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The effects of drain scatterings on the electron transport properties of strained-Si diodes with ballistic and non-ballistic channels
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作者 亚森江.吾甫尔 买买提明.艾尼 +1 位作者 买买提热夏提.买买提 阿不都克里木.阿不都热合曼 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 2015年第4期51-56,共6页
The effects of multiple scattering on the electron transport properties in drain regions are numerically investigated for the cases of strained-Si diodes with or without scattering in the channel. The performance of n... The effects of multiple scattering on the electron transport properties in drain regions are numerically investigated for the cases of strained-Si diodes with or without scattering in the channel. The performance of non- ballistic (with scattering) channel Si-diodes is compared with that of ballistic (without scattering) channel Si-diodes, using the strain and scattering model. Our results show that the values of the electron velocity and the current in the strain model are higher than the respective values in the unstrained model, and the values of the velocity and the current in the ballistic channel model are higher than the respective values in the non-ballistic channel model. In the strain and scattering models, the effect of each carrier scattering mechanism on the performance of the Si- diodes is analyzed in the drain region. For the ballistic channel model, our results show that inter-valley optical phonon scattering improves device performance, whereas intra-valley acoustic phonon scattering degrades device performance. For the strain model, our results imply that the larger energy splitting of the strained Si could suppress the inter-valley phonon scattering rate. In conclusion, for the drain region, investigation of the strained-Si and scattering mechanisms are necessary, in order to improve the performance of nanoscale ballistic regime devices. 展开更多
关键词 strain scattering ballistic channel si-diode Monte Carlo simulation
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沟道和漏极散射机制对短沟道应变硅二极管性能的影响
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作者 亚森江.吾甫尔 买买提明.艾尼 +1 位作者 买买提热夏提.买买提 阿布都克力木.阿布都热合曼 《材料导报(纳米与新材料专辑)》 EI 2015年第1期106-110,117,共6页
新材料应变硅已成为目前高性能小尺寸半导体器件的研究热点,研究应变硅器件散射机制有利于理解载流子输运特性的物理机制。因此沟道和漏极区域分别建立了应变模型和散射模型,采用数值模拟方法对比研究了短沟道应变硅二极管中电子的输运... 新材料应变硅已成为目前高性能小尺寸半导体器件的研究热点,研究应变硅器件散射机制有利于理解载流子输运特性的物理机制。因此沟道和漏极区域分别建立了应变模型和散射模型,采用数值模拟方法对比研究了短沟道应变硅二极管中电子的输运特性。模拟结果表明,对于漏极区域中的散射模型,非弹性散射均促使器件的性能增强,而弹性散射则导致器件性能衰弱,这是由于应变诱导的能级分裂束缚了光学声子散射;相对于沟道区域,漏极区域的应变模型和散射机制对于短沟道硅二极管性能的影响较大。因此,对于短沟道半导体器件,除了探讨沟道区域应变和散射机制之外还需要分析漏极区域应变和散射机制的影响。 展开更多
关键词 应变 散射 沟道和漏极区域 硅二极管 蒙特卡洛模拟方法
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BESIII剂量率在线检测和保护系统读出电子学设计 被引量:7
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作者 杨世明 龚光华 +1 位作者 邵贝贝 李金 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2006年第4期434-437,共4页
