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基于JTAG标准的处理器片上调试的分析和实现 被引量:12
1
作者 金辉 华斯亮 +1 位作者 张铁军 侯朝焕 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2007年第6期116-119,122,共5页
介绍了一种基于IEEE11 49.1标准的嵌入式处理器片上调试的方法,并以一款DSP处理器SuperV2为研究对象,通过扩充JTAG测试访问端口和指令,并在处理器内增加和修改支持调试功能的逻辑,实现了断点设置、外部调试请求和单步执行的调试功能。
关键词 JTAG 片上调试 ieee 1149.1 SuperV2
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基于JTAG的DSP处理器嵌入式调试接口设计 被引量:5
2
作者 吴皓 刘鹏 《计算机工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第1期228-230,共3页
介绍了基于IEEE1149.1 JTAG协议的DSP处理器嵌入式调试接口的设计。从该接口的整体结构框图到详细设计,进行了详细的阐述。该接口成功地应用于32bits DSP处理器MD32中,通过了FPGA验证和仿真验证,证明了其设计的正确性,具有很好的参考价值。
关键词 接口设计 嵌入式 DSP处理器 JTAG 详细设计 ieee1149.1 正确性 FPGA验证 仿真验证 MD
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边界扫描测试优化算法——极小权值-极大相异性算法 被引量:9
3
作者 胡政 钱彦岭 温熙森 《测控技术》 CSCD 2000年第9期9-11,共3页
IEEE 1149.1边界扫描机制是一种新型的VLSI电路测试及可测试性设计方法 ,在边界扫描测试过程中 ,生成合理的测试向量集是有效应用边界扫描机制对电路系统进行测试的关键。在分析现有边界扫描测试生成算法的基础上 ,提出了一种极小权值 ... IEEE 1149.1边界扫描机制是一种新型的VLSI电路测试及可测试性设计方法 ,在边界扫描测试过程中 ,生成合理的测试向量集是有效应用边界扫描机制对电路系统进行测试的关键。在分析现有边界扫描测试生成算法的基础上 ,提出了一种极小权值 极大相异性算法。该算法可以在确定边界扫描测试向量集的紧凑性指标的前提下 ,生成故障诊断能力相当优化的测试向量集。仿真试验表明 ,该算法的性能优于现有的类似算法。 展开更多
关键词 VLSI 边界扫描 测试 优化算法 ieee1149.1
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基于USB接口的边界扫描测试控制器设计 被引量:7
4
作者 俞洋 高巍 彭喜元 《计算机测量与控制》 CSCD 2007年第1期31-33,65,共4页
边界扫描测试技术是目前一种主流的可测性设计技术,它以特有的结构和检测方法克服了复杂数字电路板测试的技术障碍,能大大提高数字电路的可测试性;采用DSP和边界扫描总线控制芯片74LVT8980设计了边界扫描测试控制器,该控制器采用USB总... 边界扫描测试技术是目前一种主流的可测性设计技术,它以特有的结构和检测方法克服了复杂数字电路板测试的技术障碍,能大大提高数字电路的可测试性;采用DSP和边界扫描总线控制芯片74LVT8980设计了边界扫描测试控制器,该控制器采用USB总线与计算机进行通信,实现USB通信协议与边界扫描总线协议的自动转换,测试数据能够自动加载、采集和诊断;实际测试表明这种方法具有方便、快捷、即插即用的特点。 展开更多
关键词 边界扫描 JTAG ieee1149.1 USB
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FPGA配置芯片测试方法的研究与实现 被引量:7
5
作者 石雪梅 计贤春 《计算机与数字工程》 2010年第9期77-79,87,共4页
集成电路规模越来越大,测试难度也越来越高,边界扫描方法的提出降低了测试的复杂度,适合进行大规模集成电路的测试。介绍了边界扫描的概念和特点,研究了FPGA配置芯片测试方法,并在V93000测试系统上实现了配置芯片EPC2的边界扫描测试,给... 集成电路规模越来越大,测试难度也越来越高,边界扫描方法的提出降低了测试的复杂度,适合进行大规模集成电路的测试。介绍了边界扫描的概念和特点,研究了FPGA配置芯片测试方法,并在V93000测试系统上实现了配置芯片EPC2的边界扫描测试,给出了具体测试过程,符合IEEE1149.1边界扫描规范,为具有JTAG接口的元器件测试提供了依据。 展开更多
关键词 边界扫描 配置芯片 ieee1149.1
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从边界扫描技术协议讨论其发展与应用 被引量:2
6
作者 肖小清 师谦 +1 位作者 恩云飞 周继承 《电子质量》 2007年第6期59-61,共3页
边界扫描测试技术作为当前电子测试技术的热点,其应用与发展是令人瞩目的。本文通过对边界扫描技术一系列协议的简单介绍和剖析,讨论了边界扫描技术各个阶段的应用与发展情况,并对边界扫描技术未来的发展给出了一些预测。
