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日冕仪系统中三种杂散光的判定与实验研究
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作者 黄玉鹏 张红鑫 +1 位作者 丁悦 王泰升 《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2023年第11期160-170,共11页
针对日冕仪中对杂散光的抑制要求,分析了日冕仪系统中的三种杂散光,包括日冕仪物镜二次反射产生的鬼像点、日冕仪物镜散射点、以及日冕仪孔径光阑衍射光。利用光学建模软件对日冕仪系统进行仿真和分析,发现这三种杂散光的成像位置十分... 针对日冕仪中对杂散光的抑制要求,分析了日冕仪系统中的三种杂散光,包括日冕仪物镜二次反射产生的鬼像点、日冕仪物镜散射点、以及日冕仪孔径光阑衍射光。利用光学建模软件对日冕仪系统进行仿真和分析,发现这三种杂散光的成像位置十分接近且不易区分,并会对系统的检测过程和检测结果产生干扰。根据仿真结果,给出了这三种杂散光的判定与抑制方法,并利用一台视场为±1.08 R⊙~±2.5 R⊙(R⊙表示太阳半径),工作波段为530.3~637.4 nm,通光口径为220 mm,系统总长为4321 mm的内掩式日冕仪进行了理论验证和实验对比,验证了判定方法的可行性。同时设计了掩体和鬼像遮拦结构对杂散光进行抑制,增加了日冕仪系统杂散光抑制的选择方案,提升了日冕仪杂散光检测的准确率。 展开更多
关键词 内掩式日冕仪 杂散光检测 光线追迹 鬼像 散射光 杂散光判定
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