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硼掺杂球磨SiGe合金的热电性能 被引量:8
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作者 徐璟 赵新兵 +1 位作者 朱铁军 何旭昭 《材料科学与工程学报》 CAS CSCD 北大核心 2017年第2期173-176,186,共5页
SiGe合金热电材料作为一种传统的高温热电材料一直以来受到广泛关注。本研究通过B在球磨SiGe合金中的P型掺杂,有效增加了材料的载流子浓度,优化材料的电学性能。通过球磨降低材料的晶粒尺寸,增强晶界对声子的散射,降低材料的晶格热导率... SiGe合金热电材料作为一种传统的高温热电材料一直以来受到广泛关注。本研究通过B在球磨SiGe合金中的P型掺杂,有效增加了材料的载流子浓度,优化材料的电学性能。通过球磨降低材料的晶粒尺寸,增强晶界对声子的散射,降低材料的晶格热导率。另外,B掺杂使点缺陷散射和载流子-声子散射得到增强,材料的晶格热导率进一步降低。在室温时,Si_(0.8)Ge_(0.2)B_(0.04)的晶格热导率为~4Wm^(-1) K^(-1)。由于掺杂后电导率提高,热导率降低,因此热电优值zT得到了提高。在850K时,Si_(0.8)Ge_(0.2)B_(0.04)的最大热电优值为0.42,与Si_(0.8)Ge_(0.2)B_(0.002)的样品相比,其优值提高了2.5倍左右。 展开更多
关键词 热电材料 sige合金 硼掺杂 晶粒优化
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带隙法测定SiGe/Si材料的应变状态 被引量:3
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作者 成步文 姚飞 +6 位作者 薛春来 张建国 李传波 毛容伟 左玉华 罗丽萍 王启明 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2005年第9期4350-4353,共4页
从固体模型理论的结果出发,计算了生长于Si(100)衬底上x值小于0.85的Si1-xGex合金材料(能带结构为类Si结构)的间接带隙与应变的关系,结果表明,应变的SiGe材料的带隙和完全弛豫状态下材料的带隙之差与应变呈线性关系.基于这一结果,提出... 从固体模型理论的结果出发,计算了生长于Si(100)衬底上x值小于0.85的Si1-xGex合金材料(能带结构为类Si结构)的间接带隙与应变的关系,结果表明,应变的SiGe材料的带隙和完全弛豫状态下材料的带隙之差与应变呈线性关系.基于这一结果,提出了用测量带隙来间接测定SiGeSi应变状态的方法.用带隙法和x射线双晶衍射法测量了不同应变状态下的SiGeSi多量子阱材料的应变弛豫度,两者可以较好的符合,表明带隙法测量SiGe应变弛豫度是可行的. 展开更多
关键词 sige合金 应变 带隙 sige/SI 合金材料 间接测定 带隙 SI1-XGEX x射线双晶衍射法 SI(100) 应变弛豫
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UHV/CVD硅锗膜的Raman光谱分析 被引量:7
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作者 朱培喻 陈培毅 +4 位作者 黎晨 罗广礼 贾宏勇 刘志农 钱佩信 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2001年第4期464-467,共4页
本文提出一种用Raman光谱测量SiGe合金膜中的锗组分及应变的方法 ,方法是非破坏的。并用这一方法测量了几种不同锗组分和膜厚度的SiGe合金样品 ,它们都是用UHV/CVD设备生长的。其中两个样品还与X 射线双晶衍射的结果作了比较 ,两种方法... 本文提出一种用Raman光谱测量SiGe合金膜中的锗组分及应变的方法 ,方法是非破坏的。并用这一方法测量了几种不同锗组分和膜厚度的SiGe合金样品 ,它们都是用UHV/CVD设备生长的。其中两个样品还与X 射线双晶衍射的结果作了比较 ,两种方法的结果十分一致 ,这说明本文提出的方法是准确可靠的。这些样品用于制作SiGe/Si异质结PMOSFET ,对 0 5 μm沟长器件 ,跨导达 112ms·mm-1。 展开更多
关键词 Raman sige合金 UHV/CVD 弛豫 应变 硅锗膜 拉曼光谱分析 半导体薄膜
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SiGe/Si异质结双极晶体管研究 被引量:6
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作者 李开成 刘道广 +1 位作者 张静 易强 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2000年第3期144-146,共3页
介绍了一种 Si Ge/Si分子束外延异质结双极晶体管 ( HBT)的研制。该器件采用 3μm工艺制作 ,测量得其电流放大系数β为 50 ,截止效率 f T 为 5.1 GHz,表明器件的直流特性和交流特性良好。器件的单片成品率在 90 %以上。
关键词 分子束外延 异质结双极晶体管 锗-硅合金
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Si_(1-X)Ge_X/Si红外光电探测器 被引量:4
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作者 江若琏 罗志云 +8 位作者 陈卫民 臧岚 朱顺明 刘夏冰 程雪梅 陈志忠 韩平 王荣华 郑有斗 《光电子.激光》 EI CAS CSCD 2000年第1期17-19,共3页
