期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
磁控溅射技术制备硅纳米晶多层膜及微观结构表征
1
作者 赵志明 马二云 +7 位作者 张晓静 田亚萍 屈直 丁宇 曹智睿 白力静 张国君 蒋百灵 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2012年第6期732-735,共4页
在室温下,分别利用常规磁控溅射和反应磁控溅射技术交替沉积Si薄膜和Si1-xNx薄膜在单晶硅基体上制备了Si/Si1-xNx纳米多层膜。接下来,在高温下对Si/Si1-xNx多层膜进行退火诱发各层中形成硅纳米晶。研究了Si1-xNx层厚度和N2流量沉积对Si/... 在室温下,分别利用常规磁控溅射和反应磁控溅射技术交替沉积Si薄膜和Si1-xNx薄膜在单晶硅基体上制备了Si/Si1-xNx纳米多层膜。接下来,在高温下对Si/Si1-xNx多层膜进行退火诱发各层中形成硅纳米晶。研究了Si1-xNx层厚度和N2流量沉积对Si/Si1-xNx多层膜中Si量子点形成的影响。TEM检测结果表明,N2流量为2.5mL/min时沉积的多层膜退火后形成了尺寸为20~30nm的等轴Si3N4纳米晶;N2流量为5.0mL/min时沉积的多层膜退火后在Si层和Si1-xNx多层中均形成了硅纳米晶,而在7.5mL/min N2流量下沉积的Si/Si1-xNx多层膜退火后仅在Si层中形成了硅纳米晶。 展开更多
关键词 磁控溅射技术 si/si1-xnx多层 si纳米晶 si3N4纳米晶 TEM
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部