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Advances in InGaAs/InP single-photon detector systems for quantum communication 被引量:31
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作者 Jun Zhang Mark A Itzler +1 位作者 Hugo Zbinden Jian-Wei Pan 《Light(Science & Applications)》 SCIE EI CAS CSCD 2015年第1期381-393,共13页
Single-photon detectors(SPDs)are the most sensitive instruments for light detection.In the near-infrared range,SPDs based on III–V compound semiconductor avalanche photodiodes have been extensively used during the pa... Single-photon detectors(SPDs)are the most sensitive instruments for light detection.In the near-infrared range,SPDs based on III–V compound semiconductor avalanche photodiodes have been extensively used during the past two decades for diverse applications due to their advantages in practicality including small size,low cost and easy operation.In the past decade,the rapid developments and increasing demands in quantum information science have served as key drivers to improve the device performance of single-photon avalanche diodes and to invent new avalanche quenching techniques.This Review aims to introduce the technology advances of InGaAs/InP single-photon detector systems in the telecom wavelengths and the relevant quantum communication applications,and particularly to highlight recent emerging techniques such as high-frequency gating at GHz rates and free-running operation using negative-feedback avalanche diodes.Future perspectives of both the devices and quenching techniques are summarized. 展开更多
关键词 avalanche photodiode DETECTOR ingaas/inp quantum communication single-photon avalanche diode single-photon detection
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空间遥感用InGaAs短波红外探测器 被引量:12
2
作者 唐恒敬 吕衍秋 +6 位作者 张可锋 吴小利 韩冰 徐勤飞 刘洪洋 李雪 龚海梅 《激光与光电子学进展》 CSCD 北大核心 2007年第5期42-49,共8页
简要比较了短波HgCdTe与InGaAs探测器的性能,介绍了PIN探测器的结构和主要性能指标,综述了InGaAs探测器的研究进展,特别是我国空间遥感用InGaAs的研究进展,并说明了研制空间遥感用InGaAs/InP光电探测器的意义。
关键词 光电探测器 ingaas/inp 空间遥感
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基于FPGA的100MHz近红外单光子探测器 被引量:8
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作者 郑福 王超 +1 位作者 孙志斌 翟光杰 《光电子.激光》 EI CAS CSCD 北大核心 2014年第7期1254-1258,共5页
为克服InGaAs/InP雪崩二极管(APD)光电探测器的后脉冲现象,本文提出了基于FPGA的单光子探测器(SPD)测量系统,其门控频率最高可达100MHz,门控宽度最窄可到1ns,死区时间设定为109ns,并且这些参数都易于调节且有助于减少后脉冲概率。实验... 为克服InGaAs/InP雪崩二极管(APD)光电探测器的后脉冲现象,本文提出了基于FPGA的单光子探测器(SPD)测量系统,其门控频率最高可达100MHz,门控宽度最窄可到1ns,死区时间设定为109ns,并且这些参数都易于调节且有助于减少后脉冲概率。实验结果表明:在以上门控条件并且制冷温度为218K时,探测器的有效门宽为0.79ns;在死区时间超过109ns时,后脉冲现象可忽略;最大光子探测效率(PDE)约为14%;在光子探测效率为10%时,暗计数率(DCR)约为2×10-5/ns;并具有小型化、易调节的特点。 展开更多
