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SiGe集成电路工艺技术现状及发展趋势
被引量:
9
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作者
马羽
王志宽
崔伟
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2018年第4期508-514,共7页
介绍了基于SiGe材料的集成电路工艺技术概况,包括SiGe HBT器件结构、SiGe HBT特色双极工艺、SiGe BiCMOS工艺等。概述了SiGe工艺技术的应用情况以及国内外发展现状,并结合应用需求,提出了国内模拟集成电路制造用SiGe工艺技术的发展趋势。
关键词
异质结
sige
HBT
sige
双极工艺
sige
BICMOS工艺
下载PDF
职称材料
题名
SiGe集成电路工艺技术现状及发展趋势
被引量:
9
1
作者
马羽
王志宽
崔伟
机构
重庆中科渝芯电子有限公司
出处
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2018年第4期508-514,共7页
文摘
介绍了基于SiGe材料的集成电路工艺技术概况,包括SiGe HBT器件结构、SiGe HBT特色双极工艺、SiGe BiCMOS工艺等。概述了SiGe工艺技术的应用情况以及国内外发展现状,并结合应用需求,提出了国内模拟集成电路制造用SiGe工艺技术的发展趋势。
关键词
异质结
sige
HBT
sige
双极工艺
sige
BICMOS工艺
Keywords
heterojunction
sige
HBT
sige
bipolar
process
sige
BiCMOS
process
分类号
TN304.24 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
SiGe集成电路工艺技术现状及发展趋势
马羽
王志宽
崔伟
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2018
9
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