期刊导航
期刊开放获取
cqvip
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
1
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
响应表面法在工艺综合中的应用
被引量:
2
1
作者
鲁勇
张文俊
杨之廉
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002年第10期1116-1120,共5页
通过实例 ,介绍多分区响应表面法的优点及其给工艺综合带来的好处 ,并用其构建的响应表面模型分析工艺窗口带来的影响 .
关键词
响应表面法
多分区响应表面法
工艺综合
MOSPAD
工艺窗口
半导体集成电路
下载PDF
职称材料
题名
响应表面法在工艺综合中的应用
被引量:
2
1
作者
鲁勇
张文俊
杨之廉
机构
清华大学微电子学研究所
出处
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002年第10期1116-1120,共5页
文摘
通过实例 ,介绍多分区响应表面法的优点及其给工艺综合带来的好处 ,并用其构建的响应表面模型分析工艺窗口带来的影响 .
关键词
响应表面法
多分区响应表面法
工艺综合
MOSPAD
工艺窗口
半导体集成电路
Keywords
response surface method
mr
-
rsm
process synthesis
MOSPAD
process window
分类号
TN405 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
响应表面法在工艺综合中的应用
鲁勇
张文俊
杨之廉
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002
2
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部