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试析新型IC智能测试仪的原理、结构及其使用方法 被引量:3
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作者 柯璇 肖运红 张绪宽 《高等函授学报(自然科学版)》 2003年第4期43-45,共3页
IC芯片商家及用户在使用IC芯片过程中需对IC芯片进行测试 ,以判断其好坏。开发通用集成电路测试仪是解决这一问题的一条有效途径。本文分析了江汉大学的一项科研成果“IC智能测试仪”的测试原理、系统结构及使用方法。
关键词 ic智能测试 原理 结构 使用方法 ic芯片 集成电路测试 单片机
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