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基于J750测试系统的HS3282发送功能测试
被引量:
2
1
作者
魏志刚
徐居明
吴丽
《现代测量与实验室管理》
2010年第4期14-16,共3页
主要阐述了使用美国Teradyne公司生产的J750大规模集成电路测试系统测试HS3282协议芯片发送功能的具体方法。详细论述了J750测试系统的主要特点,开发、调试HS3282发送功能的一般步骤,给出了具体的接口电路、测试程序,介绍了测试中可能...
主要阐述了使用美国Teradyne公司生产的J750大规模集成电路测试系统测试HS3282协议芯片发送功能的具体方法。详细论述了J750测试系统的主要特点,开发、调试HS3282发送功能的一般步骤,给出了具体的接口电路、测试程序,介绍了测试中可能出现的问题以及调试方法。
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关键词
j
750
大规模
集成电路
测试
系统
HS3282协议芯片
发送功能
429总线
下载PDF
职称材料
题名
基于J750测试系统的HS3282发送功能测试
被引量:
2
1
作者
魏志刚
徐居明
吴丽
机构
中航工业空空导弹研究院
出处
《现代测量与实验室管理》
2010年第4期14-16,共3页
文摘
主要阐述了使用美国Teradyne公司生产的J750大规模集成电路测试系统测试HS3282协议芯片发送功能的具体方法。详细论述了J750测试系统的主要特点,开发、调试HS3282发送功能的一般步骤,给出了具体的接口电路、测试程序,介绍了测试中可能出现的问题以及调试方法。
关键词
j
750
大规模
集成电路
测试
系统
HS3282协议芯片
发送功能
429总线
分类号
TN47 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
基于J750测试系统的HS3282发送功能测试
魏志刚
徐居明
吴丽
《现代测量与实验室管理》
2010
2
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