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试析新型IC智能测试仪的原理、结构及其使用方法
被引量:
3
1
作者
柯璇
肖运红
张绪宽
《高等函授学报(自然科学版)》
2003年第4期43-45,共3页
IC芯片商家及用户在使用IC芯片过程中需对IC芯片进行测试 ,以判断其好坏。开发通用集成电路测试仪是解决这一问题的一条有效途径。本文分析了江汉大学的一项科研成果“IC智能测试仪”的测试原理、系统结构及使用方法。
关键词
ic
智能测试
仪
原理
结构
使用方法
ic
芯片
集成电路
测试
仪
单片机
下载PDF
职称材料
题名
试析新型IC智能测试仪的原理、结构及其使用方法
被引量:
3
1
作者
柯璇
肖运红
张绪宽
机构
江汉大学物理与信息工程学院
出处
《高等函授学报(自然科学版)》
2003年第4期43-45,共3页
文摘
IC芯片商家及用户在使用IC芯片过程中需对IC芯片进行测试 ,以判断其好坏。开发通用集成电路测试仪是解决这一问题的一条有效途径。本文分析了江汉大学的一项科研成果“IC智能测试仪”的测试原理、系统结构及使用方法。
关键词
ic
智能测试
仪
原理
结构
使用方法
ic
芯片
集成电路
测试
仪
单片机
分类号
TP216 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
TN492 [自动化与计算机技术—控制科学与工程]
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作者
出处
发文年
被引量
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1
试析新型IC智能测试仪的原理、结构及其使用方法
柯璇
肖运红
张绪宽
《高等函授学报(自然科学版)》
2003
3
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