本文报导了用两种缓冲层生长技术研制的 Si1- XGe X/ Si异质结 pin型红外探测器。其波长范围为0 .70~ 1.5 5 μm,峰值波长为 0 .96~ 1.0 6 μm,暗电流密度低达 0 .0 3μA/ mm2 ( - 2 V) ,在 1.30 μm处的响应度高达 0 .15 A/ W( - 5 V... 本文报导了用两种缓冲层生长技术研制的 Si1- XGe X/ Si异质结 pin型红外探测器。其波长范围为0 .70~ 1.5 5 μm,峰值波长为 0 .96~ 1.0 6 μm,暗电流密度低达 0 .0 3μA/ mm2 ( - 2 V) ,在 1.30 μm处的响应度高达 0 .15 A/ W( - 5 V) ;讨论了 Ge组分、外延层厚度。 展开更多
关键词 光电探测器 锗化硅合金 红外探测器
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基于小信号等效电路模型的SiGe HBT高频特性模拟分析 被引量:5
6
作者 杨维明 陈建新 +2 位作者 史辰 李振国 高铭洁 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2005年第1期1-4,共4页
给出了fT为15 GHz的SiGe HBT器件的高频小信号等效电路模型;运用微波网络理 论,在Matlab软件平台上模拟出器件的S参数和H21参数曲线,模拟结果与实测结果相吻合;根据 电路的拓扑结构,分析了管壳封装带来的寄生参数对器件高频性能的影响;... 给出了fT为15 GHz的SiGe HBT器件的高频小信号等效电路模型;运用微波网络理 论,在Matlab软件平台上模拟出器件的S参数和H21参数曲线,模拟结果与实测结果相吻合;根据 电路的拓扑结构,分析了管壳封装带来的寄生参数对器件高频性能的影响;根据稳定性判据,计算 了器件的稳定性与工作频率之间的关系。为器件的设计和应用提供了理论依据。 展开更多
关键词 锗硅合金 异质结双极晶体管 电路模型 模拟
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SiGe沟道SOI CMOS的设计及模拟 被引量:1
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作者 李树荣 王纯 +5 位作者 王静 郭维廉 郑云光 郑元芬 陈培毅 黎晨 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2003年第2期214-218,共5页
在 SOI(Silicon on Insulator)结构硅膜上面生长一层 Si Ge合金 ,采用类似 SOICMOS工艺制作成具有Si Ge沟道的 SOICMOS集成电路。该电路不仅具有 SOICMOS电路的优点 ,而且因为 Si Ge中的载流子迁移率明显高于 Si中载流子的迁移率 ,所以... 在 SOI(Silicon on Insulator)结构硅膜上面生长一层 Si Ge合金 ,采用类似 SOICMOS工艺制作成具有Si Ge沟道的 SOICMOS集成电路。该电路不仅具有 SOICMOS电路的优点 ,而且因为 Si Ge中的载流子迁移率明显高于 Si中载流子的迁移率 ,所以提高了电路的速度和驱动能力。另外由于两种极性的 SOI MOSFET都采用 Si Ge沟道 ,就避免了只有 SOIPMOSFET采用 Si Ge沟道带来的选择性生长 Si Ge层的麻烦。采用二维工艺模拟得到了器件的结构 ,并以此结构参数进行了器件模拟。模拟结果表明 ,N沟和 P沟两种 MOSFET的驱动电流都有所增加 。 展开更多
关键词 sige CMOS集成电路 锗—硅合金 锗—硅沟道SOI互补金属—氧化物—半导体 设计
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用气态源分子束外延生长法制备Si/SiGe/Sinpn异质结双极晶体管 被引量:4
8
作者 刘学锋 李晋闽 +3 位作者 孔梅影 黄大定 李建平 林兰英 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2000年第2期142-145,共4页
用气态源分子束外延法制备了Si/SiGe/Sinpn 异质结双极晶体管.晶体管基区Ge 组分为0.12,B掺杂浓度为1.5×1019cm - 3,SiGe合金厚度约45nm .直流特性测试表明,共发射极直流放大倍数约... 用气态源分子束外延法制备了Si/SiGe/Sinpn 异质结双极晶体管.晶体管基区Ge 组分为0.12,B掺杂浓度为1.5×1019cm - 3,SiGe合金厚度约45nm .直流特性测试表明,共发射极直流放大倍数约50,击穿电压VCE约9V;射频特性测试结果表明,晶体管的截止频率为7GHz,最高振荡频率为2.5GHz. 展开更多
关键词 异质结 双极晶体管 锗化硅 外延生长
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SiGe/Si和SGOI材料的Li离子束RBS分析 被引量:1
9
作者 王广甫 刘超 李建平 《中国材料科技与设备》 2006年第3期61-63,共3页
SiGe合金薄膜中的Ge含量度分布对材料的禁带宽度和制作器件的性能有十分重要的影响。本文用Li离子束卢瑟福背散射分析法对SiGe/Si和SiGe-OI材料样品进行了分析。与TEM,SEM、Raman等分析结果进行比较表明,Li离子束RBS分析可同时测量S... SiGe合金薄膜中的Ge含量度分布对材料的禁带宽度和制作器件的性能有十分重要的影响。本文用Li离子束卢瑟福背散射分析法对SiGe/Si和SiGe-OI材料样品进行了分析。与TEM,SEM、Raman等分析结果进行比较表明,Li离子束RBS分析可同时测量SiGe层厚度,Ge含量度其深度分布,Si过渡层和SiO2层厚度,并有较好的测量精度。 展开更多
