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4H-SiC MOS电容栅介质经NO退火电流导通机理研究 被引量:1
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作者 刘莉 杨银堂 《北京理工大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2017年第5期497-500,共4页
本文对进行NO退火和非NO退火的SiC MOS电容的栅泄漏电流的导通机理进行了分析,研究表明在高场下经过NO退火和未经过NO退火的样品的栅泄露电流都由Fowler-Nordheim(FN)隧穿决定,经过NO退火的势垒高度为2.67eV,而未经过NO退火的样品势垒... 本文对进行NO退火和非NO退火的SiC MOS电容的栅泄漏电流的导通机理进行了分析,研究表明在高场下经过NO退火和未经过NO退火的样品的栅泄露电流都由Fowler-Nordheim(FN)隧穿决定,经过NO退火的势垒高度为2.67eV,而未经过NO退火的样品势垒高度为2.54eV,势垒高度的增加说明了氮化的作用.在中度电场区域,通过拟合分析发现此区域的栅泄漏电流主要由Poole-Frenkel发射(PF)决定,并不受陷阱辅助隧穿trap assisted tunneling(TAT)的影响.同时C-V特性也明显看出NO退火对界面质量的影响. 展开更多
关键词 sic mos NO退火 栅泄漏电流导通机理
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SiC MOS在有源功率因数校正电路中的应用
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作者 韩芬 《工业仪表与自动化装置》 2023年第5期112-114,共3页
为了提高开关电源的工作频率,降低开关损耗,减少电磁污染等,采用第三代半导体功率器件SiC MOS代替传统的Si MOS,同时采用有源功率因数校正技术来提高开关电源的利用率。该文分析了整个电路的工作原理,利用Matlab仿真软件对电路进行了仿... 为了提高开关电源的工作频率,降低开关损耗,减少电磁污染等,采用第三代半导体功率器件SiC MOS代替传统的Si MOS,同时采用有源功率因数校正技术来提高开关电源的利用率。该文分析了整个电路的工作原理,利用Matlab仿真软件对电路进行了仿真。仿真结果表明,在开关电源中使用SiC MOS可以提高开关频率,降低开关损耗,提高电源的利用率。功率因数可达0.998以上,负载上输出的直流电压稳定,纹波电压误差小。 展开更多
关键词 sic mos 开关电源 功率因数校正 开关损耗
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不同栅氧退火工艺下的SiC MOS电容及其界面电学特性
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作者 付兴中 刘俊哲 +4 位作者 薛建红 尉升升 谭永亮 王德君 张力江 《半导体技术》 CAS 北大核心 2025年第1期32-38,共7页
SiC MOS电容的电学特性和栅氧界面特性是评价和改进SiC MOS器件制造工艺的重要依据。通过依次测试SiC MOS器件的氧化物绝缘特性、界面态密度、偏压温度应力不稳定性(偏压温度应力条件下的平带电压漂移)、氧化物陷阱电荷密度和可动电荷... SiC MOS电容的电学特性和栅氧界面特性是评价和改进SiC MOS器件制造工艺的重要依据。通过依次测试SiC MOS器件的氧化物绝缘特性、界面态密度、偏压温度应力不稳定性(偏压温度应力条件下的平带电压漂移)、氧化物陷阱电荷密度和可动电荷密度的方法,对分别经过氮等离子体氧化后退火(POA)处理、氮氢混合等离子体POA处理、氮氢氧混合等离子体POA处理、氮氢氯混合等离子体POA处理的SiC MOS电容的电学特性和栅氧界面特性进行了分析。结果表明,该方法可以系统地评价SiC MOS电容电学特性和栅氧界面特性,经过氮氢氯混合等离子体POA处理的SiC MOS电容可以满足高温、大场强下长期运行的性能指标。 展开更多
关键词 sic mos电容 氧化后退火(POA) 平带电压漂移 氧化物陷阱电荷 可动电荷
6H-Sic MOS结构电特性及其辐照效应的研究 被引量:4
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作者 尚也淳 张义门 +1 位作者 张玉明 刘忠立 《电子与信息学报》 EI CSCD 北大核心 2003年第3期389-394,共6页
对SiC MOS结构辐照引起的电参数退化及其电特性进行了研究。结果说明:在氧化层电场较高时Fowler-Nordheim隧穿电流决定着SiC MOS结构的漏电流,当幅照栅偏压为高的正电压时,电离幅照对SiC MOS电容的影响会更明显,SiC MOS器件比Si器件具... 对SiC MOS结构辐照引起的电参数退化及其电特性进行了研究。结果说明:在氧化层电场较高时Fowler-Nordheim隧穿电流决定着SiC MOS结构的漏电流,当幅照栅偏压为高的正电压时,电离幅照对SiC MOS电容的影响会更明显,SiC MOS器件比Si器件具有好的抗γ辐照的能力,在58kGy(Si)的辐照剂量下,其平带电压漂移不超过2V。 展开更多
