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题名钼圆片生产的工艺设计及质量控制
被引量：3
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作者
谌启明
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机构
长沙有色冶金设计研究院稀冶室
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出处
《稀有金属与硬质合金》
CAS
CSCD
2001年第4期30-35,共6页
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文摘
在总结多年产品开发研究、设计经验的基础上 ,对钼圆片生产方式进行了综合分析比较 ,着重对钼板冲制。
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关键词
钼圆片
基片
工艺设计
质量控制
冲压
机械加工
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Keywords
mo wafer
substrate
process design
quality control
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分类号
TG146.412
[一般工业技术—材料科学与工程]
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题名钼圆表面缺陷的形成机理及质量控制
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作者
张明明
张多
高澜漪
吕光哲
郭晓影
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机构
辽宁科技学院冶金工程学院
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出处
《辽宁科技学院学报》
2018年第5期17-20,共4页
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基金
2018年国家级大学生创新创业训练计划项目"轻量化汽车用刹车片材料:高体积含量Si Cp/Al复合材料的无压熔渗及性能研究"(201811430084)
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文摘
为弄清钼圆表面黑斑和白点的产生原因,采用光学显微镜(OM)和扫描电镜(SEM)对其进行形貌分析,使用能谱仪(EDS)对表面缺陷进行了成分分析,以此为基础,对黑斑和白点的形成分别进行了模拟实验。结果表明,在氢气还原处理后的Mo粉中加入适量Fe/Ni/C和C/SiO_2/CaO粉后,在钼圆表面分别发现了黑斑和白点。这说明Fe-Ni-C和C-O-Mo杂质是造成黑斑和白点的主因。因此,采取必要手段严格控制钼粉原料中Fe/Ni和C/O杂质的含量,是减少和消除黑斑和白点的根本途径。
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关键词
钼圆
黑斑
白点
Fe-Ni-C杂质
C-O-mo杂质
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Keywords
molybdenum wafer
Black mark
White spot
Impurity Fe-Ni-C
Impurity C-O-mo
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分类号
TG316.15
[金属学及工艺—金属压力加工]
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