关键词 ingaas inp 100 MHz 单光子探测器(SPD) 光子探测效率(PDE) 暗计数率(DCR) FPGA
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用InGaAs/InP APD的红外单光子探测技术 被引量:6
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作者 郭健平 廖常俊 +2 位作者 王金东 魏正军 刘颂豪 《激光与光电子学进展》 CSCD 北大核心 2005年第6期8-11,33,共5页
由于在量子信息技术特别是量子密钥分配系统中的应用,以InGaAs/InP雪崩二极管为基础的红外单光子探测技术,近年来成为研究的热点之一。主要介绍了单光子探测用InGaAs/InPAPD的选择和实现红外单光子探测器的关键技术:半导体制冷精密温控... 由于在量子信息技术特别是量子密钥分配系统中的应用,以InGaAs/InP雪崩二极管为基础的红外单光子探测技术,近年来成为研究的热点之一。主要介绍了单光子探测用InGaAs/InPAPD的选择和实现红外单光子探测器的关键技术:半导体制冷精密温控技术和APD的驱动控制技术,重点介绍了门控电路。 展开更多
关键词 ingaas/inp 探测技术 APD 红外 量子信息技术 单光子探测器 雪崩二极管 半导体制冷 分配系统 量子密钥 控制技术 温控技术 关键技术 门控电路 驱动
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实时激光通信用自由运行InGaAs/InP单光子探测器(特邀)
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作者 童启夏 雷勇 +7 位作者 申向伟 谌晨 陈伟 赵江林 任丽 崔大健 汪亮 蔡善勇 《激光与光电子学进展》 CSCD 北大核心 2024年第7期142-149,共8页
为实现高速、高灵敏度、低成本的激光通信,优化改进一种新的InGaAs/InP单光子雪崩二极管(SPAD)以更好地使其应用于单个单光子探测器(SPD)探测的近红外激光通信系统。与上一代相比,优化各层结构的同时,在其中加入了介质-金属反射层并改... 为实现高速、高灵敏度、低成本的激光通信,优化改进一种新的InGaAs/InP单光子雪崩二极管(SPAD)以更好地使其应用于单个单光子探测器(SPD)探测的近红外激光通信系统。与上一代相比,优化各层结构的同时,在其中加入了介质-金属反射层并改进了双Zn扩散工艺。在1.25 GHz高频正弦门控(SWG)工作模式、225 K温度和6 V偏置下,所制备的InGaAs/InP SPAD实现了光子探测效率(PDE)为30%、暗计数率(DCR)为3 kHz和后脉冲概率(Pap)为2.4%的单光子性能。将基于高性能SPAD制备的自由运行负反馈雪崩二极管(NFAD)作为接收机,应用到已有实时激光通信系统中,实验得到了单个NFAD的激光通信性能参数。结果表明,在使用4进制脉冲相位调制(4PPM)方案中,在1 Mbit/s比特率条件下,单个InGaAs/InP NFAD具有1.1×10^(−5)误码率和−69.6 dBm灵敏度。 展开更多
关键词 ingaas/inp 单光子探测器 单光子雪崩二极管 负反馈雪崩二极管 光子探测效率 激光通信
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基于InGaAs单光子探测器的线阵扫描激光雷达及其光子信号处理技术研究 被引量:2
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作者 张笑宇 王凤香 +8 位作者 郭颖 王文娟 罗永锋 武文 侯佳 姜紫庆 彭梓强 黄庚华 舒嵘 《红外与激光工程》 EI CSCD 北大核心 2023年第3期178-186,共9页
随着探测体系的发展,基于单光子探测技术的光子计数激光雷达受到了广泛关注,有效降低了系统对激光功率的需求,广泛应用在远距离测距及成像领域。针对激光雷达在人眼安全波段的工作需求,基于自由运转模式InGaAs/InP SPAD单光子探测器设... 随着探测体系的发展,基于单光子探测技术的光子计数激光雷达受到了广泛关注,有效降低了系统对激光功率的需求,广泛应用在远距离测距及成像领域。针对激光雷达在人眼安全波段的工作需求,基于自由运转模式InGaAs/InP SPAD单光子探测器设计了一套多元收发的远程线阵光子计数激光雷达扫描成像原型系统,对探测器在日光背景下的探测概率影响因素展开了分析,配合主动淬灭电路设计及工作温度、偏压调整获得了系统的最佳工作点,并针对扫描视场中孤立目标特征采用了点云滤波及后脉冲预处理算法,将单个接收通道的原始数据率由200 kbps量级降低至小于1 kbps。与记录单次回波相比,单个测距周期记录四次回波可将有效数据量提升约5%。同时也对探测器的噪声及后脉冲等特性进行了分析。该系统工作波段为1550 nm,探测器线阵规模可达到128元,激光重频为20 kHz,可在2 s内实现水平200°范围内的激光三维成像,作用距离>3 km。经过成像算法处理,该系统在日光条件下成功实现多距离目标三维成像,成像目标清晰。 展开更多
关键词 激光雷达 光子计数 三维成像 单光子探测 ingaas/inp SPAD
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Advances in near-infrared avalanche diode single-photon detectors 被引量:7
7
作者 Chen Liu Hai-Feng Ye Yan-Li Shi 《Chip》 2022年第1期30-40,共11页
