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MOCVD生长Ⅲ族氮化物镓源的选择 被引量:2
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作者 顾星 叶志镇 赵炳辉 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 2002年第2期109-113,共5页
MOCVD是生长Ⅲ族氮化物材料最成功的技术之一。镓源的选择是该技术中重要的一环。详细比较了三甲基镓和三乙基镓两种主要的镓源对生长样品在微结构、表面形态、电学性质和光学性质方面的不同影响 。
关键词 MOCVD 镓源 Ⅲ族氮化物 GAN TMGa tega
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使用TEGa和TMGa为镓源MOCVD生长GaN的研究
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作者 莫春兰 彭学新 +6 位作者 熊传兵 王立 李鹏 姚冬敏 辛勇 江凤益 南昌大学 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第1期75-79,共5页
采用自行研制的立式MOCVD生长系统 ,以TMGa、TEGa为Ga源 ,在不同的生长条件下生长GaN单晶膜。然后对样品进行室温光致发光光谱测试、范德堡霍尔测量和X射线双晶衍射测试。实验结果表明 ,缓冲层的Ga源不同对GaN单晶膜质量影响很大 ;以TEG... 采用自行研制的立式MOCVD生长系统 ,以TMGa、TEGa为Ga源 ,在不同的生长条件下生长GaN单晶膜。然后对样品进行室温光致发光光谱测试、范德堡霍尔测量和X射线双晶衍射测试。实验结果表明 ,缓冲层的Ga源不同对GaN单晶膜质量影响很大 ;以TEGa为Ga源生长缓冲层及外延层 ,外延层不连续 ;以TMGa为缓冲层Ga源、TEGa为外延层Ga源 ,在此得到室温载流子浓度为 4 5× 1 0 17cm-3 ,迁移率为 1 98cm2 /V·s的电学性能较好的GaN单晶膜。研究结果表明 :使用TEGa为外延层Ga源生长GaN ,能有效地抑制不期望的蓝带的出现。 展开更多
关键词 GAN MOCVD 三乙基镓 三甲基镓 半导体材料 单晶膜 光致发光光谱
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替加环素联合头孢哌酮舒巴坦治疗泛耐药鲍曼不动杆菌的疗效评价
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作者 陈爱治 《海峡药学》 2019年第1期83-84,共2页
目的对替加环素联合头孢哌酮舒巴坦治疗泛耐药鲍曼不动杆菌的治疗效果展开评价。方法选取2015年1月至2018年4月的泛耐药鲍曼不动杆菌患者329例,其中包含2015年的患者80例,2016年的患者82例,2017年的患者136例,和2018年的患者31例,将其... 目的对替加环素联合头孢哌酮舒巴坦治疗泛耐药鲍曼不动杆菌的治疗效果展开评价。方法选取2015年1月至2018年4月的泛耐药鲍曼不动杆菌患者329例,其中包含2015年的患者80例,2016年的患者82例,2017年的患者136例,和2018年的患者31例,将其随机分为实验组与对照组,实验组患者共210例,对照组患者共119例,对实验组患者采用替加联合头孢哌酮舒巴坦进行治疗,对对照组患者采用头孢哌酮舒巴坦进行治疗。结果经研究发现,实验组患者的治疗效果明显优于对照组患者的治疗效果,差异明显,具有统计学意义(P<0.05)。结论采用替加联合头孢哌酮舒巴坦治疗泛耐药鲍曼不动杆菌能够取得良好的治疗效果,有效清除患者体内的细菌,在医学临床领域值得广泛推广。 展开更多
关键词 替加环素 头孢哌酮舒巴坦 泛耐药 鲍曼不动杆菌杆菌
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Influence of growth conditions on the V-defects in InGaN/GaN MQWs 被引量:1
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作者 纪攀峰 刘乃鑫 +4 位作者 魏学成 刘喆 路红喜 王军喜 李晋闽 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2011年第10期17-21,共5页
The influence of the growth temperature,TMIn/TEGa andⅤ/Ⅲratio on the V-defects of InGaN/GaN multi-quantum wells(MQWs) has been investigated and discussed.When the TMIn flow increases from 180 to 200 sccm,the densi... The influence of the growth temperature,TMIn/TEGa andⅤ/Ⅲratio on the V-defects of InGaN/GaN multi-quantum wells(MQWs) has been investigated and discussed.When the TMIn flow increases from 180 to 200 sccm,the density of V-defects increases from 2.72×10^(18) to 5.24×10^(18) cm^(-2),and the V-defect width and depth increase too.The density also increases with the growth temperature.The densities are 2.05×10~8,2.72×10^(18) and 4.23×10~8 cm^(-2),corresponding to a growth temperature of 748,753 and 758℃respectively.When the NH_3 flows are 5000,6600 and 8000 sccm,the densities of the V-defects of these samples are 6.34×10^(18),2.72×10^(18) and 4.13×10^(18) cm^(-2),respectively.A properⅤ/Ⅲratio is needed to achieve step flow growth mode.We get the best quality of InGaN/GaN MQWs at a growth temperature of 753℃TMIn flow at 180 sccm,NH_3 flow at 6600 sccm,a flatter surface and less V-defects density.The depths of these V-defects are from 10 to 30 nm,and the widths are from 100 to 200 nm.In order to suppress the influence of V-defects on reverse current and electro-static discharge of LEDs,it is essential to grow thicker p-GaN to fill the V-defects. 展开更多
关键词 V-defect density WIDTH DEPTH TMIn/tega NH_3 temperature
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