为保护束流管,BESIII将使用PIN硅光电二极管来实时检测对撞点附近的剂量率水平,其中的信号读出电子学采用电流A/D转换方案。对几种弱电流放大与测量方法进行了比较,主要介绍了电流A/D方法的工作原理、软硬件实现以及实际性能。
关键词 A/D转换 积分放大器 DDC112 PIN硅光电二级管
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硅光电二极管飞秒激光损伤的实验研究 被引量:5
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作者 罗福 辛建婷 +1 位作者 李玉同 李英骏 《应用激光》 CSCD 北大核心 2003年第6期345-347,共3页
对 6 0飞秒 80 0nm激光辐照下硅PIN光电二极管的信号饱和、损伤及失效进行了实验测量。实验得到硅PIN光电二极管的失效阈值为 1.2J/cm2 ,损伤阈值比失效阈值低一个量级。飞秒脉冲辐照后 ,存在 10 -4s量级的饱和时间 ,辐照后对信号光的... 对 6 0飞秒 80 0nm激光辐照下硅PIN光电二极管的信号饱和、损伤及失效进行了实验测量。实验得到硅PIN光电二极管的失效阈值为 1.2J/cm2 ,损伤阈值比失效阈值低一个量级。飞秒脉冲辐照后 ,存在 10 -4s量级的饱和时间 ,辐照后对信号光的响应在短时间内出现不规则变化 ,在长时间内随脉冲能量密度增大而降低。 展开更多
关键词 激光辐照 硅光电二极管 信号饱和 损伤 失效阈值 飞秒激光
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PIN半导体剂量率探测器的研究 被引量:3
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作者 杨世明 李金 +1 位作者 宫辉 邵贝贝 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2007年第2期310-312,218,共4页
利用大面积PIN硅光电二极管作为探测器,对北京正负电子对撞机BEPCI在同步辐射运行、束流注入、束流切断等情况下对撞区的辐射水平进行测量,并分析辐射本底的强度、来源及特点;研究PIN半导体探测器在BEPCI对撞区的工作状况,为第三代北京... 利用大面积PIN硅光电二极管作为探测器,对北京正负电子对撞机BEPCI在同步辐射运行、束流注入、束流切断等情况下对撞区的辐射水平进行测量,并分析辐射本底的强度、来源及特点;研究PIN半导体探测器在BEPCI对撞区的工作状况,为第三代北京谱仪BESIII的剂量率在线检测奠定基础。 展开更多
关键词 剂量率 束流管 PIN硅光电二级管 暗电流
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并联PiN二极管的温度频率特性建模与分析 被引量:3
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作者 李晓玲 冉立 +2 位作者 曾正 胡博容 邵伟华 《中国电机工程学报》 EI CSCD 北大核心 2018年第18期5405-5414,共10页
针对风电变流器等应用场景,随着功率等级的不断提升,硅PiN二极管的并联使用问题日益突出。然而,并联硅PiN二极管器件的静态参数具有分散性,并联器件间的线路布局存在不均衡性,这些因素都导致并联器件间的电流分布不均,进而引起器件间的... 针对风电变流器等应用场景,随着功率等级的不断提升,硅PiN二极管的并联使用问题日益突出。然而,并联硅PiN二极管器件的静态参数具有分散性,并联器件间的线路布局存在不均衡性,这些因素都导致并联器件间的电流分布不均,进而引起器件间的损耗和发热不一致,使并联PiN二极管工作于不同的结温。相应地,结温差异会对二极管的反向恢复过程产生影响,并进一步影响并联器件间的电流和结温分布,甚至危害器件和变流器的安全稳定。该文以硅PiN二极管分立器件为研究对象,计及温度影响,建立正向导通损耗和反向恢复损耗的数学模型,以阐释温度对并联PiN二极管电–热平衡的调节机制。然后,针对大注入电流的运行工况,基于导通损耗与反向恢复损耗对温度所呈现出的相反趋势,结合二极管开关频率和工作结温之间的内在制约机制,提出决定并联二极管结温差异发展趋势的“零温度–频率特性”概念。最后,利用实验展示不同温度、不同电流等级下的温度–频率特性,验证该特性的正确性。通过构建并联二极管开关频率与热稳定极限的关系,可为硅PiN二极管的并联设计和使用提供参考,并为模块封装中的结温在线监测提供方法。 展开更多
关键词 硅PiN二极管 并联 温度影响 反向恢复
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a-SiTFT/PIN图像传感器件 被引量:2
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作者 赵颖 熊绍珍 +2 位作者 李璟 周祯华 李俊峰 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第1期83-90,共8页
在模拟计算以 a- Si TFT为有源开关 ,以 a- Si PIN为光敏源的有源成像器件工作特性与各单元元件关系的基础上 ,详细讨论了单元器件的材料、物理参数对 a- Si TFT/PIN耦合对特性的影响 ,并给出一定试验结果 .用 L ED光源照射 a- Si PIN... 在模拟计算以 a- Si TFT为有源开关 ,以 a- Si PIN为光敏源的有源成像器件工作特性与各单元元件关系的基础上 ,详细讨论了单元器件的材料、物理参数对 a- Si TFT/PIN耦合对特性的影响 ,并给出一定试验结果 .用 L ED光源照射 a- Si PIN的光电转换率可达 18.1n A/lx,a- Si 展开更多
关键词 有源选址 非晶硅薄膜晶体管 非晶硅光敏二极管 图像传感器
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p^+–n^-–n^+-type power diode with crystalline/nanocrystalline Si mosaic electrodes
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作者 韦文生 张春熹 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 2016年第6期81-86,共6页
