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SnO_2气敏薄膜的制作与性能研究 被引量:1
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作者 于国萍 易涛 +1 位作者 魏正和 曾志峰 《武汉大学学报(理学版)》 CAS CSCD 北大核心 2003年第5期613-616,共4页
采用射频溅射法制备了SnO2气敏薄膜,并在薄膜中掺杂Sb2O3和Pt用于气敏薄膜的增敏.使用XRD对制备的薄膜进行了结构分析,测量了薄膜的吸收光谱和电阻,并研究了薄膜工艺条件的改变对薄膜结构和性能的影响.结果表明,不同退火温度下处理的氧... 采用射频溅射法制备了SnO2气敏薄膜,并在薄膜中掺杂Sb2O3和Pt用于气敏薄膜的增敏.使用XRD对制备的薄膜进行了结构分析,测量了薄膜的吸收光谱和电阻,并研究了薄膜工艺条件的改变对薄膜结构和性能的影响.结果表明,不同退火温度下处理的氧化锡薄膜均为金红石结构,退火温度对薄膜的晶粒尺寸和电阻有较大影响:退火温度愈高,薄膜中形成的晶粒越完整,晶化程度愈高;电阻率随着退火温度的升高而降低,考虑到气敏薄膜的敏感性能,本文选取1100℃为最佳退火温度.由于掺杂的影响,在氧化锡的禁带中产生了杂质能级,使薄膜对2722nm附近的红外光波产生了强烈吸收. 展开更多
关键词 sno2薄膜 制作方法 射频溅射法 氧化锡薄膜 薄膜结构 退火温度 感性能 金属氧化物半导体
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CaO-SnO_2气敏薄膜最佳掺杂含量的理论计算
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作者 范志新 潘晓春 潘良玉 《真空》 CAS 北大核心 2002年第4期26-28,共3页
本文介绍一个最佳掺杂含量表达式。应用此表达式定量计算了 Ca O- Sn O2 薄膜乙醇气敏元件材料的最佳掺杂含量。
关键词 CaO-sno2薄膜 元件 晶体结构 制备方法 最佳掺杂含量 理论计算 氧化钙 二氧化锡 氧化物半导体
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