关键词 sige合金 RBS分析 SGOI
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重掺杂P型Si_(1-x)Ge_x层中少数载流子浓度的低温特性 被引量:1
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作者 张万荣 李志国 +3 位作者 孙英华 程尧海 陈建新 沈光地 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 1999年第5期311-313,共3页
考虑了重掺杂引起的禁带变窄效应,建立起少数载流子室温和低温模型,并进行了定量的计算。研究发现,p-Si1-xGex中的少子浓度(电子)随x的增加而增加。在重掺杂条件下,常温时,少子浓度随杂质浓度的上升而下降;而低温时,少子浓度却随杂质浓... 考虑了重掺杂引起的禁带变窄效应,建立起少数载流子室温和低温模型,并进行了定量的计算。研究发现,p-Si1-xGex中的少子浓度(电子)随x的增加而增加。在重掺杂条件下,常温时,少子浓度随杂质浓度的上升而下降;而低温时,少子浓度却随杂质浓度的上升而上升。 展开更多
关键词 半导体材料 sige合金 低温特性 掺杂
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放电等离子烧结制备Si_(80)Ge_(20)B_(0.6)合金及其热电性能 被引量:1
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作者 赵然 沈丽 +2 位作者 张忻 路清梅 郭福 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2011年第B06期468-469,480,共3页
采用高能球磨与放电等离子烧结相结合的方法制备出了单相Si80Ge20B0.6合金块体热电材料。在400~900K温度范围内对其进行了热电性能测试。粉末冶金法制备的合金内的晶界对载流子形成散射,保温时间较长的试样的电导率明显高于保温时间较... 采用高能球磨与放电等离子烧结相结合的方法制备出了单相Si80Ge20B0.6合金块体热电材料。在400~900K温度范围内对其进行了热电性能测试。粉末冶金法制备的合金内的晶界对载流子形成散射,保温时间较长的试样的电导率明显高于保温时间较短的试样。所有试样的热导率处于2.7~4.5W/(m.K)范围。保温9min的试样在900K时ZT值最高,达到0.47。 展开更多
关键词 sige合金 机械合金化 放电等离子烧结 热电性能
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SiGe沟道SOI结构混合模式晶体管的设计与模拟
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作者 李树荣 刘真 +4 位作者 张生才 王静 郭维廉 郑云光 陈培毅 《天津大学学报(自然科学与工程技术版)》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第6期682-685,共4页
提出采用SiGe沟道SOI结构混合模式晶体管(SiGeSOIBMHMT)构成适合在低电压下工作的新型集成电路,该电路比CMOS电路具有更大的电流驱动能力和更好的性能 对不同导电类型的SiGeSOIBMHMT、SiGeSOIMOSFET、SOIBMHMT和SOIMOSFET器件进行了工... 提出采用SiGe沟道SOI结构混合模式晶体管(SiGeSOIBMHMT)构成适合在低电压下工作的新型集成电路,该电路比CMOS电路具有更大的电流驱动能力和更好的性能 对不同导电类型的SiGeSOIBMHMT、SiGeSOIMOSFET、SOIBMHMT和SOIMOSFET器件进行了工艺模拟和器件模拟,结果表明,SiGeSOIBMHMT由于应变SiGe层中空穴迁移率的提高,阈值电压降低,存在衬底栅极和横向双极晶体管。 展开更多
关键词 sige沟道 SOI结构 混合模式晶体管 设计 SOI MOSFET 动态阈值电压 横中双极晶体管
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用于HBT的SiGe合金材料层的腐蚀工艺研究 被引量:1
13
作者 欧益宏 刘道广 李开成 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2000年第2期76-78,共3页
探索利用反应离子刻蚀 ( RIE)和湿法腐蚀 Si1-x Gex 合金材料的工艺条件。对两种腐蚀方法的利弊进行了对比 ,找出腐蚀 Si1-x Gex 合金材料的实用化途径 ,并且解决了不同 Ge含量的 Si1-x Gex
关键词 硅-锗合金 反应离子刻蚀 异质结 双极晶体管
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应变SiGe层中本征载流子浓度的计算 被引量:2
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作者 赵传阵 唐吉玉 +2 位作者 文于华 吴靓臻 孔蕴婷 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2007年第4期449-451,467,共4页
采用解析的方法研究了应变Si_(1-x)Ge_x层中本征载流子浓度n_i与Ge组分x、温度T、掺杂浓度N的定量依赖关系;拟合了价带有效态密度公式和重掺杂禁带变窄公式。发现在一定掺杂浓度下,本征载流子浓度随Ge组分的增加而变大,并且本征载流子... 采用解析的方法研究了应变Si_(1-x)Ge_x层中本征载流子浓度n_i与Ge组分x、温度T、掺杂浓度N的定量依赖关系;拟合了价带有效态密度公式和重掺杂禁带变窄公式。发现在一定掺杂浓度下,本征载流子浓度随Ge组分的增加而变大,并且本征载流子浓度增加的速度越来越快。在一定Ge组分下,本征载流子浓度随掺杂浓度的增加而变大。随着掺杂浓度的增加,本征载流子浓度的增长速度变得越来越缓慢。 展开更多