Avalanche-photodiode-based near-infrared single-photon detectors have seen rapid development in the last two decades because of their enormous internal gain,high sensitivity,fast response,small vol-ume,and ease of int... Avalanche-photodiode-based near-infrared single-photon detectors have seen rapid development in the last two decades because of their enormous internal gain,high sensitivity,fast response,small vol-ume,and ease of integration.The InGaAs/InP near-infrared single-photon detector is the most widely used avalanche diode at present.Its device performance is still being continuously improved through the optimization of device structure and external quenching circuits.This paper analyzes the latest development and application of these InGaAs/InP photodiodes,then briefly re views other near-infrared single-photon detection technologies based on new materials and new mechanisms. 展开更多
关键词 Avalanche photodiode Single-photon detector ingaas/inp NEAR-INFRARED Quantum communication
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InGaAs/InP SAGCM-APD的器件模型及其数值模拟 被引量:4
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作者 高新江 张秀川 陈扬 《半导体光电》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第5期617-622,共6页
基于泊松方程和载流子连续性方程,导出了InGaAs/InP SAGCM-APD(吸收、渐变、电荷、倍增层分离结构雪崩光电二极管)特性的数学模型,利用数值计算工具对其进行了数值模拟,得到了APD内部电场分布、增益特性、暗电流特性、过剩噪声和增益带... 基于泊松方程和载流子连续性方程,导出了InGaAs/InP SAGCM-APD(吸收、渐变、电荷、倍增层分离结构雪崩光电二极管)特性的数学模型,利用数值计算工具对其进行了数值模拟,得到了APD内部电场分布、增益特性、暗电流特性、过剩噪声和增益带宽特性等的数值结果。模拟结果与实际器件特性测量结果相符合,表明运用该模型与数值模拟方法可对不同结构参数的InGaAs/InP SAGCM-APD进行结构设计、工艺改进和特性分析。 展开更多
关键词 ingaas/inp SAGCM—APD 器件模型 数值模拟 器件特性
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p-i-nInP/In_(0.53)Ga_(0.47)As/InP探测器结构优化 被引量:5
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作者 朱敏 陈俊 +2 位作者 吕加兵 唐恒敬 李雪 《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2016年第1期117-121,共5页
利用半导体仿真工具Silvaco对p-i-n InP/In_(0.53)Ga_(0.47)As/InP近红外光探测器进行优化仿真.参考实际器件对红外探测器进行建模,并将其暗电流、光谱响应仿真结果与实验结果进行拟合,保证仿真结果的有效性.以减小探测器的暗电流为目的... 利用半导体仿真工具Silvaco对p-i-n InP/In_(0.53)Ga_(0.47)As/InP近红外光探测器进行优化仿真.参考实际器件对红外探测器进行建模,并将其暗电流、光谱响应仿真结果与实验结果进行拟合,保证仿真结果的有效性.以减小探测器的暗电流为目的,优化其结构.针对探测器吸收层厚度和吸收层掺杂浓度对暗电流、光响应的影响进行研究,发现当吸收层厚度大于0.3μm后,暗电流不再上升,但光响应随着吸收层厚度的增加而增大;当吸收层掺杂浓度不断上升时,器件暗电流不断降低,当掺杂浓度上升到2×1017/cm3时,暗电流达到最低值.本文还研究了p-i-n型探测器的瞬态响应,探究了响应速度与反偏电压之间的关系,发现提高反偏电压能减小探测器响应时间. 展开更多
关键词 ingaas/inp 近红外光探测器 暗电流 光响应 瞬态响应
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10 Gbit/s台面型InGaAs/InP pin高速光电探测器 被引量:5
10
作者 李庆伟 李伟 +2 位作者 齐利芳 尹顺政 张世祖 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2018年第4期280-284,共5页