关键词 6H-sic mos结构 电特性 辐照效应 平带电压 退火 漏电流
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电子辐照对4H-SiC MOS材料缺陷的影响
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作者 刘帅 熊慧凡 +3 位作者 杨霞 杨德仁 皮孝东 宋立辉 《人工晶体学报》 CAS 北大核心 2024年第9期1536-1541,共6页
4H-SiC金属氧化物半导体(MOS)基器件在电子辐照环境下应用时可能产生新的材料缺陷,导致其电学性能发生退化。本文选取结构最简单的MOS基器件(4H-SiC MOS电容器)为对象,研究了一系列电子辐照剂量下材料缺陷的演变情况。在10 MeV电子束下... 4H-SiC金属氧化物半导体(MOS)基器件在电子辐照环境下应用时可能产生新的材料缺陷,导致其电学性能发生退化。本文选取结构最简单的MOS基器件(4H-SiC MOS电容器)为对象,研究了一系列电子辐照剂量下材料缺陷的演变情况。在10 MeV电子束下对MOS样品进行30、50、100、500、1 000 kGy剂量的辐照,对辐照前、后样品进行深能级瞬态谱测试(DLTS)和电容-电压(C-V)曲线表征。DLTS实验结果表明,低剂量电子辐照前、后4H-SiC/SiO_(2)界面及近界面处的缺陷没有发生明显变化,而高剂量辐照导致双碳间隙原子缺陷的构型发生了改变,演变后的构型能级位置更深,化学结构更加稳定。C-V曲线测试结果发现,不同电子辐照剂量导致MOS电容器平带电压发生不同程度的负向漂移,这很可能是SiO_(2)氧化层中氧空位数量和4H-SiC/SiO_(2)界面及近界面处缺陷数量共同影响的结果。本文研究结果对研发和优化抗电子辐照的4H-SiC MOS制备工艺具有一定的参考价值。 展开更多
关键词 4H-sic mos 电子辐照 缺陷变化 双碳间隙原子 深能级瞬态谱
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4H-SiC基功率器件的high-k栅介质材料研究进展
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作者 刘帅 宋立辉 +1 位作者 杨德仁 皮孝东 《人工晶体学报》 CAS 北大核心 2024年第12期2027-2042,共16页
金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)作为碳化硅绝缘栅结构的典型器件被广泛使用,然而SiO_(2)介电常数低的缺点和SiO_(2)/4H-SiC界面特性差的问题一直制约着4H-SiC绝缘栅结构(金属-绝缘体-半导体,MIS)器件更大规模商业化应用,因此科... 金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)作为碳化硅绝缘栅结构的典型器件被广泛使用,然而SiO_(2)介电常数低的缺点和SiO_(2)/4H-SiC界面特性差的问题一直制约着4H-SiC绝缘栅结构(金属-绝缘体-半导体,MIS)器件更大规模商业化应用,因此科研工作者一直致力于寻找能够替代或弥补SiO_(2)的high-k栅介质材料。本文对该科学问题的研究现状进行综述,首先指出合适的high-k栅介质材料应该拥有较宽的禁带宽度、较高的介电常数、良好的界面特性和热稳定性。然后,主要从栅薄膜制备工艺、沉积温度、栅介质界面特性和电学性能等方面对典型high-k栅介质材料的研究结果进行评价,包括氧化铪(HfO_(2))、氧化铝(Al_(2)O_(3))、氮化铝(AlN)、氧化钇(Y_(2)O_(3))、氧化铈(CeO_(2))、氧化锆(ZrO_(2))、氧化镧(La_(2)O_(3))、五氧化二钽(Ta_(2)O_(5))、钛酸钡(BaTiO_(3))、氧化钬(Ho_(2)O_(3))和由它们组合而成的堆栈栅介质。最后,对未来该领域的研究方向进行了展望和建议,例如对栅漏电流机理的研究、对新材料的更多尝试、器件在极端环境下的可靠性问题等。 展开更多
关键词 4H-sic mos电容器 high-k栅介质材料 堆栈栅介质 界面特性 电学性能
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Effect of post oxidation annealing in nitric oxide on interface properties of 4H-SiC/SiO_2 after high temperature oxidation 被引量:1
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作者 李妍月 邓小川 +4 位作者 刘云峰 赵艳黎 李诚瞻 陈茜茜 张波 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 2015年第9期58-61,共4页
