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微纳米CMOS VLSI电路可靠性仿真与设计 被引量：5
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作者 罗俊 郝跃 +8 位作者 秦国林 谭开洲 王健安 胡刚毅 许斌 刘凡 黄晓宗 唐昭焕 刘勇 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2012年第2期255-260,共6页
介绍了CMOS VLSI的可靠性建模和仿真技术的发展历史、相应的仿真工具、失效机理等效电路和算法,重点总结了当前最新的CMOS超大规模集成电路可靠性建模仿真技术,为促进我国集成电路可靠性设计水平起到积极的作用。
关键词 微纳米cmos 超大规模集成电路 可靠性建模 可靠性仿真
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