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Bi-2212低电阻接头制备与低温实验测试 被引量:1
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作者 朱华锦 周孟良 +5 位作者 万佳昊 杨东昇 秦经刚 周超 汪键 高鹏 《低温与超导》 CAS 北大核心 2024年第3期24-30,46,共8页
低电阻接头的制备及应用有利于提升超导磁体的稳定性及磁场质量,本文利用高温银线烧结法制备了Bi-2212低电阻接头,利用低温材料测试平台对Bi-2212不同压缩扁样的临界电流和高温银线烧结接头进行测试,并分析磁场强度、接触长度、搭接面... 低电阻接头的制备及应用有利于提升超导磁体的稳定性及磁场质量,本文利用高温银线烧结法制备了Bi-2212低电阻接头,利用低温材料测试平台对Bi-2212不同压缩扁样的临界电流和高温银线烧结接头进行测试,并分析磁场强度、接触长度、搭接面积等关键因子对接头电阻的影响。实验结果表明:采用新型接头制备工艺研制的Bi-2212接头,当长度达到30 mm,搭接面积达到32.7 mm^(2)时,在4.2 K、5 T背场环境下接头电阻可降至4.5×10^(-8)Ω,并趋于稳定,且磁场对其影响可忽略不计。 展开更多
关键词 BI-2212 低电阻接头 高温银线烧结法
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