The interface properties of 4H-SiC metal oxide semiconductor (MOS) capacitors with post-oxidation annealing (POA) in nitric oxide (NO) ambient after high temperature (1300 ℃) oxidation have been investigated ... The interface properties of 4H-SiC metal oxide semiconductor (MOS) capacitors with post-oxidation annealing (POA) in nitric oxide (NO) ambient after high temperature (1300 ℃) oxidation have been investigated using capacitance-voltage (C V) measurements. The experimental results show that the interface states density (Dit) can be obviously decreased by the POA in NO ambient (NO-POA) and further reduced with increasing POA temperature and time. In the meantime significant reduction of the interface states density and oxidation time can be achieved at the higher thermal oxidation temperature, which results in the better oxide MOS characteristics and lower production costs. The dependence of Dit on POA temperature and time has been also discussed in detail. 展开更多
关键词 C-V characteristics 4H-sic mos post-oxidation annealing sic/SiO2
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4H型碳化硅高温氧化工艺研究 被引量:1
8
作者 钮应喜 黄润华 +7 位作者 杨霏 汪玲 陈刚 陶永洪 刘奥 柏松 李赟 赵志飞 《智能电网》 2016年第6期546-549,共4页
在4H型碳化硅导电衬底上进行N型外延层生长,并对外延层表面进行化学机械抛光;通过高温氧化的方法在表面生成氧化层,并且在NO中进行退火;在此之后,加工碳化硅MOS电容和LMOS;通过C-V测试的方法对Si O2/Si C界面特性进行评估;通过测试的方... 在4H型碳化硅导电衬底上进行N型外延层生长,并对外延层表面进行化学机械抛光;通过高温氧化的方法在表面生成氧化层,并且在NO中进行退火;在此之后,加工碳化硅MOS电容和LMOS;通过C-V测试的方法对Si O2/Si C界面特性进行评估;通过测试的方法对LMOS的场效应迁移率和MOS的击穿电压分布情况进行分析。结果表明,经过表面抛光可大大改善表面形貌,在一定程度上抑制界面态的产生,并且改善沟道导电的一致性。 展开更多
关键词 4H型碳化硅 界面态 碳化硅mos电容 可靠性
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Energy-band alignment of atomic layer deposited(HfO_2)_x(Al_2O_3)_(1-x) gate dielectrics on 4H-SiC
9
作者 贾仁需 董林鹏 +5 位作者 钮应喜 李诚瞻 宋庆文 汤晓燕 杨霏 张玉明 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2015年第3期408-411,共4页
We study a series of(HfO2)x(Al2O3)1-x /4H-SiC MOS capacitors. It is shown that the conduction band offset of HfO2 is 0.5 e V and the conduction band offset of Hf AlO is 1.11–1.72 e V. The conduction band offsets... We study a series of(HfO2)x(Al2O3)1-x /4H-SiC MOS capacitors. It is shown that the conduction band offset of HfO2 is 0.5 e V and the conduction band offset of Hf AlO is 1.11–1.72 e V. The conduction band offsets of(Hf O2)x(Al2O3)1-x are increased with the increase of the Al composition, and the(HfO2)x(Al2O3)1-x