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HgCdTe多载流子体系的定量迁移率谱分析 被引量：4
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作者 桂永胜 郑国珍 +1 位作者 张新昌 褚君浩 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第12期913-918,共6页
本文利用定量迁移率谱分析技术，通过研究样品霍尔系数和电阻率对磁场强度的依赖关系，获得了样品中参与导电的电子和空穴的浓度和迁移率，结果表明了定量迁移率谱分析方法具有很高的准确性和可靠性，并且它对样品中少子的贡献非常敏感．
关键词 红外探测器 多载流子体系 定量迁移率 谱分析
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