Using p~+-type crystalline Si with n~+-type nanocrystalline Si(nc-Si) and n~+-type crystalline Si with p~+-type nc-Si mosaic structures as electrodes,a type of power diode was prepared with epitaxial technique a... Using p~+-type crystalline Si with n~+-type nanocrystalline Si(nc-Si) and n~+-type crystalline Si with p~+-type nc-Si mosaic structures as electrodes,a type of power diode was prepared with epitaxial technique and plasmaenhanced chemical vapor deposition(PECVD) method.Firstly,the basic p~+-n^--n~+-type Si diode was fabricated by epitaxially growing p~+- and n~+-type layers on two sides of a lightly doped n^--type Si wafer respectively.Secondly,heavily phosphorus-doped Si film was deposited with PECVD on the lithography mask etched p~+-type Si side of the basic device to form a component with mosaic anode.Thirdly,heavily boron-doped Si film was deposited on the etched n~+-type Si side of the second device to form a diode with mosaic anode and mosaic cathode.The images of high resolution transmission electronic microscope and patterns of X-ray diffraction reveal nanocrystallization in the phosphorus- and boron-deposited films.Electrical measurements such as capacitancevoltage relation,current-voltage feature and reverse recovery waveform were carried out to clarify the performance of prepared devices.The important roles of(n^-)Si/(p~+)nc-Si and(n^-)Si/(n~+)nc-Si junctions in the static and dynamic conduction processes in operating diodes were investigated.The performance of mosaic devices was compared to that of a basic one. 展开更多
关键词 si power diode nanocrystalline si mosaic electrode reverse recovery
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p-CuSCN/n-Si异质结的光电特性研究
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作者 熊超 朱锡芳 +3 位作者 陈磊 袁洪春 潘雪涛 周祥才 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2013年第6期464-468,共5页
采用成本廉价的连续离子层沉积法在n型Si衬底上沉积β相的六方晶体结构的CuSCN薄膜制备了p-CuSCN/n-Si异质结。并通过测试其光照下的I-V和C-V特性对其光电特性以及载流子输运特性与导电机理进行了研究。研究表明,CuSCN/n-Si异质结存在... 采用成本廉价的连续离子层沉积法在n型Si衬底上沉积β相的六方晶体结构的CuSCN薄膜制备了p-CuSCN/n-Si异质结。并通过测试其光照下的I-V和C-V特性对其光电特性以及载流子输运特性与导电机理进行了研究。研究表明,CuSCN/n-Si异质结存在良好的整流特性;由于在p-CuSCN/n-Si异质结界面处的导带补偿与价带补偿相差较大的缘故,在正向电压,无光照下,导电机理为空间电荷限制电流导电,此时空穴电流主导;在光照下,异质结表现出良好的光电响应,因此可以广泛应用在光电探测和太阳电池等领域。 展开更多
关键词 p-CuSCN n-si异质结 I-V特性 C-V特性 内建电势 界面态
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乳腺摄影自动曝光系统的探测器性能研究 被引量:4
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作者 陈圆圆 朱明 +1 位作者 王鹏程 刘军杰 《中国医学物理学杂志》 CSCD 2009年第1期975-977,1005,共4页
目的:PIN型硅光敏二极管探测器的结构特点,为我们利用其辐射输出特性来测量软X线提供了可能。本文的目的是,在已有的商用PIN型硅光敏二极管探测器中,研究选取一种适用于乳腺摄影自动曝光控制系统的探测器,并对其各种输出特性进行试验研... 目的:PIN型硅光敏二极管探测器的结构特点,为我们利用其辐射输出特性来测量软X线提供了可能。本文的目的是,在已有的商用PIN型硅光敏二极管探测器中,研究选取一种适用于乳腺摄影自动曝光控制系统的探测器,并对其各种输出特性进行试验研究,从而可降低乳腺摄影自动曝光控制系统的生产成本。方法:首先,对7种不同类型的PIN型硅光敏二极管探测器进行编号,然后依次分别进行以下三方面的实验研究:输出线性,能量响应和数据稳定性;并进行相关统计学分析;然后,在这7种不同类型的PIN型硅光敏二极管探测器中,选取一种各种特性都相对理想的探测器,在FLATSE乳腺高频钼靶X光机上进行验证,并观察其是否满足乳腺摄影自动曝光控制系统的要求。结果:探测器输出对X射线强度(10mR~2R)完全线性(线性相关系数r>0.99);探测器输出对X射线能量响应变化小于±3%(光子能量40keV~150keV);探测器输出电流大于10-9A(40kV,50mA);在不同时间及湿度下所测得的各项数据均无统计学差异。结论:PIN硅光敏二极管探测器(沪5号)具有灵敏度高、探测效率高、能量分辨率好、可以在室温下使用,以及对湿度不敏感和体积小等优点,能满足乳腺摄影自动曝光控制系统的要求。所以,我们最后选择沪5号作为乳腺摄影自动曝光控制系统的探测器。 展开更多