关键词 边界扫描 ieee1149.1 ieee1149.4 ieee1149.5 ieee1149.6 ieee1532
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基于JTAG的高效调试系统设计与实现 被引量:1
7
作者 张梅娟 辛昆鹏 +1 位作者 王丽娟 邓佳伟 《电子技术应用》 2023年第4期39-43,共5页
为了给自研处理器芯片提供一种高效方便的调试方法,提出了一种基于JTAG的片内调试系统设计方法。该调试系统在遵循JTAG标准协议的基础上,简化片内调试硬件模式设计,以较少的硬件开销和精简高效的专用调试指令设计,不仅实现了调试中断、... 为了给自研处理器芯片提供一种高效方便的调试方法,提出了一种基于JTAG的片内调试系统设计方法。该调试系统在遵循JTAG标准协议的基础上,简化片内调试硬件模式设计,以较少的硬件开销和精简高效的专用调试指令设计,不仅实现了调试中断、指令/数据断点设置、单步执行及寄存器/存储器数据读写等基本调试功能,还支持现场保护与恢复、Trace Buffer、指令插入执行等高级调试功能。经实际芯片测试证明,该调试系统具有兼容JTAG协议、功能全面、灵活高效、结构简单、便于操作等特点。 展开更多
关键词 调试系统 JTAG接口 ieee1149.1 TAP控制器
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基于SOPC的边界扫描测试控制器IP核设计 被引量:5
8
作者 陈圣俭 郑伟东 +2 位作者 张开孝 王晋阳 阳智 《计算机测量与控制》 CSCD 北大核心 2010年第1期23-25,28,共4页
在研究边界扫描数字电路测试技术标准IEEE1149.1的基础上,采用SOPC设计技术,用FPGA设计实现了一款基于Avalon总线的边界扫描测试总线控制IP核,与其它复用IP核可形成以NIOS Ⅱ处理器为核心的通用数字电路边界扫描测试控制器,该控制器产... 在研究边界扫描数字电路测试技术标准IEEE1149.1的基础上,采用SOPC设计技术,用FPGA设计实现了一款基于Avalon总线的边界扫描测试总线控制IP核,与其它复用IP核可形成以NIOS Ⅱ处理器为核心的通用数字电路边界扫描测试控制器,该控制器产生符合IEEE1149.1标准的测试信号控制被测边界扫描系统,进行各种边界扫描测试;该IP核的成功设计,为基于边界扫描的电子系统机内自测试系统的实现,奠定了坚实的应用基础。 展开更多
关键词 ieee1149.1 边界扫描控制器 SOPC IP核
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基于PCI总线的超大规模集成电路边界扫描测试系统 被引量:3
9
作者 周战馨 缪栋 《计算机测量与控制》 CSCD 2002年第2期76-77,80,共3页
采用现场可编程门阵列 (FPGA)和PCI 90 5 2目标接口芯片 ,实现了符合PCI总线规范和IEEE 114 9 1标准的超大规模集成电路边界扫描测试系统 ,具有对系统级、PCB级和芯片级集成电路进行边界扫描测试的功能 ,结构简单、速度快。
关键词 PCI总线 超大规模集成电路 边界扫描测试系统 ieee1149.1
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边界扫描测试的软件实现 被引量:4
10
作者 张甜 王祖强 蔡棽 《计算机工程》 CAS CSCD 北大核心 2007年第7期220-221,271,共3页
随着芯片集成度和印刷电路板复杂度的不断提高,边界扫描测试技术在芯片故障检测中的应用越来越广泛。该文在分析IEEE JTAG标准和并口标准的基础上,设计开发了边界扫描测试软件。引入Access为后台数据库,实现了多种芯片的故障检测功能;... 随着芯片集成度和印刷电路板复杂度的不断提高,边界扫描测试技术在芯片故障检测中的应用越来越广泛。该文在分析IEEE JTAG标准和并口标准的基础上,设计开发了边界扫描测试软件。引入Access为后台数据库,实现了多种芯片的故障检测功能;介绍了边界扫描测试的基本原理和结构;讲述了BST软件设计中精确时钟控制、管脚查找、显示管脚波形等设计方法。以Altera的ep1c6q240器件为例,介绍了整个边界扫描测试过程。 展开更多
关键词 边界扫描测试 JTAG ieee1149.1 并口
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基于USB2.0接口的DSP仿真器技术 被引量:3
11
作者 汪安民 张松灿 《单片机与嵌入式系统应用》 2005年第10期57-59,共3页
介绍一种基于USB2.0接口的TI公司DSP仿真器的研制方法。该系统以USB控制器CY7C68013为核心,通过ACT8990实现IEEE1149.1协议,实现PC机对DSP片内数据的读写,从而完成仿真功能。该系统制造简单,成本低。根据本文的方法,DSP开发者可以自行... 介绍一种基于USB2.0接口的TI公司DSP仿真器的研制方法。该系统以USB控制器CY7C68013为核心,通过ACT8990实现IEEE1149.1协议,实现PC机对DSP片内数据的读写,从而完成仿真功能。该系统制造简单,成本低。根据本文的方法,DSP开发者可以自行研制仿真器,而不必另外购买。 展开更多