利用数值计算方法分析了高速光电探测器的耗尽区宽度与响应度及响应速度的关系。分析结果表明,耗尽区宽度选择应在响应度和响应速度之间折中,在响应度满足使用要求的情况下,尽量提高响应速度。利用该分析结果设计了台面型In GaAs/InP pi... 利用数值计算方法分析了高速光电探测器的耗尽区宽度与响应度及响应速度的关系。分析结果表明,耗尽区宽度选择应在响应度和响应速度之间折中,在响应度满足使用要求的情况下,尽量提高响应速度。利用该分析结果设计了台面型In GaAs/InP pin高速光电探测器材料结构。通过优化腐蚀工艺与钝化工艺,解决了器件腐蚀形貌和钝化问题。结合其他微细加工工艺完成了器件的制备,器件光敏区直径50μm。测试结果显示,在反向偏压为5 V时,暗电流小于1 nA,电容约为0.21 p F。此外,在1 310 nm激光辐照下,器件的响应度约为0.95 A/W,-3 dB带宽超过10 GHz,其性能满足10 Gbit/s光纤通信应用要求。 展开更多
关键词 光电探测器 ingaas/inp 响应度 响应速度 台面腐蚀
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InP层对正面及背面入光PIN探测器响应度影响研究 被引量:3
11
作者 杨集 冯士维 +3 位作者 李瑛 吕长志 谢雪松 张小玲 《光电工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第12期141-144,共4页
InP盖层对光的吸收及入射光在探测器多界面间的多次反射,使InP层对InGaAs/InPPIN探测器的响应度产生了很大的影响。本文测量了正面和背面入光PIN探测器的响应度,并与测量的InP晶片透射率及模拟的透射率进行比较,分析了InP层对正面及背... InP盖层对光的吸收及入射光在探测器多界面间的多次反射,使InP层对InGaAs/InPPIN探测器的响应度产生了很大的影响。本文测量了正面和背面入光PIN探测器的响应度,并与测量的InP晶片透射率及模拟的透射率进行比较,分析了InP层对正面及背面入光PIN探测器响应度的影响。结果表明,随着InP层厚度的增加,响应度峰与峰的间隔Δλ不断减小,波形越来越密集。所以正面入光探测器的响应度起伏比较明显,且随着InP层厚度的增加,响应度极值对应的波长发生红移。背面入光探测器的响应度非常密集而成为准连续的带状。 展开更多
关键词 ingaas/inp PIN探测器 响应度 inp盖层
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InGaAs/InP单光子雪崩光电二极管InP顶层掺杂研究 被引量:4
12
作者 李彬 陈伟 +5 位作者 黄晓峰 迟殿鑫 姚科明 王玺 柴松刚 高新江 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2017年第4期420-424,共5页
通过理论计算和对比实验研究了InGaAs/InP单光子雪崩光电二极管中InP顶层掺杂浓度对于器件性能的影响.理论结果显示,InP顶层的掺杂浓度越低越有利于抑制边缘击穿,降低隧穿暗载流子产生速率,提高雪崩击穿几率.实验结果显示,顶层非故意掺... 通过理论计算和对比实验研究了InGaAs/InP单光子雪崩光电二极管中InP顶层掺杂浓度对于器件性能的影响.理论结果显示,InP顶层的掺杂浓度越低越有利于抑制边缘击穿,降低隧穿暗载流子产生速率,提高雪崩击穿几率.实验结果显示,顶层非故意掺杂的器件在223K下获得了20%的单光子探测效率和1kHz的暗计数率,其单光子探测效率比顶层掺杂浓度为5×10^(15)/cm^3的器件高3%~8%,而暗计数率低一个量级.结果表明,降低InP顶层的掺杂浓度有利于提高器件性能. 展开更多
关键词 ingaas/inp 单光子雪崩光电二极管 顶层 掺杂浓度
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Common Base Four-Finger InGaAs/InP Double Heterojunction Bipolar Transistor with Maximum Oscillation Frequency 535 GHz 被引量:4
13
作者 牛斌 王元 +4 位作者 程伟 谢自力 陆海燕 常龙 谢俊领 《Chinese Physics Letters》 SCIE CAS CSCD 2015年第7期175-178,共4页
A common base four-finger InOaAs/InP double heterojunction bipolar transistor with 535 OHz fmax by using the 0.5 μm emitter technology is fabricated. Multi-finger design is used to increase the input current. Common ... A common base four-finger InOaAs/InP double heterojunction bipolar transistor with 535 OHz fmax by using the 0.5 μm emitter technology is fabricated. Multi-finger design is used to increase the input current. Common base configuration is compared with common emitter configuration, and shows a smaller K factor at high frequency span, indicating a larger breakpoint frequency of maximum stable gain/maximum available gain (MSG/MAG) and thus a higher gain near the cut-off frequency, which is useful in THz amplifier design. 展开更多
