-
题名MC/DC最小测试用例集快速生成算法
被引量：6
- 1
-
-
作者
段飞雷
吴晓
张凡
董云卫
-
机构
西北工业大学计算机学院
-
出处
《计算机工程》
CAS
CSCD
北大核心
2009年第17期40-42,45,共4页
-
基金
国家"863"计划基金资助项目"构件化嵌入式软件测试方法及其工具研究"(2008AA01Z142)
-
文摘
以条件判定组合的语法树为研究对象,总结语法树的左右分支对判定结果的影响方式及结果,根据其影响特点提出超越语法树的快速生成改进判定/条件覆盖最小测试用例集的算法。与其他算法在在空间及时间方面进行比较,结果表明该算法具有一定的优越性。
-
关键词
改进判定
条件覆盖
最小测试用例集
快速生成算法
-
Keywords
MC/DC
minimum test case set
rapidly generating algorithm
-
分类号
TP311
[自动化与计算机技术—计算机软件与理论]
-
-
题名MC/DC准则在嵌入式软件测试中的应用
被引量：6
- 2
-
-
作者
安媛
陆云峰
-
机构
国核自仪系统工程有限公司
上海申能崇明发电有限公司
-
出处
《自动化仪表》
CAS
2019年第6期76-79,共4页
-
基金
国家十二五重大专项基金资助项目(2014ZX06002-007)
-
文摘
MC/DC准则被广泛应用于高安全性的嵌入式软件独立验证和确认中,是一种实用而高效的软件结构覆盖率验证准则。基于嵌入式软件测试的特点与MC/DC的基本概念,提出了MC/DC的最小测试集的形成方法。结合工程应用实例,利用自动化测试工具实现MC/DC测试流程。MC/DC准则在核电仪控系统中的成功应用,对于航空、军工、机器人等高安全性和高可靠性领域有着很好的借鉴作用。
-
关键词
嵌入式软件
软件测试
MC/DC
结构覆盖
逻辑控制
仪控
VectorCAST
最小测试用例集
-
Keywords
Embedded software
Software testing
MC/DC
Structural coverage
Logic control
Instrument control
VectorCAST
minimum test case set
-
分类号
TH-86
[机械工程]
-
-
题名MC/DC最小测试用例集递归分块矩阵生成算法
被引量：2
- 3
-
-
作者
葛汉强
-
机构
重庆信息技术职业学院软件学院
-
出处
《计算机系统应用》
2011年第7期195-198,共4页
-
文摘
测试用例个数可以影响软件测试的成本与效率,因此最小测试用例集的生成算法具有重要的实用价值。对布尔表达式语法树采用递归分块矩阵处理,得到了MC/DC最小测试用例集生成算法。并证明了该算法的正确性,给出其成立的前提条件。
-
关键词
MC/DC
最小测试用例集
递归分块矩阵
生成算法
-
Keywords
MC/DC
minimum test case set
recursive blocks matrix
generating algorithm
-
分类号
TP311.52
[自动化与计算机技术—计算机软件与理论]
-
-
题名基于EFSM的最小测试用例集生成方法
被引量：1
- 4
-
-
作者
陈孔婷
王兴起
-
机构
杭州电子科技大学计算机学院
-
出处
《计算机工程与设计》
北大核心
2019年第9期2502-2506,共5页
-
基金
浙江省自然科学基金项目(LQ16F020006、LY17F020023)
-
文摘
影响测试成本的主要因素是测试用例集规模和测试用例的总长度,为降低测试成本,对测试用例生成技术进行研究,提出一种基于集合覆盖理论的最小测试用例集生成方法。设计迁移覆盖算法,其中引入关键迁移概念,设计最小测试用例集算法用于合并迁移覆盖算法输出的集合,得到最小测试用例集。实验结果表明,所提方法得到的最小测试用例集,降低了测试成本,提高了测试效率。
-
关键词
扩展有限状态机
最小测试用例集
迁移覆盖
测试成本
测试效率
-
Keywords
EFSM
minimum test case set
transition coverage
test cost
test efficiency
-
分类号
TP311.5
[自动化与计算机技术—计算机软件与理论]
-
