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退火气氛中痕量氧在反应形成Pt硅化物中的作用 |
李映雪
武国英
张国炳
王佑祥
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《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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1989 |
2
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2
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采用俄歇电子能谱技术分析铂化硅的合金行为 |
赵丽华
李锦标
霍彩红
周明辉
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《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
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2002 |
1
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3
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镍铂合金溅射靶材在半导体制造中的应用及发展趋势 |
王一晴
郭俊梅
管伟明
闻明
谭志龙
张俊敏
王传军
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《贵金属》
CAS
CSCD
北大核心
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2016 |
12
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4
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常规XRD对超薄PtSi/Si膜的表征技术的研究 |
刘爽
刘俊刚
杨家德
宁永功
陈艾
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《半导体光电》
CAS
CSCD
北大核心
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1999 |
2
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5
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硅化铂红外焦平面探测器性能改进技术分析 |
康冰心
蔡毅
王岭雪
薛唯
高岳
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《红外与激光工程》
EI
CSCD
北大核心
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2014 |
1
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