关键词 USB2.0 仿真器 DSP JTEG芯片 ACT8990 USB2.0接口 ieee1149.1 CY7C68013 技术 USB控制器
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An IEEE 1149.x Embedded Test Coprocessor 被引量:1
12
作者 Ukbagiorgis Iyasu Gebremeskel José Manuel Martins Ferreira 《Circuits and Systems》 2014年第7期170-180,共11页
This paper describes a microprogrammed architecture for an embedded coprocessor that is able to control IEEE 1149.1 to IEEE 1149.7 test infrastructures, and explains how to expand the supported test command set. The c... This paper describes a microprogrammed architecture for an embedded coprocessor that is able to control IEEE 1149.1 to IEEE 1149.7 test infrastructures, and explains how to expand the supported test command set. The coprocessor uses a fast simplex link (FSL) channel to interface a 32-bit MicroBlaze CPU, but it can work with any microprocessor core that accepts this simple FIFO-based interface method. The implementation cost (logic resource usage for a Xilinx Spartan-6 FPGA) and the performance data (operating frequency) are presented for a test command set comprising two parts: 1) the full IEEE 1149.1 structural test operations;2) a subset of IEEE 1149.7 operations selected to illustrate the implementation of advanced scan formats. 展开更多
关键词 BUILT-IN Test Boundary-Scan EMBEDDED COPROCESSORS MICROBLAZE ieee 1149.1 ieee 1149.7
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基于SCANWORKS的边界扫描测试系统设计 被引量:4
13
作者 尤路 《信息通信》 2015年第4期68-69,共2页
文章运用SCANWORKS软件,搭建边界扫描测试平台,详细介绍了通过测试底板提升被测件的测试覆盖率的工作原理,最后给出了边界扫描的软件设计流程。SCANWORKS软件接口丰富,为广大测试工程师提供了一个很好的平台。
关键词 边界扫描 SCANWORKS ieee1149.1 测试系统
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基于边界扫描技术的SOC数字电路可测性设计 被引量:2
14
作者 周银 刘荣昌 +1 位作者 陈圣俭 王蒙蒙 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2011年第5期705-708,共4页
随着SOC系统的快速发展,如何对其进行有效的测试与诊断是当前研究的热点问题。从SOC数字电路可测试性设计的角度出发,基于边界扫描技术,设计了具有边界扫描结构的IP核,并对相应的测试方法进行了研究。通过仿真及时序分析,验证了该设计... 随着SOC系统的快速发展,如何对其进行有效的测试与诊断是当前研究的热点问题。从SOC数字电路可测试性设计的角度出发,基于边界扫描技术,设计了具有边界扫描结构的IP核,并对相应的测试方法进行了研究。通过仿真及时序分析,验证了该设计方法的可行性,为SOC系统的测试提供了新的思路。 展开更多
关键词 SOC 数字电路 IP核 边界扫描 可测性设计 ieee1149.1
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边界扫描测试系统的设计与实现 被引量:2
15
作者 颜学龙 贾银涛 《国外电子测量技术》 2016年第6期82-85,91,共5页
