伤主要来自电子能损的贡献,高能质子与靶原子发生碰撞的几率较低。C276经同种能量质子辐照后,活化特性随着辐照时间的增长而增加。辐照时间相同时,高能质子会对材料产生更大的影响。本工作为后续的辐照损伤分子动力学模拟及计划开展的质子辐照实验提供支持。
关键词
C276
质子
辐照损伤
trim
程序
活化
Keywords
C276
proton
irradiation
damage
trim
code
activation
分类号
TL341 [核科学技术—核技术及应用]
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职称材料
题名
一种单引脚修调电路的设计
被引量：
2
3
作者
李晶
汪西虎
许建蓉
机构
西安邮电大学电子工程学院
出处
《半导体技术》
CAS
北大核心
2020年第11期828-833,共6页
基金
陕西省自然科学基础研究计划资助项目(2020JM-583)。
文摘
使用一次可编程结构对关键参数进行修调是提升集成电路精度及成品率的一种常用方法。但是,传统的修调电路采用I^2C等通信协议来控制修调过程,需要占用较多的集成电路引脚资源。因此,提出了一种使用归零码码型设计的新型数字修调控制电路,仅需一个芯片引脚,即可实现修调数据的传输及对修调过程的控制。该电路已成功应用于一款过压保护芯片中,使用该修调电路对芯片的参数进行校正并测试。结果表明,其关键性能参数基准电压和过压阈值的标准差由修调前的14 mV和110 mV降低至8 mV和49 mV,并且芯片的成品率由80%提升至99%以上。
关键词
集成电路
数字修调控制电路
一次可编程(OTP)结构
修调
归零码
Keywords
integrated
circuit
digital
trim
ming
control
circuit
one
time
programmable(OTP)structure
trim
return-to-zero
code
分类号
TN431.2 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
d-T和d-D中子产额的可视化计算
石磊
唐平瀛
谈效华
《原子能科学技术》
EI
CAS
CSCD
2004
2
下载PDF
职称材料
2
C276合金质子辐照损伤模拟及活化分析
靳忠敏
陈义学
韩静茹
陆道纲
《原子能科学技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2009
1
下载PDF
职称材料
3
一种单引脚修调电路的设计
李晶
汪西虎
许建蓉
《半导体技术》
CAS
北大核心
2020
2
下载PDF
职称材料
已选择
0
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参考文献
引证文献
统计分析
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