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NaI晶体谱仪采集X射线能谱测量方法研究
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作者 张耀锋 郭彬 +2 位作者 黄建微 李耀刚 王晓君 《核电子学与探测技术》 CAS 北大核心 2015年第4期386-389,共4页
为准确测量轫致辐射X射线能谱,利用NaI晶体谱仪对于测量光子的能谱展宽效应,结合理论模拟分析,提出了采用变能量矩阵求解法实现X射线能谱的重建。该方法通过合理选择能量区间,可有效消除能谱响应矩阵中各矢量的相关性,从而实现能谱的准... 为准确测量轫致辐射X射线能谱,利用NaI晶体谱仪对于测量光子的能谱展宽效应,结合理论模拟分析,提出了采用变能量矩阵求解法实现X射线能谱的重建。该方法通过合理选择能量区间,可有效消除能谱响应矩阵中各矢量的相关性,从而实现能谱的准确重建。并分别以均匀能谱分布和实际轫致辐射X射线能谱为例,进行了X射线的能谱重建。获得结果与原始能谱的相关性约为0.98。 展开更多
关键词 轫致辐射 能谱测量 nai晶体谱仪 变能量区间矩阵求解法
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