offer acceptable barrier heights(〉 1 e V)for both electrons and holes. With a higher conduction band offset,(Hf O2)x(Al2O3)1-x/4H-SiC MOS capacitors result in a ~ 3 orders of magnitude lower gate leakage current at an effective electric field of 15 MV/cm and roughly the same effective breakdown field of ~ 25 MV/cm compared to HfO2. Considering the tradeoff among the band gap, the band offset, and the dielectric constant, we conclude that the optimum Al2O3 concentration is about 30% for an alternative gate dielectric in 4H-Si C power MOS-based transistors. 展开更多
关键词 energy-band alignment high k gate dielectrics 4H-sic mos capacitor
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业界首家:二极管SiC-MOS模块发布
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作者 赵佶 《半导体信息》 2013年第1期15-17,共3页
特点:1)MOS单体即可保持开关特性不变。无尾电流,开关损耗更低即使去掉sbd亦可实现与以往产品同等的开关特性。由于不会产生Si-IGBT中常见的尾电流,损耗可降低50%以上,有助于设备更加节能。另外,达到了Si-IGBT无法达到的50 khz以上的开... 特点:1)MOS单体即可保持开关特性不变。无尾电流,开关损耗更低即使去掉sbd亦可实现与以往产品同等的开关特性。由于不会产生Si-IGBT中常见的尾电流,损耗可降低50%以上,有助于设备更加节能。另外,达到了Si-IGBT无法达到的50 khz以上的开关频率,因此,还可实现外围设备的小型化、 展开更多
关键词 开关特性 开关损耗 sic-mos 导通电阻 同步整流 逆变器 TRANSISTOR 正向电压 低电
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Comparison of effect of SiC and MoS2 on wear behavior of Al matrix composites 被引量:8
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作者 Mohammad ROUHI Mohammad MOAZAMI-GOUDARZI Mohammad ARDESTANI 《Transactions of Nonferrous Metals Society of China》 SCIE EI CAS CSCD 2019年第6期1169-1183,共15页
In order to improve dry sliding wear resistance of pure aluminum against steel, aluminum-based composites reinforced with different contents of SiC,MoS2 and SiC/MoS2 particles were synthesized by press and sintering o... In order to improve dry sliding wear resistance of pure aluminum against steel, aluminum-based composites reinforced with different contents of SiC,MoS2 and SiC/MoS2 particles were synthesized by press and sintering of the corresponding powder mixtures. The microstructural evaluations showed a dense microstructure which were in good agreement with the result of density and hardness measurements. The results of pin on disk wear tests performed against an AISI 52100 steel pin at a constant load and sliding velocity showed that there was a critical content for both types of the reinforcements at which the lowest wear rate was obtained, i.e. 10 vol.