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JEM-2000FX电镜电子束发生系统故障分析及检修
1
作者
马通达
孙继光
+1 位作者
张希顺
陈朝相
《电子显微学报》
CAS
CSCD
北大核心
2001年第4期428-429,共2页
关键词
jem
-
2000
fx
透射电镜
电子束闪动
故障分析
检修
放电痕迹
电路电流
下载PDF
职称材料
题名
JEM-2000FX电镜电子束发生系统故障分析及检修
1
作者
马通达
孙继光
张希顺
陈朝相
机构
北京有色金属研究总院
日本电子产品维修站
出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
北大核心
2001年第4期428-429,共2页
关键词
jem
-
2000
fx
透射电镜
电子束闪动
故障分析
检修
放电痕迹
电路电流
分类号
TN16 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
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操作
1
JEM-2000FX电镜电子束发生系统故障分析及检修
马通达
孙继光
张希顺
陈朝相
《电子显微学报》
CAS
CSCD
北大核心
2001
0
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