关键词 锗硅合金 应变 有效态密度 本征载流子浓度 掺杂浓度
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SiGe HBT中雪崩击穿效应对电流电压特性的影响 被引量:1
15
作者 钱伟 金晓军 +3 位作者 张进书 陈培毅 林惠胜 钱佩信 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第8期120-122,138,共4页
本文分析和计算了基区不同Ge含量的器件在碰撞电离和雪崩击穿效应下的电流和电压特性,结果表明,在其它参数相同的条件下,基区Ge含量越高的器件,虽然直流增益得到很大提高,但伴随着器件更容易发生载流子碰撞电离引起的基极电流反向... 本文分析和计算了基区不同Ge含量的器件在碰撞电离和雪崩击穿效应下的电流和电压特性,结果表明,在其它参数相同的条件下,基区Ge含量越高的器件,虽然直流增益得到很大提高,但伴随着器件更容易发生载流子碰撞电离引起的基极电流反向和大注入下的基区push-out效应,同时器件共射击穿电压BVCEO也会大大的降低.由于在不同的电路中对器件的性能要求是不同的。 展开更多
关键词 异质结构 双极晶体管 雪崩击穿 锗化硅合金
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室温下硅与硅锗合金的热电性能研究 被引量:1
16
作者 井群 司海刚 +1 位作者 张世华 王渊旭 《河南大学学报(自然科学版)》 CAS 北大核心 2010年第5期464-467,共4页
采用第一性原理方法研究在温度为300 K时,硅单质和两种锗组分不同的硅锗合金的热电性能,发现虽然硅的热电功率因子S2σ较大,但由于其热导率也高,故不是良好的热电材料,但若与其同族的元素锗形成合金,就可使材料的热导率得到显著下降,伴... 采用第一性原理方法研究在温度为300 K时,硅单质和两种锗组分不同的硅锗合金的热电性能,发现虽然硅的热电功率因子S2σ较大,但由于其热导率也高,故不是良好的热电材料,但若与其同族的元素锗形成合金,就可使材料的热导率得到显著下降,伴随而来的载流子迁移率的下降则远不如热导率明显,从而可获得较大的热电优值,而且在硅锗合金中锗含量不同时,热电优值也会有变化. 展开更多
关键词 热电材料 硅锗合金 热电优值 输运性质
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硅锗合金Seebeck系数影响因素的研究 被引量:2
17
作者 索开南 张维连 +1 位作者 赵嘉鹏 周子鹏 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第3期578-583,共6页
作为一种洁净能源,硅锗合金的热电转换性能的研究越来越受到人们的重视。本文重点研究了不同Ge浓度的硅锗合金以及Si、Ge单晶在300~1100K温度范围内,Seebeck系数随温度的变化。并对组分相同导电类型不同、晶向不同以及结晶状态不同的... 作为一种洁净能源,硅锗合金的热电转换性能的研究越来越受到人们的重视。本文重点研究了不同Ge浓度的硅锗合金以及Si、Ge单晶在300~1100K温度范围内,Seebeck系数随温度的变化。并对组分相同导电类型不同、晶向不同以及结晶状态不同的样品的Seebeck系数进行了比较。在研究温度区间,Seebeck系数的绝对值大小一般在200~600μV/K之间,随温度不同连续变化。通过对比发现SiGe合金的Seebeck系数大小不仅与Ge的浓度和温度有关,其他因素对其绝对值也有影响,其中晶向最为明显,表现出了明显的各向异性。此外,材料本身的电阻率除了作为一个热电参数影响最优值外,其大小还对Seebeck系数的绝对值有影响,即掺杂济浓度对Seebeck系数的影响。 展开更多
关键词 SEEBECK系数 硅锗合金 热电材料 各向异性 热电转换
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Thermoelectric Properties of Czochralski GeSi Crystal
18
作者 索开南 张维连 +2 位作者 林健 赵嘉鹏 周子鹏 《Chinese Journal of Structural Chemistry》 SCIE CAS CSCD 北大核心 2007年第10期1247-1251,共5页
In order to discuss the application possibility of SiGe crystal in thermoelectric materials, we investigated the thermoelectric properties of several silicon-germanium alloys with different content, orientation and el... In order to discuss the application possibility of SiGe crystal in thermoelectric materials, we investigated the thermoelectric properties of several silicon-germanium alloys with different content, orientation and electric conductive type. As discussed in the experiment result, the absolute value of Seebeck coefficient fluctuates from 300 to 600 μV/K in the whole