% and 2 vol.%, respectively,for Al/SiC and Al/MoS2 composites. However,the lowest wear rate and friction of coefficient were attained for Al/10 SiC/2 MoS2 hybrid composite. According to the scanning electron microscope observations, the predominant wear mechanism was changed from adhesion to abrasion mostly whenMoS2 particles were incorporated in the pure aluminum. Mild delamination was identified as the main wear mechanism for Al/SiC and Al/SiC/MoS2 composites. The frictional traces and worn surfaces of Al/SiC/MoS2 composites approached to those of Al/SiC composites,indicating the dominant role of SiC particles in tribological behavior of the hybrid composites. 展开更多
关键词 Al/sic/mos2 composites microstructure wear mechanism FRICTION
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电流密度和施镀温度对铝合金表面Ni-SiC-MoS_2复合镀层显微组织的影响 被引量:7
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作者 雷钰 闫莹雪 田晓东 《表面技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2018年第2期231-235,共5页
目的研究电镀工艺参数中的电流密度和施镀温度对铝合金表面Ni-Si C-MoS_2复合镀层组织形貌及成分的影响。方法利用复合电镀的方法在铝合金上制备Ni-Si C-MoS_2复合镀层。通过扫描电子显微镜、能谱仪以及显微硬度仪,分析不同电流密度和... 目的研究电镀工艺参数中的电流密度和施镀温度对铝合金表面Ni-Si C-MoS_2复合镀层组织形貌及成分的影响。方法利用复合电镀的方法在铝合金上制备Ni-Si C-MoS_2复合镀层。通过扫描电子显微镜、能谱仪以及显微硬度仪,分析不同电流密度和施镀温度下复合镀层的组织结构、成分、界面之间的结合情况以及显微硬度。结果电流密度为4 A/dm2时,镀层与基体的结合差,镀层表面粗糙不平;当电流密度增加到5 A/dm2时,镀层与基体结合紧密,并且镀层表面平整;当电流密度增大到6 A/dm2时,镀层表面平整度变差。施镀温度为40℃时,镀层厚度较薄;施镀温度为50℃时,镀层与基体结合良好,镀层表面平整;当施镀温度上升到60℃时,镀层与基体结合处出现裂纹,镀层质量下降。随电流密度和施镀温度的升高,镀层中Si C和MoS_2摩尔分数先增加后减小,显微硬度先增大后减小。结论采用复合电镀的方法在铝合金表面可以制备出Ni-Si C-MoS_2复合镀层,当电流密度为5 A/dm2、施镀温度为50℃时,制备出的Ni-Si C-MoS_2复合镀层表面平整,厚度均匀,Si C与MoS_2摩尔分数可分别达到10.40%和0.77%。复合镀层的显微硬度与其Si C含量成正比,最高可达357.7HV0.01,是基体合金硬度的3.7倍。 展开更多
关键词 电镀 Ni-sic-mos2复合镀层 电流密度 施镀温度 微观形貌 成分 显微硬度
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Ni-P-SiC-MoS_2化学复合镀工艺 被引量:4
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作者 杜春平 刘锦云 +1 位作者 魏真 张慧 《电镀与涂饰》 CAS CSCD 2008年第1期17-19,共3页
研究了Ni-P-SiC-MoS2化学复合镀工艺,给出了化学复合镀液成分及实验方案,讨论了温度及表面活性剂质量浓度对化学复合镀速、镀层与基体的结合强度和镀层硬度的影响。实验结果表明,当施镀温度为90°C,表面活性剂质量浓度为60mg/L时,... 研究了Ni-P-SiC-MoS2化学复合镀工艺,给出了化学复合镀液成分及实验方案,讨论了温度及表面活性剂质量浓度对化学复合镀速、镀层与基体的结合强度和镀层硬度的影响。实验结果表明,当施镀温度为90°C,表面活性剂质量浓度为60mg/L时,镀速最快,镀层与基体的结合强度较好,镀层显微硬度可达684HV。 展开更多
关键词 Ni-P-sicmos2 化学复合镀 表面活性剂 结合力
