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脉冲激光辐照CCD探测器的热损伤机理 被引量：2
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作者 高刘正 邵铮铮 +2 位作者 朱志武 黄任 常胜利 《中国激光》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第B12期55-59,共5页
采用扫描电子显微镜和显微拉曼光谱仪研究了受脉冲激光损伤的CCD的形貌和光谱特性。在损伤表面上得到CCD各层的形貌，比较出不同层受激光损伤的先后次序，观察到感光区附近遮光层和多晶硅电极的破坏，研究深入到单个像素尺度；在截面上... 采用扫描电子显微镜和显微拉曼光谱仪研究了受脉冲激光损伤的CCD的形貌和光谱特性。在损伤表面上得到CCD各层的形貌，比较出不同层受激光损伤的先后次序，观察到感光区附近遮光层和多晶硅电极的破坏，研究深入到单个像素尺度；在截面上测得损伤区内部硅材料拉曼光谱特征峰红移，判定内部硅材料发生熔融，并造成表面多晶硅电极和基底短路，解释了CCD受皮秒激光热损伤完全失效的机理。 展开更多
关键词 激光技术 激光损伤 脉冲激光 CCD成像器件 破坏机理 扫描电子显微镜 显微拉曼光谱仪
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