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利用便携式D-D中子发生装置测试 ^(3)He中子探测器的性能
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作者 陆小军 何林锋 +1 位作者 赵超 韩刚 《核电子学与探测技术》 CAS 北大核心 2021年第1期1-5,共5页
对便携式D-D中子发生装置进行产额测试、验证及均匀性、稳定性测量,并将其用于对批量中子探测器的中子响应检测。实验结果表明:D-D中子发生装置的中子产额能够满足相关国标的要求;与252Cf中子源测试结果进行产额验证,偏差为-7.4%;D-D中... 对便携式D-D中子发生装置进行产额测试、验证及均匀性、稳定性测量,并将其用于对批量中子探测器的中子响应检测。实验结果表明:D-D中子发生装置的中子产额能够满足相关国标的要求;与252Cf中子源测试结果进行产额验证,偏差为-7.4%;D-D中子发生装置中子场的不均匀性为10%,中子产额的稳定性为7.0%;批量_(3)He中子探测器的检测结果表明采用D-D中子发生装置进行检测是可行的,可为中子发生装置代替同位素中子源对_(3)He中子探测器检测提供技术参考。 展开更多
关键词 便携式D-D中子发生装置 ^(3)He中子探测器 中子响应
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