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纳米SiC-MoS_2/Ni基复合电刷镀层组织与耐磨性能 被引量:3
14
作者 丁元柱 王研 《材料开发与应用》 CAS 2010年第6期44-47,共4页
通过对纳米SiC颗粒进行表面修饰处理,采用电刷镀技术制备纳米SiC-MoS2/Ni基复合刷镀层,分析探讨了纳米SiC和MoS2的含量对镀层形貌和耐磨性能的影响。结果表明,镀液中加入经表面修饰的纳米SiC颗粒可以提高镀层硬度,同时在干滑动磨损试验... 通过对纳米SiC颗粒进行表面修饰处理,采用电刷镀技术制备纳米SiC-MoS2/Ni基复合刷镀层,分析探讨了纳米SiC和MoS2的含量对镀层形貌和耐磨性能的影响。结果表明,镀液中加入经表面修饰的纳米SiC颗粒可以提高镀层硬度,同时在干滑动磨损试验条件下,纳米SiC-MoS2复合刷镀层具有良好的耐磨减摩性能。 展开更多
关键词 电刷镀 复合镀层 纳米sic-mos2
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激光熔覆SiC-MoS_2铁基合金覆层的组织与摩擦学性能 被引量:2
15
作者 李爱农 刘哲 +2 位作者 王华君 谭国伟 毛星 《热加工工艺》 CSCD 北大核心 2015年第16期1-6,共6页
采用激光熔覆方法,在45钢基体上制备了以HD钢(4Cr3Mo2VNiNb)成分为主的铁基合金粘结相(简称HD-1)、SiC-MoS2为颗粒相的覆层材料,运用OM、电子探针(BEI、EDS)、XRD、显微硬度及球盘式摩擦磨损试验等方法分析研究了覆层的显微组织结构与... 采用激光熔覆方法,在45钢基体上制备了以HD钢(4Cr3Mo2VNiNb)成分为主的铁基合金粘结相(简称HD-1)、SiC-MoS2为颗粒相的覆层材料,运用OM、电子探针(BEI、EDS)、XRD、显微硬度及球盘式摩擦磨损试验等方法分析研究了覆层的显微组织结构与力学性能。研究表明,HD-1粉末熔覆层的晶粒细小,显微组织主要由含过饱和碳的α-Fe(Cr、Ni、Mn、Mo等)固溶体及其网状残余奥氏体组成;添加SiC-MoS2颗粒相后,混合覆层组织中残余奥氏体沿晶界呈断续网状分布,还均布着细小的金属硫化物(CrS)颗粒。与HD-1纯粘结相覆层比较,添加颗粒相后覆层的硬度值有不同程度提高,覆层最高硬度值(807HV0.2)较HD-1覆层提高约20%;混合覆层的摩擦系数值明显降低,覆层最低摩擦系数值(0.135)较HD-1覆层降低约39%;混合覆层的最小体积磨损率(0.90×10-3mm-3/m)较HD-1覆层减小了40%。从兼顾覆层的耐磨、减摩和高硬度性能考虑,最优覆层的推荐制备参数为铁基合金HD-1加3%SiC-1.5%MoS2、激光扫描速度16mm/s。 展开更多
关键词 激光熔覆 sic-mos2 铁基合金覆层 显微组织 摩擦学性能
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Ni-P-SiC-MoS_2化学复合镀层的组织结构及耐磨性能 被引量:3
16
作者 杜春平 《材料保护》 CAS CSCD 北大核心 2013年第2期48-50,68,共3页
在Ni-P化学镀液中添加第二相粒子可提高镀层性能,但目前已有的此类研究中镀层性能还不甚理想。在35CrNi钢基体上沉积了Ni-P-SiC-MoS2复合镀层,借助扫描电镜(SEM)、能谱仪、显微硬度计、磨损试验机等分析了复合镀层的表面形貌、成分、硬... 在Ni-P化学镀液中添加第二相粒子可提高镀层性能,但目前已有的此类研究中镀层性能还不甚理想。在35CrNi钢基体上沉积了Ni-P-SiC-MoS2复合镀层,借助扫描电镜(SEM)、能谱仪、显微硬度计、磨损试验机等分析了复合镀层的表面形貌、成分、硬度及耐磨性。结果表明:Ni-P-SiC-MoS2镀层为非晶态结构;镀层硬度随SiC和MoS2混合微粒含量的增加而增加,随热处理温度的升高先升后略降;添加SiC和MoS2的混合微粒6g/L的镀层摩擦磨损性能最好。 展开更多
关键词 化学复合镀 Ni-P—sicmos2镀层 硬度 摩擦磨损性能
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微纳米SiC-MoS_2/Ni基复合电刷镀层微观组织与耐磨性能
17
作者 薛永超 王研 《黑龙江科技信息》 2011年第33期6-6,共1页
通过对微纳米SiC颗粒进行表面修饰处理,采用电刷镀技术制备微纳米SiC-MoS2/Ni基复合刷镀层。通过单因素试验和正交试验,分析研究微纳米SiC和MoS2的含量对镀层形貌和耐磨性能的影响。结果表明:镀液中加入经表面修饰的微纳米SiC颗粒可以... 通过对微纳米SiC颗粒进行表面修饰处理,采用电刷镀技术制备微纳米SiC-MoS2/Ni基复合刷镀层。通过单因素试验和正交试验,分析研究微纳米SiC和MoS2的含量对镀层形貌和耐磨性能的影响。结果表明:镀液中加入经表面修饰的微纳米SiC颗粒可以提高镀层硬度;同时在干滑动磨损试验条件下,微纳米SiC-MoS2复合刷镀层具有良好的耐磨减摩性能。 展开更多
关键词 表面修饰 电刷镀 复合镀层 微纳米sicmos2
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