检索结果-维普期刊中文期刊服务平台

期刊文献⁺

任意字段

题名或关键词

题名

关键词

文摘

作者

第一作者

机构

刊名

分类号

参考文献

作者简介

基金资助

栏目信息

共找到5篇文章

< 1 >

每页显示 20 50 100

已选择0条

导出题录引用分析

统计分析

显示方式：

文摘详细列表

相关度排序被引量排序时效性排序

基于LK8810平台的集成电路开短路测试方案设计被引量：8: 1; 作者杜晓岚张磊《电子设计工程》 2019年第14期51-54,共4页; 集成电路产业已经成为我国重点发展产业。集成电路生产封装后都要先进行引脚开短路测试,从而尽早筛出失效芯片以缩短整体测试时长,提升经济效益。针对集成电路引脚开短路测试要求,本文提出一种基于LK8810平台的集成电路开短路测试方案... 展开更多; 关键词 IC开短路测试 lk8810平台集成电路测试半导体器件; 下载PDF 职称材料

基于LK8810S平台的集成运算放大电路模拟参数测试研究被引量：1: 2; 作者陈梅芬陈瑞森 +2 位作者李伟权林少东吴佳骏《黄山学院学报》 2023年第3期30-33,共4页; 集成电路测试产业近年来得到了快速发展,已成为集成电路产业链的重要环节。文章基于LK8810S测试平台,采用C语言编写测试代码控制待测电路的输入激励并采集电路的输出信号,能快速地实现集成运算放大器的3种主要参数测试,并将结果显示在... 展开更多; 关键词输入失调电压 lk8810S平台共模抑制比集成运放开环增益; 下载PDF 职称材料

基于LK8810平台的集成电路电参数测试方法设计与实现被引量：3: 3; 作者罗瑜樊赫《集成电路应用》 2022年第2期35-37,共3页; 阐述以LK8810作为测试平台,以74HC595为例,采用施加电流激励以测量电压的方法,为提高测量精度,输出采用开尔文连接的方式,根据所搭建的测量电路,利用测试专用函数编写程序实现对芯片输出高低电平上下限电参数的测试,测试结果可在上位机... 展开更多; 关键词集成电路 lk8810平台数字芯片直流参数测试; 下载PDF 职称材料

基于LK8810S平台的DAC数字芯片的性能评估及研究被引量：3: 4; 作者高艳《黄山学院学报》 2020年第3期16-19,共4页; 随着集成电路技术的快速发展,数字芯片集成度的提高,数字芯片引脚数量及高速信号种类的增多,对于高性能数字芯片的测试验证分析难度越来越大。文章基于当前数字芯片的测试技术在平台上的测试验证需求,依据DAC芯片的参数测试的原理和方法... 展开更多; 关键词 lk8810S平台 DAC0808 芯片测试技术; 下载PDF 职称材料

基于LK8810平台的数字芯片性能测试被引量：2: 5; 作者余蓓敏《新乡学院学报》 2021年第9期48-50,54,共4页; 为提高芯片性能可靠性,提出了基于LK8810平台的数字芯片性能的测试方法,并基于LK8810测试机在平台上对典型数字芯片SN74LS08芯片进行系统化测试,对SN74LS08芯片的功能、关键参数进行了测试和研究,通过软硬件联调,结合芯片技术参数标准,... 展开更多; 关键词 lk8810平台 SN74LS08 芯片测试技术; 下载PDF 职称材料

已选择0条

导出题录引用分析

统计分析

上一页 1 下一页到第页

使用帮助返回顶部