关键词 inp ingaas Common Base Four-Finger ingaas/inp Double Heterojunction Bipolar Transistor with Maximum Oscillation Frequency 535 GHz
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Zn扩散对InGaAs/InP单光子雪崩光电二极管雪崩击穿概率的影响
14
作者 郭可飞 尹飞 +8 位作者 刘立宇 乔凯 李鸣 汪韬 房梦岩 吉超 屈有山 田进寿 王兴 《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2023年第6期184-194,共11页
对InGaAs/InP单光子雪崩光电二极管进行结构设计与数值仿真,得到相应的电学与光学参数。针对雪崩击穿概率对器件光子探测效率的影响,研究了两次Zn扩散深度差、Zn扩散横向扩散因子、Zn掺杂浓度以及温度参数与器件雪崩击穿概率的关系。研... 对InGaAs/InP单光子雪崩光电二极管进行结构设计与数值仿真,得到相应的电学与光学参数。针对雪崩击穿概率对器件光子探测效率的影响,研究了两次Zn扩散深度差、Zn扩散横向扩散因子、Zn掺杂浓度以及温度参数与器件雪崩击穿概率的关系。研究发现,当深扩散深度为2.3μm固定值时,浅扩散深度存在对应最佳目标值。浅扩散深度越深,相同过偏压条件下倍增区中心雪崩击穿概率越大,电场强度也会随之增加。当两次Zn扩散深度差小于0.6μm时,会发生倍增区外的非理想击穿,导致器件的暗计数增大。Zn扩散横向扩散因子越大,倍增区中心部分雪崩击穿概率越大,而倍增区边缘雪崩击穿概率会越小。在扩散深度不变的情况下,浅扩散Zn掺杂浓度对雪崩击穿概率无明显影响,但深扩散Zn掺杂浓度越高,相同过偏压条件下雪崩击穿概率越小。本文研究可为设计和研制高探测效率、低暗计数InGaAs/InP单光子雪崩光电二极管提供参考。 展开更多
关键词 雪崩光电二极管 ingaas/inp ZN扩散 单光子探测 雪崩击穿概率
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Ar^+刻蚀对InGaAs,n-InP和p-InP表面损伤及消除 被引量:4
15
作者 吕衍秋 越方禹 +4 位作者 洪学鹍 陈江峰 韩冰 吴小利 龚海梅 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第1期122-126,共5页
研究了Ar+刻蚀对InGaAs,n-InP和p-InP表面的损伤,并用湿法腐蚀后处理消除损伤.Ar+刻蚀后InGaAs表面均方根粗糙度较小,而n-InP和p-InP表面明显变粗糙.刻蚀后InGaAsPL强度增加,而n-InP和p-InPPL强度都减小.用XPS分析了未刻蚀、Ar+刻蚀和... 研究了Ar+刻蚀对InGaAs,n-InP和p-InP表面的损伤,并用湿法腐蚀后处理消除损伤.Ar+刻蚀后InGaAs表面均方根粗糙度较小,而n-InP和p-InP表面明显变粗糙.刻蚀后InGaAsPL强度增加,而n-InP和p-InPPL强度都减小.用XPS分析了未刻蚀、Ar+刻蚀和湿法腐蚀后处理三种情况下样品表面原子含量.刻蚀后InGaAs表面In和Ga含量明显增加,n-InP和p-InP表面有严重P缺失.湿法腐蚀后,样品表面原子含量和未刻蚀前基本一致. 展开更多
关键词 Ar^+刻蚀 ingaas inp 湿法腐蚀 表面损伤
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InGaAs/InP SAGCM APD的电流响应模型研究
16
作者 谢生 张帆 毛陆虹 《华中科技大学学报(自然科学版)》 EI CAS CSCD 北大核心 2023年第9期160-166,共7页
从吸收、渐变、电荷和倍增层分离型(SAGCM)InGaAs/InP APD的器件结构和工作原理出发,分析了载流子扩散、产生-复合等影响暗电流的主要因素,推导了光电流响应和碰撞电离倍增因子的表达式,同时考虑了温度和高偏压下隧穿效应的影响,构建了... 从吸收、渐变、电荷和倍增层分离型(SAGCM)InGaAs/InP APD的器件结构和工作原理出发,分析了载流子扩散、产生-复合等影响暗电流的主要因素,推导了光电流响应和碰撞电离倍增因子的表达式,同时考虑了温度和高偏压下隧穿效应的影响,构建了完整的电流响应模型.模型使用与通用电路仿真器完全兼容的Verilog-A语言进行描述,适用于Cadence电路设计平台中与外围电路进行协同仿真.结果表明:在300 K下模型仿真结果与实验数据在60 V偏置电压范围内均处于同一数量级,验证了所构建的APD器件模型的精确度,为光电探测系统的协同设计与整体优化提供了参考. 展开更多
关键词 雪崩光电二极管(APD) 半导体器件模型 ingaas/inp 电流响应 倍增因子 碰撞电离
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High-speed multiwavelength InGaAs/InP quantum well nanowire array micro-LEDs for next generation optical communications 被引量:2
17
作者 Fanlu Zhang Zhicheng Su +10 位作者 Zhe Li Yi Zhu Nikita Gagrani Ziyuan Li Mark Lockrey Li Li Igor Aharonovich Yuerui Lu Hark Hoe Tan Chennupati Jagadish Lan Fu 《Opto-Electronic Science》 2023年第5期1-11,共11页