关键词 乳腺摄影 自动曝光 PIN型硅光敏二极管
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一种NiO薄膜的新型制备方法及其应用 被引量:2
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作者 叶珂 乔明 《电子与封装》 2016年第5期31-34,共4页
利用热氧化法,在紫外线光源催化作用下,在N型硅衬底上沉积氧化镍(NiO)薄膜,制备具有半导体特性的NiO/Si异质结二极管。使用JASCO NRS-3100测量薄膜拉曼散射频谱,分析不同氧化时间、不同紫外线光源、不同退火条件对NiO薄膜性能的影响。... 利用热氧化法,在紫外线光源催化作用下,在N型硅衬底上沉积氧化镍(NiO)薄膜,制备具有半导体特性的NiO/Si异质结二极管。使用JASCO NRS-3100测量薄膜拉曼散射频谱,分析不同氧化时间、不同紫外线光源、不同退火条件对NiO薄膜性能的影响。实验结果表明:氧化时间为60 min时,金属Ni能够充分氧化;含臭氧水银灯比金属卤化物灯更有助于金属Ni的氧化反应;氮气下退火30 min,有助于消除晶格损伤,改善薄膜特性。通过Phillips X'Pert衍射仪分析NiO薄膜的晶体结构,Keysight B1500A半导体参数测量仪测量NiO/Si二极管的I-V特性,当二极管两端电压分别为2 V和-2 V时,电流密度相差3个数量级,表现出良好的整流特性。 展开更多
关键词 紫外线氧化 NiO薄膜 NiO/si异质结二极管
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A Fast-Speed Pulse Detector Based on N-Type Si-Schottky Diode via Tuning Circuit
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作者 Ling Wang Xiao-Hong Tang Fei Xiao Shang-Yun Wu 《Journal of Electronic Science and Technology》 CAS 2010年第3期257-261,共5页
A fast-speed pulse detector based on n-type Si-Sehottky diode mounted in the waveguide is investigated. The relation of the fast-speed pulse detector between response time and 3 dB bandwidth is analyzed. By adopting t... A fast-speed pulse detector based on n-type Si-Sehottky diode mounted in the waveguide is investigated. The relation of the fast-speed pulse detector between response time and 3 dB bandwidth is analyzed. By adopting the tunable circuit, the matched bandwidth is achieved as wide as possible. Experi- mental results show that the pulse response time of the detector is less than 150 ps within random carrier signal 500 MHz bandwidth range between 35 GHz to 39 GHz via tuning circuit. The detector is very easy to operate because it does not need bias current or synch-pulse source. 展开更多
关键词 DETECTOR fast-speed pulse millimeter- wave response time si-Schottky diode.
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杂质分凝技术对肖特基势垒高度的调制
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作者 毛淑娟 罗军 闫江 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2013年第1期55-59,共5页
为降低金属或金属硅化物源漏与沟道的肖特基势垒高度以改善肖特基势垒源漏场效应晶体管(SBSD-MOSFET)的开关电流比(Ion/Ioff),采用硅化诱发杂质分凝技术(SIDS)调节NiSi/n-Si肖特基二极管(NiSi/n-Si SJD)的肖特基势垒高度,系统地研究了S... 为降低金属或金属硅化物源漏与沟道的肖特基势垒高度以改善肖特基势垒源漏场效应晶体管(SBSD-MOSFET)的开关电流比(Ion/Ioff),采用硅化诱发杂质分凝技术(SIDS)调节NiSi/n-Si肖特基二极管(NiSi/n-Si SJD)的肖特基势垒高度,系统地研究了SIDS工艺条件如杂质注入剂量、注入能量和硅化物形成工艺对肖特基势垒高度调节的影响。实验结果表明,适当增加BF2杂质的注入剂量或能量均能显著提高有效电子势垒高度(φBn,eff),也即降低了有效空穴势垒高度(φBp,eff),从而减小反向偏置漏电流。同时,与传统的一步退火工艺相比,采用两步退火工艺形成NiSi也有利于提高有效电子势垒高度,减小反向漏电流。最后,提出了一种优化的调制肖特基势垒高度的SIDS工艺条件。 展开更多
关键词 肖特基势垒高度 NIsi n—si肖特基二极管 硅化诱发杂质分凝技术 镍硅化物 金属-半导体接触
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