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题名复杂电路功耗自测试方法研究与仿真
被引量：1
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作者
张明亮
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机构
青海民族大学计算机学院
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出处
《计算机仿真》
北大核心
2017年第8期433-436,共4页
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文摘
对电路分布路径低功耗内建自测试,在电路故障检测方面具有重要意义。电路功耗内建自测时,需对电路构造距离序列进行寻优,传统方法主要通过对电路的X位做低功耗填充,无法对电路构造距离序列进行寻优,导致故障测试结果不准确。提出无关位填充的电路低功耗内建自测试方法。将测试向量与扫描链中响应数据分块相容,待测电路的功耗划分为动态功耗和静态功耗,依据划分结果获取电路节点的动态功耗,计算出连续输入测试矢量序列的电路功耗,得到电路的平均功耗和峰值功耗,获取待测电路时序逻辑之间的数据传递关系,融合于改进细胞自动机构造预确定距离序列,利用遗传理论对该距离序列进行寻优,得到最佳预确定测试序列,完成电路低功耗内建自测试,达到电路故障检测的目的。仿真结果表明,所提方法检测电路故障精确度高。
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关键词
无关位填充
低功耗内建自测试
电路
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Keywords
independent bit stuffing
Low power built -in self- testing
Circuit
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分类号
TN74
[电子电信—电路与系统]
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