Miniaturized light sources at telecommunication wavelengths are essential components for on-chip optical communication systems.Here,we report the growth and fabrication of highly uniform p-i-n core-shell InGaAs/InP si... Miniaturized light sources at telecommunication wavelengths are essential components for on-chip optical communication systems.Here,we report the growth and fabrication of highly uniform p-i-n core-shell InGaAs/InP single quantum well(QW)nanowire array light emitting diodes(LEDs)with multi-wavelength and high-speed operations.Two-dimensional cathodoluminescence mapping reveals that axial and radial QWs in the nanowire structure contribute to strong emission at the wavelength of~1.35 and~1.55μm,respectively,ideal for low-loss optical communications.As a result of simultaneous contributions from both axial and radial QWs,broadband electroluminescence emission with a linewidth of 286 nm is achieved with a peak power of~17μW.A large spectral blueshift is observed with the increase of applied bias,which is ascribed to the band-filling effect based on device simulation,and enables voltage tunable multi-wavelength operation at the telecommunication wavelength range.Multi-wavelength operation is also achieved by fabricating nanowire array LEDs with different pitch sizes on the same substrate,leading to QW formation with different emission wavelengths.Furthermore,high-speed GHz-level modulation and small pixel size LED are demonstrated,showing the promise for ultrafast operation and ultracompact integration.The voltage and pitch size controlled multi-wavelength highspeed nanowire array LED presents a compact and efficient scheme for developing high-performance nanoscale light sources for future optical communication applications. 展开更多
关键词 ingaas/inp quantum well NANOWIRES LEDS
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高速近红外InGaAs/InP单光子探测器设计 被引量:3
18
作者 高家利 《光电子.激光》 EI CAS CSCD 北大核心 2016年第10期1042-1046,共5页
量子信息技术的研究中大量采用单光子作为量子信息的载体,因此单光子探测技术成为近来研究的热点。目前基于InGaAs/InP雪崩光电二极管(APD)的单光子探测器(SPD)工作频率较低且无法连续可调。高速门控模式下,APD的容性效应会带来较强的... 量子信息技术的研究中大量采用单光子作为量子信息的载体,因此单光子探测技术成为近来研究的热点。目前基于InGaAs/InP雪崩光电二极管(APD)的单光子探测器(SPD)工作频率较低且无法连续可调。高速门控模式下,APD的容性效应会带来较强的尖峰噪声将光生雪崩信号湮没,导致探测器的探测效率也相对较低。为了提高单光子探测器的工作频率,降低后脉冲概率,设计了基于高速正弦门控技术的InGaAs/InP雪崩光电二极管淬灭-重置电路。为了抑制强大的背景噪声提高探测效率,设计了双APD平衡方案来提取有效雪崩信号。实验结果表明:设计的探测器工作频率连续可调;在-50℃、1~1.3GHz门控频率条件下,最光子大探测效率为35%,暗计数率为4.2×10^(-5)/gate。探测效率为18%时,暗计数率仅为5.6×10^(-6)/gate,后脉冲概率均低于5×10^(-6)/ns。 展开更多
关键词 ingaas/inp 单光子探测器 正弦门控 双APD平衡
