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不同线宽结构杂散光Kirk模型分析
被引量:
2
1
作者
黄振芬
曹益平
+1 位作者
陈德良
武迎春
《强激光与粒子束》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2012年第8期1775-1779,共5页
采用Kirk测量法的杂散光模型研究了杂散光在不同线宽结构上杂散光的光强变化,通过图像对比度分析了杂散光对不同线宽结构的影响。基于Matlab软件仿真分析表明:线宽一定时,线条越稀疏,图像对比度越低,杂散光对成像图形分辨力的影响越大;...
采用Kirk测量法的杂散光模型研究了杂散光在不同线宽结构上杂散光的光强变化,通过图像对比度分析了杂散光对不同线宽结构的影响。基于Matlab软件仿真分析表明:线宽一定时,线条越稀疏,图像对比度越低,杂散光对成像图形分辨力的影响越大;线条线间比一定时,线宽尺寸越小,图像对比度越低,杂散光对成像图形分辨力的影响也越大。所以杂散光对线宽较小并且线条稀疏空间结构所成的图形造成的影响较大。
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关键词
光刻
kirk
测量法
杂散光
点扩散函数
图像对比度
下载PDF
职称材料
题名
不同线宽结构杂散光Kirk模型分析
被引量:
2
1
作者
黄振芬
曹益平
陈德良
武迎春
机构
四川大学电子信息学院
出处
《强激光与粒子束》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2012年第8期1775-1779,共5页
基金
国家高技术发展计划项目
国家重大专项基金项目(2009ZX02204-008)
四川省学术和技术带头人培养基金项目(07GRC-01)
文摘
采用Kirk测量法的杂散光模型研究了杂散光在不同线宽结构上杂散光的光强变化,通过图像对比度分析了杂散光对不同线宽结构的影响。基于Matlab软件仿真分析表明:线宽一定时,线条越稀疏,图像对比度越低,杂散光对成像图形分辨力的影响越大;线条线间比一定时,线宽尺寸越小,图像对比度越低,杂散光对成像图形分辨力的影响也越大。所以杂散光对线宽较小并且线条稀疏空间结构所成的图形造成的影响较大。
关键词
光刻
kirk
测量法
杂散光
点扩散函数
图像对比度
Keywords
optical lithography
kirk
test
stray light
point spread function
image contrast
分类号
TN305 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
不同线宽结构杂散光Kirk模型分析
黄振芬
曹益平
陈德良
武迎春
《强激光与粒子束》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2012
2
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职称材料
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