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(Pb_(1-x)Srx)TiO_3铁电薄膜电滞回线的测试分析
被引量:
1
1
作者
王茂祥
孙平
《真空与低温》
2006年第3期142-144,共3页
采用磁控溅射法制备了PST薄膜,讨论了其制备工艺并着重对其电滞回线进行了测试分析。从测试结果来看,其饱和极化强度PS典型值为19.0μC+cm2,剩余极化强度为6.6μC+cm2,矫顽场强为16kV+cm,热释电系数为10-4量级。表明所制备的PST薄膜具...
采用磁控溅射法制备了PST薄膜,讨论了其制备工艺并着重对其电滞回线进行了测试分析。从测试结果来看,其饱和极化强度PS典型值为19.0μC+cm2,剩余极化强度为6.6μC+cm2,矫顽场强为16kV+cm,热释电系数为10-4量级。表明所制备的PST薄膜具有较好的铁电性能。
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关键词
(Pb1-x
srx
)
tio
3
薄膜
磁控溅射
电滞回线
铁电性
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职称材料
题名
(Pb_(1-x)Srx)TiO_3铁电薄膜电滞回线的测试分析
被引量:
1
1
作者
王茂祥
孙平
机构
南京大学工程管理学院
出处
《真空与低温》
2006年第3期142-144,共3页
基金
国家自然科学基金(69671008)
文摘
采用磁控溅射法制备了PST薄膜,讨论了其制备工艺并着重对其电滞回线进行了测试分析。从测试结果来看,其饱和极化强度PS典型值为19.0μC+cm2,剩余极化强度为6.6μC+cm2,矫顽场强为16kV+cm,热释电系数为10-4量级。表明所制备的PST薄膜具有较好的铁电性能。
关键词
(Pb1-x
srx
)
tio
3
薄膜
磁控溅射
电滞回线
铁电性
Keywords
(Pb1-x
srx
)
tio
3
thin films
magnetic-sputtering
hysteresis loops
ferroelectric property
分类号
O484.42 [理学—固体物理]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
(Pb_(1-x)Srx)TiO_3铁电薄膜电滞回线的测试分析
王茂祥
孙平
《真空与低温》
2006
1
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