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Accurate Reliability Analysis Methods for Approximate Computing Circuits 被引量:1
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作者 Zhen Wang Guofa Zhang +3 位作者 Jing Ye Jianhui Jiang Fengyong Li Yong Wang 《Tsinghua Science and Technology》 SCIE EI CAS CSCD 2022年第4期729-740,共12页
In recent years,Approximate Computing Circuits(ACCs)have been widely used in applications with intrinsic tolerance to errors.With the increased availability of approximate computing circuit approaches,reliability anal... In recent years,Approximate Computing Circuits(ACCs)have been widely used in applications with intrinsic tolerance to errors.With the increased availability of approximate computing circuit approaches,reliability analysis methods for assessing their fault vulnerability have become highly necessary.In this study,two accurate reliability evaluation methods for approximate computing circuits are proposed.The reliability of approximate computing circuits is calculated on the basis of the iterative Probabilistic Transfer Matrix(PTM)model.During the calculation,the correlation coefficients are derived and combined to deal with the correlation problem caused by fanout reconvergence.The accuracy and scalability of the two methods are verified using three sets of approximate computing circuit instances and more circuits in Evo Approx8 b,which is an approximate computing circuit open source library.Experimental results show that relative to the Monte Carlo simulation,the two methods achieve average error rates of 0.46%and 1.29%and time overheads of 0.002%and 0.1%.Different from the existing approaches to reliability estimation for approximate computing circuits based on the original PTM model,the proposed methods reduce the space overheads by nearly 50%and achieve time overheads of 1.78%and 2.19%. 展开更多
关键词 Approximate Computing Circuit(ACC) correlation coefficient iterative Probabilistic Transfer matrix(ptm) RELIABILITY
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一种高效的门级电路可靠度估算方法 被引量:6
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作者 蔡烁 邝继顺 +1 位作者 刘铁桥 周颖波 《电子与信息学报》 EI CSCD 北大核心 2013年第5期1262-1266,共5页
随着半导体技术的不断发展,芯片的集成度越来越高,软差错已经成为影响电路可靠性的关键因素之一。为了有效评估软差错对电路的影响,该文提出一种基于信号取值概率的门级电路可靠度估算方法。首先计算电路所有节点在软差错影响下的取值概... 随着半导体技术的不断发展,芯片的集成度越来越高,软差错已经成为影响电路可靠性的关键因素之一。为了有效评估软差错对电路的影响,该文提出一种基于信号取值概率的门级电路可靠度估算方法。首先计算电路所有节点在软差错影响下的取值概率,然后用故障模拟分析电路整体可靠性。通过对基准电路的实验并与概率转移矩阵方法进行比较,该方法在不损失准确度的前提下,在时间与空间开销方面都具有优势,尤其适合估算特定向量和随机向量激励下电路的可靠度。 展开更多
关键词 VLSI 软差错 概率门模型 概率转移矩阵 电路可靠度
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基于概率转移矩阵的全加器可靠性分析 被引量:1
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作者 张永强 解光军 吕洪君 《微纳电子技术》 北大核心 2016年第8期493-502,526,共11页
基于量子元胞自动机(QCA)电路,通过贝叶斯网络(Bayesian network,BN)对7种不同的传输线建模,研究了基本传输线的输出正确率随温度的变化规律。另外,通过概率转移矩阵(PTM)研究了7种不同结构的全加器的整体可靠性和输出Si以及进位输出Ci+... 基于量子元胞自动机(QCA)电路,通过贝叶斯网络(Bayesian network,BN)对7种不同的传输线建模,研究了基本传输线的输出正确率随温度的变化规律。另外,通过概率转移矩阵(PTM)研究了7种不同结构的全加器的整体可靠性和输出Si以及进位输出Ci+1的平均输出错误率随错误因子的变化规律,并研究了各器件单元对全加器整体可靠性的影响。仿真结果表明,对于只有1个元胞宽度的传输线,直线型传输线有最高的可靠性,而且通过增加传输线的宽度可以提高传输线的可靠性。电路的可靠性不仅与电路结构有关,而且与电路器件单元的类型和门的数量密切相关。而且,产生进位输出Ci+1的择多门对电路的整体可靠性的影响最大,但不同的全加器的进位输出有相同的可靠性。 展开更多
关键词 量子元胞自动机(QCA) 可靠性 贝叶斯网络(BN) 概率转移矩阵(ptm) 全加器
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