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低噪声InGaAs/InP雪崩光电二极管的模拟分析 被引量:3
19
作者 崔星宇 林逢源 +6 位作者 张志宏 唐吉龙 方铉 房丹 王登魁 李科学 魏志鹏 《中国激光》 EI CAS CSCD 北大核心 2021年第17期10-16,共7页
提出了一种吸收区-电荷区-倍增区分离(SACM)结构的InGaAs/InP雪崩光电二极管,利用碰撞电离工程(I^(2)E)设计了双电荷层双倍增层结构的InP雪崩光电二极管(APD),通过在倍增区中设置电离阈值能量的分级,控制碰撞电离的位置,从而降低噪声。... 提出了一种吸收区-电荷区-倍增区分离(SACM)结构的InGaAs/InP雪崩光电二极管,利用碰撞电离工程(I^(2)E)设计了双电荷层双倍增层结构的InP雪崩光电二极管(APD),通过在倍增区中设置电离阈值能量的分级,控制碰撞电离的位置,从而降低噪声。采用器件仿真器Silvaco对器件进行建模,仿真计算了新结构器件的能带结构、电场分布、暗电流、光响应电流和增益等。新结构器件可以获得较低的噪声系数k(k=α/β,其中α、β分别为空穴与电子的电离系数),在30 V电压下,k=0.15。与常规的SACM InP APD相比,分析结果表明,新结构APD器件具有了较好的噪声特性。 展开更多
关键词 材料 ingaas/inp 碰撞电离工程(I^(2)E) 吸收区-电荷区-倍增区分离 电离阈值能量 过剩噪声
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Precision integration of grating-based polarizers onto focal plane arrays of near-infrared photovoltaic detectors for enhanced contrast polarimetric imaging 被引量:5
20
作者 Bo Feng Yifang Chen +4 位作者 Duo Sun Zongyao Yang Bo Yang Xue Li Tao Li 《International Journal of Extreme Manufacturing》 EI 2021年第3期95-102,共8页
Polarimetric imaging enhances the ability to distinguish objects from a bright background by detecting their particular polarization status,which offers another degree of freedom in infrared remote sensing.However,to ... Polarimetric imaging enhances the ability to distinguish objects from a bright background by detecting their particular polarization status,which offers another degree of freedom in infrared remote sensing.However,to scale up by monolithically integrating grating-based polarizers onto a focal plane array(FPA)of infrared detectors,fundamental technical obstacles must be overcome,including reductions of the extinction ratio by the misalignment between the polarizer and the detector,grating line width fluctuations,the line edge roughness,etc.This paper reports the authors’latest achievements in overcoming those problems by solving key technical issues regarding the integration of large-scale polarizers onto the chips of FPAs with individual indium gallium arsenide/indium phosphide(In Ga As/In P)sensors as the basic building blocks.Polarimetric and photovoltaic chips with divisions of the focal plane of 540×4 pixels and 320×256 superpixels have been successfully manufactured.Polarimetric imaging with enhanced contrast has been demonstrated.The progress made in this work has opened up a broad avenue toward industrialization of high quality polarimetric imaging in infrared wavelengths. 展开更多
关键词 polarimetric imaging grating based polarizer ingaas/inp focal plane array nanofabrication
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