temperature range. In the present paper, the relationship of Seebeck coefficient against content, orientation and electric conductive type is summarized in detail. The Seebeck coefficient of the sample with 〈111〉 orientation is smaller than that in 〈100〉 at the same temperature. Absolute value of P-type is larger than that of N-type except pure Ge. But as the temperature increases, the absolute value of pure Ge decreases many times as quickly as that of other specimens. In addition, the specimens of bulk GeSi alloy crystals for experiment were grown by the Czoehralski method through varying the pulling rate during the growing process. 展开更多
关键词 sige alloy single crystal thermoelectric properties Seebeck coefficient
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Theoretical Investigation of Electronic and Optical Properties of Si/SiGe Quantum Cascade Structures
19
作者 Khadidja Zellat Belabbes Soudini Salah Mohamed Ait Cheikh 《Advances in Materials Physics and Chemistry》 2013年第1期19-24,共6页
This paper reviews the basic properties of the SiGe alloy, presents some new results on its electronic and optical properties, and discusses the approach that has been followed to model quantum wells containing SiGe l... This paper reviews the basic properties of the SiGe alloy, presents some new results on its electronic and optical properties, and discusses the approach that has been followed to model quantum wells containing SiGe layers for applications in quantum cascade lasers. The shape of the confining potential, the subband energies and their eigen envelope wave functions are calculated by solving a one-dimensional Schr?dinger equation. The calculations of optical parameters are used to optimize the Si/SiGe quantum cascade structures. Our results are found to be in good agreement with other calculations. 展开更多
关键词 sige alloy Electronic and Optical Properties QUANTUM CASCADE LASERS (QCLs)
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压应变SiGe和张应变Si的能带结构研究
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作者 周志文 叶剑锋 李世国 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2016年第1期1-5 59,共6页
根据体Si和体Ge的能带结构特点,基于形变势理论,计算了SiGe合金的应变对其能级的影响。静压应变导致能级偏移,单轴应变导致简并能级分裂,使得应变SiGe合金的禁带宽度随应变的增加而减小。共度生长在体Si衬底上的SiGe合金,以及共度生长在... 根据体Si和体Ge的能带结构特点,基于形变势理论,计算了SiGe合金的应变对其能级的影响。静压应变导致能级偏移,单轴应变导致简并能级分裂,使得应变SiGe合金的禁带宽度随应变的增加而减小。共度生长在体Si衬底上的SiGe合金,以及共度生长在体SiGe衬底上的Si,它们的禁带宽度随Ge组份的增加近乎线性减小。完全压应变的Si_(0.5)Ge_(0.5)合金,其禁带宽度从无应变时的0.93eV减小为0.68eV。Ge组份为0.5时,完全张应变的Si,其禁带宽度从无应变时的1.12eV减小为0.85eV。 展开更多
关键词 sige合金 应变 能带结构 形变势理论
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