为了解决复杂电路板的测试点少和测试覆盖率低以及传统的测试设备体积大、成本高等问题,IEEE1149.1标准被公布并发展出了边界扫描技术。本设计以边界扫描技术为基础,开发出由测试软件、测试控制器以及目标电路板组成的边界扫描测试系统... 为了解决复杂电路板的测试点少和测试覆盖率低以及传统的测试设备体积大、成本高等问题,IEEE1149.1标准被公布并发展出了边界扫描技术。本设计以边界扫描技术为基础,开发出由测试软件、测试控制器以及目标电路板组成的边界扫描测试系统,并通过对目标板的故障测试,验证了该系统满足完整性测试,互联测试的设计要求且对印刷电路板(PCB)和集成电路(IC)制造和使用过程中出现的桥接故障和呆滞故障有良好的故障诊断、定位功能。 展开更多
关键词 边界扫描 故障诊断 ieee1149.1 测试控制器
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边界扫描技术在FPGA测试中的应用 被引量:2
16
作者 陈庆孔 《计算机与数字工程》 2010年第9期62-65,72,共5页
边界扫描技术是标准化的可测试性设计技术,它提供了对器件的功能、互连及相互间影响进行测,极大地方便了对于复杂电路的测试。文章针对XCV600_HQ240,介绍了边界扫描的基本结构、边界扫描测试操作流程、测试接口和IEEE 1149.1标准规定的... 边界扫描技术是标准化的可测试性设计技术,它提供了对器件的功能、互连及相互间影响进行测,极大地方便了对于复杂电路的测试。文章针对XCV600_HQ240,介绍了边界扫描的基本结构、边界扫描测试操作流程、测试接口和IEEE 1149.1标准规定的数据寄存器和指令寄存器,结合FPGA芯片的BSDL文件进行边界扫描配置和测试。 展开更多
关键词 边界扫描测试 现场可编程逻辑阵列 ieee1149.1
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IEEE1149.1产生新标准
17
作者 Dave Bonnett 《电子质量》 2002年第8期22-27,共6页
研制边界扫描原先是为了检验IC引线与PCB连接轨迹,现在它已被用于支持芯片调试、设备编程、混合信号测试和现场服务。
关键词 混合信号测试 PCB测试 在板闪速编程 芯片调试 边界扫描 新标准 ieee1149.1
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基于JTAG的矢量生成型边界扫描架构设计与实现 被引量:1
18
作者 颜学龙 胡和娟 李海辉 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2011年第3期31-34,共4页
在结合IEEE1149.1标准的基础上,利用半跳变(Half Transition,HT)模型的基本思想,提出新的HTF模型新的矢量施加方式,在此基础上构建了实现基于JTAG的矢量生成型边界扫描架构.该架构的设计思路为:在兼容1149.1的基础上,通过自定义SI测试指... 在结合IEEE1149.1标准的基础上,利用半跳变(Half Transition,HT)模型的基本思想,提出新的HTF模型新的矢量施加方式,在此基础上构建了实现基于JTAG的矢量生成型边界扫描架构.该架构的设计思路为:在兼容1149.1的基础上,通过自定义SI测试指令,实现JTAG对信号完整性测试的支持,拓展了边界扫描的应用范围. 展开更多
关键词 HTF 边界扫描单元 ieee1149.1 PGBSC
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边界扫描测试的自适应完备诊断算法的优化 被引量:1
19
作者 吴继娟 贾勇 《通信管理与技术》 2004年第3期43-45,共3页
IEEE1149.1边界扫描机制是一种新型的VLSI电路测试及可测性设计方法,在边界扫描测试过程中,生成合理的测试向量集是有效应用边界扫描机制对电路系统进行测试的关键。在分析传统边界扫描测试生成算法和W步、C步自适应测试生成算法的基础... IEEE1149.1边界扫描机制是一种新型的VLSI电路测试及可测性设计方法,在边界扫描测试过程中,生成合理的测试向量集是有效应用边界扫描机制对电路系统进行测试的关键。在分析传统边界扫描测试生成算法和W步、C步自适应测试生成算法的基础上,提出了一种改进的自适应测试生成算法。实验表明该算法具有完备的诊断能力和紧凑性指标较低的优点,是一种性能优良的完备测试生成算法。 展开更多
关键词 边界扫描测试 自适应完备诊断算法 VLSI电路 ieee1149.1 优化算法
原文传递
基于IEEE 1149.1标准的可重定向片上调试方法
20
作者 金辉 邵洋 +1 位作者 张铁军 侯朝焕 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2007年第7期183-186,共4页
介绍了一种基于IEEE1149.1标准的可重定向的调试方法,详细地分析了一种嵌入式调试模块的内部结构、工作原理、实现过程以及它给处理器核带来的代价,该模块在RTL级只需较少的修改即可集成在多种微处理器核上,完成片上调试的功能。
关键词 可重定向 ieee 1149.1 片上调试 JTAG
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